发光模组及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种发光模组及显示装置，所述发光模组包括：本体，包括发光面板，所述发光面板具有相对设置的出光侧和背光侧；荧光材料薄膜层，设置在所述本体的周侧和/或所述背光侧。本发明专利技术实施例提供的发光模组及显示装置，通过在发光模组的发光面板的周侧和/或背光侧设置荧光材料薄膜层，由于荧光材料薄膜层自身具有荧光特性，因此可利用该荧光特性使得发光面板的周侧和/或背光侧自发光，从而便于检测贴合时所产生的缺陷，而无需再另外利用检测设备进行检测，进而提高检测的准确性及检测效率。

【技术实现步骤摘要】
发光模组及显示装置
本专利技术涉及显示
，尤其是涉及一种发光模组及显示装置。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，简称OLED)显示装置是一种自发光显示装置，其相比于液晶显示装置具有视角较宽、对比度较高、响应速度较快且功耗较低的优点。另外，由于OLED显示装置不需要背光，因此其可被制造的比较轻薄。随着OLED显示技术的发展，已有越来越多的OLED显示装置被广泛应用到电子设备中作为显示面板使用。在相关技术的OLED显示装置中，OLED发光模组是重要部件之一。但是由于发光模组的周侧及背光侧位置的叠层结构较复杂，导致贴合工艺中对贴合时所产生的缺陷的光学检测较困难。现有的光学检测方法一般是利用检测设备对贴合后的发光模组进行检测，并需要对显示模组进行抽检或者全检，但该检测方法往往会由于设备精度等问题导致检测精度低，且如果进行抽检，无法保证所有发光模组完全得到检测，存在漏检问题，而如果进行全检，需要将每个显示模组均与检测设备一一对位设置，会降低检测效率。因此，如何更方便地实现对发光模组周侧及背光侧的光学检测以保证发光模组的可靠性成为本领域亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种发光模组及显示装置，旨在解决贴合过程中光学检测困难的问题。一方面，本专利技术实施例提供一种发光模组，所述发光模组包括：本体，包括发光面板，所述发光面板具有相对设置的出光侧和背光侧；荧光材料薄膜层，设置在所述本体的周侧和/或所述背光侧。在一些实施例中，所述荧光材料薄膜层从所述出光侧至所述背光侧的部分是连续的。在一些实施例中，所述荧光材料薄膜层完全覆盖所述背光侧。在一些实施例中，所述荧光材料薄膜层的材质为有机小分子、有机高分子、无机盐中的至少一种。在一些实施例中，所述荧光材料薄膜层的材质为导电有机高分子。在一些实施例中，所述荧光材料薄膜层的面电阻为103Ω-108Ω。在一些实施例中，所述荧光材料薄膜层的厚度为0.4μm-300μm；优选地，所述荧光材料薄膜层的厚度为1μm-10μm。在一些实施例中，所述发光模组还包括粘附层，所述粘附层设置于所述荧光材料薄膜层与所述发光面板之间。在一些实施例中，所述发光面板为有机发光二极管面板。另一方面，本专利技术实施例提供一种显示装置，包括上述本专利技术实施例中任一实施例所述的发光模组。本专利技术实施例提供的发光模组及显示装置，通过在发光模组的发光面板的周侧和/或背光侧设置荧光材料薄膜层，由于荧光材料薄膜层自身具有荧光特性，因此可利用该荧光特性使得发光面板的周侧和/或背光侧自发光，从而便于检测发光模组在进行贴合时所产生的缺陷，而无需再额外利用检测设备进行检测，进而提高检测的准确性及检测效率。附图说明通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。图1示出本专利技术一实施例提供的一种发光模组的截面示意图；图2示出本专利技术另一实施例提供的一种发光模组的截面示意图；图3示出本专利技术另一实施例提供的一种发光模组的截面示意图；图4示出本专利技术另一实施例提供的一种发光模组的截面示意图；图5示出本专利技术另一实施例提供的一种发光模组的截面示意图；图6示出本专利技术另一实施例提供的一种发光模组的截面示意图。附图标记说明：1-本体；100-盖板；200-发光面板；300-荧光材料薄膜层；400-粘附层。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本专利技术进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本专利技术，并不被配置为限定本专利技术。