一种晶振测试座制造技术

一种晶振测试座，包括测试箱，所述测试箱的内腔固定连接有固定架，固定架的左侧分别固定连接有隔板和第一电推杆，第一电推杆活塞杆的表面固定连接有连接块，连接块的顶部贯穿测试箱的内腔并延伸至测试箱的上方，测试箱的内腔开设有与连接块的表面滑动连接的第一滑动槽。本实用新型专利技术通过固定架和限位架对晶振进行限位，启动第一电推杆带动连接块运动，使得压块挤压活动块的顶部，活动块向下挤压复位弹簧运动，带动测试杆向下运动，抵触在晶振的顶部进行测量，可以快速的对晶振进行测量，接触效果好，测量精度高，解决了在进行测试时，在对多个晶振进行测试时，检测效率较低，不能对大批量的晶振进行检测，实用性较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种晶振测试座
本技术涉及晶振测试
，尤其涉及一种晶振测试座。
技术介绍
有一些电子设备需要频率高度稳定的交流信号，而LC振荡器稳定性较差，频率容易漂移（即产生的交流信号频率容易变化）。在振荡器中采用一个特殊的元件——石英晶体，可以产生高度稳定的信号，这种采用石英晶体的振荡器称为晶体振荡器，晶振具有压电效应，即在晶片两极外加电压后晶体会产生变形，反过来如外力使晶片变形，则两极上金属片又会产生电压。如果给晶片加上适当的交变电压，晶片就会产生谐振（谐振频率与石英斜面倾角等有关系，且频率一定）。晶振利用一种能把电能和机械能相互转化的晶体，在共振的状态下工作可以提供稳定、精确的单频振荡。在通常工作条件下，普通的晶振频率绝对精度可达百万分之五十。利用该特性，晶振可以提供较稳定的脉冲，广泛应用于微芯片的时钟电路里。晶片多为石英半导体材料，外壳用金属封装。根据专利号为CN107121608A所述的一种晶振测试装置，可以一次性对多个晶振同时进行老化、筛选等试验，但是在进行测试时，在对多个晶振进行测试时，检测效率较低，不能对大批量的晶振进行检测，实用性较低。
技术实现思路
（一）技术目的为解决
技术介绍
中存在的技术问题，本技术提出一种晶振测试座，解决了在进行测试时，在对多个晶振进行测试时，检测效率较低，不能对大批量的晶振进行检测，实用性较低的问题。（二）技术方案本技术提供了一种晶振测试座，包括测试箱，所述测试箱的内腔固定连接有固定架，所述固定架的左侧分别固定连接有隔板和第一电推杆，所述第一电推杆活塞杆的表面固定连接有连接块，所述连接块的顶部贯穿测试箱的内腔并延伸至测试箱的上方，所述测试箱的内腔开设有与连接块的表面滑动连接的第一滑动槽，所述连接块的顶部固定连接有连接板，所述连接板的底部固定连接有压块，所述压块的底部贯穿测试箱的顶部并延伸至测试箱的内腔，所述测试箱的内腔开设有与压块的表面滑动连接的第二滑动槽，所述隔板的顶部滑动连接有测试杆，所述测试杆的底端贯穿隔板的顶部并延伸至隔板的下方，所述测试杆的顶部固定连接有与压块的表面相互抵触的活动块，所述测试杆的表面套设有复位弹簧，所述复位弹簧的顶端与活动块的底部固定连接，所述复位弹簧的底端与隔板的顶部固定连接，所述测试箱的内腔转动连接有放置板，所述测试箱的左侧开设有进料口。优选的，所述测试箱的右侧开设有出料口，所述出料口的内腔固定连接有导流板。优选的，所述压块设置有两个，且在连接板的表面对称分布。优选的，所述测试箱内腔的底部固定连接有第二电推杆。优选的，所述第二电推杆活塞杆的顶端固定连接有挤压轮。优选的，所述挤压轮的表面与放置板的底部相互抵住。优选的，所述放置板的表面固定连接有限位板。与现有技术相比，本技术的上述技术方案具有如下有益的技术效果：通过固定架的左侧分别固定连接有隔板和第一电推杆，第一电推杆活塞杆的表面固定连接有连接块，连接块的顶部贯穿测试箱的内腔并延伸至测试箱的上方，测试箱的内腔开设有与连接块的表面滑动连接的第一滑动槽，连接块的顶部固定连接有连接板，连接板的底部固定连接有压块，压块的底部贯穿测试箱的顶部并延伸至测试箱的内腔，测试箱的内腔开设有与压块的表面滑动连接的第二滑动槽，隔板的顶部滑动连接有测试杆，测试杆的底端贯穿隔板的顶部并延伸至隔板的下方，测试杆的顶部固定连接有与压块的表面相互抵触的活动块，测试杆的表面套设有复位弹簧，复位弹簧的顶端与活动块的底部固定连接，复位弹簧的底端与隔板的顶部固定连接，测试箱的内腔转动连接有放置板，测试箱的左侧开设有进料口，通过固定架和限位架对晶振进行限位，启动第一电推杆带动连接块运动，使得压块挤压活动块的顶部，活动块向下挤压复位弹簧运动，带动测试杆向下运动，抵触在晶振的顶部进行测量，可以快速的对晶振进行测量，接触效果好，测量精度高。附图说明图1为本技术提出的一种晶振测试座的立体示意图。图2为本技术提出的一种晶振测试座的剖视图。图3为图2中A处的结构放大图。附图标记：1、测试箱；2、固定架；3、隔板；4、第一电推杆；5、连接块；6、第一滑动槽；7、连接板；8、压块；9、第二滑动槽；10、测试杆；11、活动块；12、复位弹簧；13、放置板；14、进料口；15、出料口；16、导流板；17、第二电推杆；18、挤压轮。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本技术进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本技术的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本技术的概念。如图1-3所示，本技术提出的一种晶振测试座，包括测试箱1，测试箱1的内腔固定连接有固定架2，固定架2的左侧分别固定连接有隔板3和第一电推杆4，第一电推杆4活塞杆的表面固定连接有连接块5，连接块5的顶部贯穿测试箱1的内腔并延伸至测试箱1的上方，测试箱1的内腔开设有与连接块5的表面滑动连接的第一滑动槽6，连接块5的顶部固定连接有连接板7，连接板7的底部固定连接有压块8，压块8的底部贯穿测试箱1的顶部并延伸至测试箱1的内腔，测试箱1的内腔开设有与压块8的表面滑动连接的第二滑动槽9，隔板3的顶部滑动连接有测试杆10，测试杆10的底端贯穿隔板3的顶部并延伸至隔板3的下方，测试杆10的顶部固定连接有与压块8的表面相互抵触的活动块11，测试杆10的表面套设有复位弹簧12，复位弹簧12的顶端与活动块11的底部固定连接，复位弹簧12的底端与隔板3的顶部固定连接，测试箱1的内腔转动连接有放置板13，测试箱1的左侧开设有进料口14。本技术中，通过固定架2和限位架对晶振进行限位，启动第一电推杆4带动连接块5运动，使得压块8挤压活动块11的顶部，活动块11向下挤压复位弹簧12运动，带动测试杆10向下运动，抵触在晶振的顶部进行测量，可以快速的对晶振进行测量，接触效果好，测量精度高。在一个可选的实施例中，测试箱1的右侧开设有出料口15，出料口15的内腔固定连接有导流板16，压块8设置有两个，且在连接板7的表面对称分布，测试箱1内腔的底部固定连接有第二电推杆17，第二电推杆17活塞杆的顶端固定连接有挤压轮18，挤压轮18的表面与放置板13的底部相互抵住，放置板13的表面固定连接有限位板。需要说明的是，测量完毕后，收回第一电推杆4，在复位弹簧12的带动下带动测试杆10收回，此时收回第二电推杆17，挤压轮18失去对放置板13的抵触，放置板13下落搭接在导流板16的顶部，此时晶振顺着出料口15排出，然后第二电推杆17复位，将放置板13顶起进行下一步加工，可以快速的进行出料。在使用时，顺着进料口14加入晶振，将晶振放置在放置板13之上，通过限位板对晶振进行限位，此时晶振被固定架2挡住，此时启动第一电推杆4带动连接块5运动，连接块5顺着第一滑动槽6滑动槽，连接块5带动连接板7运动，连接板7带动压本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶振测试座，包括测试箱（1），所述测试箱（1）的内腔固定连接有固定架（2），其特征在于：所述固定架（2）的左侧分别固定连接有隔板（3）和第一电推杆（4），所述第一电推杆（4）活塞杆的表面固定连接有连接块（5），所述连接块（5）的顶部贯穿测试箱（1）的内腔并延伸至测试箱（1）的上方，所述测试箱（1）的内腔开设有与连接块（5）的表面滑动连接的第一滑动槽（6），所述连接块（5）的顶部固定连接有连接板（7），所述连接板（7）的底部固定连接有压块（8），所述压块（8）的底部贯穿测试箱（1）的顶部并延伸至测试箱（1）的内腔，所述测试箱（1）的内腔开设有与压块（8）的表面滑动连接的第二滑动槽（9），所述隔板（3）的顶部滑动连接有测试杆（10），所述测试杆（10）的底端贯穿隔板（3）的顶部并延伸至隔板（3）的下方，所述测试杆（10）的顶部固定连接有与压块（8）的表面相互抵触的活动块（11），所述测试杆（10）的表面套设有复位弹簧（12），所述复位弹簧（12）的顶端与活动块（11）的底部固定连接，所述复位弹簧（12）的底端与隔板（3）的顶部固定连接，所述测试箱（1）的内腔转动连接有放置板（13），所述测试箱（1）的左侧开设有进料口（14）。/n...

【技术特征摘要】
1.一种晶振测试座，包括测试箱（1），所述测试箱（1）的内腔固定连接有固定架（2），其特征在于：所述固定架（2）的左侧分别固定连接有隔板（3）和第一电推杆（4），所述第一电推杆（4）活塞杆的表面固定连接有连接块（5），所述连接块（5）的顶部贯穿测试箱（1）的内腔并延伸至测试箱（1）的上方，所述测试箱（1）的内腔开设有与连接块（5）的表面滑动连接的第一滑动槽（6），所述连接块（5）的顶部固定连接有连接板（7），所述连接板（7）的底部固定连接有压块（8），所述压块（8）的底部贯穿测试箱（1）的顶部并延伸至测试箱（1）的内腔，所述测试箱（1）的内腔开设有与压块（8）的表面滑动连接的第二滑动槽（9），所述隔板（3）的顶部滑动连接有测试杆（10），所述测试杆（10）的底端贯穿隔板（3）的顶部并延伸至隔板（3）的下方，所述测试杆（10）的顶部固定连接有与压块（8）的表面相互抵触的活动块（11），所述测试杆（10）的表面套设有复位弹簧（12），所述复位弹簧（12）的顶端与活动块（11）的底部固定连接，所述复位弹簧（12）的底端与隔板（...

【专利技术属性】
技术研发人员：董怡兰，
申请(专利权)人：深圳市鸿怡电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44