对于本领域技术人员来说，本专利技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本专利技术的示例来提供对本专利技术更好的理解。随着OLED发光模组的技术发展，对发光模组的贴合精度要求越来越高，但是由于发光模组的周侧及背光侧位置的叠层结构较复杂，导致贴合工艺中对贴合时所产生的缺陷的光学检测较困难。现有的光学检测方法一般是利用检测设备对贴合后的发光模组进行检测，并需要对显示模组进行抽检或者全检，但该检测方法往往会由于设备精度等问题导致检测精度低，且如果进行抽检，无法保证所有发光模组完全得到检测，存在漏检问题，而如果进行全检，需要将每个显示模组均与检测设备一一对位设置，会降低检测效率。针对现有技术中存在的上述问题，本专利技术实施例提供了一种发光模组及包括该发光模组的显示装置，所述发光模组包括：发光面板，所述发光面板具有相对设置的出光侧和背光侧；荧光材料薄膜层，设置在所述发光面板的周侧和/或所述背光侧。本专利技术实施例提供的发光模组及显示装置，通过在发光模组的发光面板的周侧和/或背光侧设置荧光材料薄膜层，由于荧光材料薄膜层自身具有荧光特性，因此可利用该荧光特性使得发光面板的周侧和/或背光侧自发光，从而便于检测发光模组在进行贴合时所产生的缺陷，而无需再额外利用检测设备进行检测，进而提高检测的准确性及检测效率。下面将结合附图对本专利技术实施例提供的发光模组进行说明，应当理解的是，在本专利技术各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节，但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。如图1所示为本专利技术一实施例提供的一种发光模组的截面示意图。如图1所示，所述发光模组包括本体1，所述本体1包括盖板100、发光面板200，所述发光面板200具有相对设置的出光侧和背光侧，所述盖板100设置在所述发光面板200的出光侧。所述发光模组还包括荧光材料薄膜层300，所述荧光材料薄膜层300设置在所述发光面板200的周侧。通过在发光面板200的周侧设置荧光材料薄膜层300，由于荧光材料薄膜层300自身具有荧光特性，当发光面板200的周侧存在贴合缺陷时，可利用荧光材料薄膜层300的荧光特性使得发光面板200的周侧自发光，从而便于检测发光模组在进行贴合时发光面板200周侧所产生的缺陷，而无需再额外利用检测设备进行检测，进而提高检测的准确性及检测效率。如图2所示为本专利技术另一实施例提供的一种发光模组的截面示意图。如图2所示，所述荧光材料薄膜层300设置在所述发光面板200的背光侧，通过在发光面板200的背光侧设置荧光材料薄膜层300，由于荧光材料薄膜层300自身具有荧光特性，当发光面板200的背光侧存在贴合缺陷时，可利用荧光材料薄膜层300的荧光特性使得发光面板200的背光侧自发光，从而便于检测发光模组在进行贴合时发光面板200的背光侧所产生的缺陷，而无需再额外利用检测设备进行检测，进而提高检测的准确性及检测效率。如图3所示为本专利技术另一实施例提供的一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光模组，其特征在于，包括：/n发光面板，所述发光面板具有相对设置的出光侧和背光侧；/n荧光材料薄膜层，设置在所述发光面板的周侧和/或所述背光侧。/n

【技术特征摘要】
1.一种发光模组，其特征在于，包括：
发光面板，所述发光面板具有相对设置的出光侧和背光侧；
荧光材料薄膜层，设置在所述发光面板的周侧和/或所述背光侧。


2.根据权利要求1所述的发光模组，其特征在于，所述荧光材料薄膜层从所述出光侧至所述背光侧的部分是连续的。


3.根据权利要求1所述的发光模组，其特征在于，所述荧光材料薄膜层完全覆盖所述背光侧。


4.根据权利要求1所述的发光模组，其特征在于，所述荧光材料薄膜层的材质为有机小分子、有机高分子、无机盐中的至少一种。


5.根据权利要求4所述的发光模组，其特征在于，所述荧光材料薄膜层的材质为导电有机高...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖一鸣，殷璐，刘琳，李颖，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13