用于显示组件的检测装置及显示组件制造方法及图纸

本申请提供了一种用于显示组件的检测装置及显示组件，所述检测装置包括：对位检测电路；定位探针，电连接所述对位检测电路，用于和待测显示组件上的定位导电部对准接触；其中，当所述定位探针进行对准接触所述定位导电部操作后，若未接触到所述定位导电部，所述对位检测电路产生对位失败信息。通过上述设计方式，本申请可以在检测装置对待测显示组件进行点灯测试前，对两者的定位关系进行检测，以确保两者在点灯测试前定位符合要求，从而提高后续点灯测试的准确率、以及降低检测装置的测试探针对显示组件的损伤以及降低检测装置烧坏的概率。

【技术实现步骤摘要】
用于显示组件的检测装置及显示组件
本申请属于显示
，具体涉及一种用于显示组件的检测装置及显示组件。
技术介绍
在显示行业的生产制造过程中，中间点灯检测是必要的生产站点，可以避免不良产品流通至下个制程导致材料浪费，以及避免不良产品流通至下游客户导致客诉损失。随着显示组件的尺寸越来越小，显示组件上的待测导电部(例如，待测焊盘等)的尺寸也随之减小，对检测装置与显示组件之间的定位精度要求越来越高。若检测装置与显示组件之间产生偏移时，会导致检测结果不准确，且检测装置上的测试探针可能会引起画面异常、线路炸伤、线路刮伤、信号短路导致信号产生器烧坏等问题。因此，有必要在检测装置对显示组件进行点灯测试前确保两者之间的定位符合要求。
技术实现思路
本申请提供一种用于显示组件的检测装置及显示组件，以在检测装置对显示组件进行点灯测试前确保两者之间的定位符合要求。为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种用于显示组件的检测装置，包括：对位检测电路；定位探针，电连接所述对位检测电路，用于和待测显示组件上的定位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于显示组件的检测装置，其特征在于，包括：/n对位检测电路；/n定位探针，电连接所述对位检测电路，用于和待测显示组件上的定位导电部对准接触；/n其中，当所述定位探针进行对准接触所述定位导电部操作后，若未接触到所述定位导电部，所述对位检测电路产生对位失败信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于显示组件的检测装置，其特征在于，包括：
对位检测电路；
定位探针，电连接所述对位检测电路，用于和待测显示组件上的定位导电部对准接触；
其中，当所述定位探针进行对准接触所述定位导电部操作后，若未接触到所述定位导电部，所述对位检测电路产生对位失败信息。


2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
所述定位探针数量至少为二，用于分别和至少两个所述定位导电部一一对准接触，所述对位检测电路具体用于检测至少两个所述定位探针之间是否形成导电回路，当未形成所述导电回路时，产生所述对位失败信息。


3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，还包括：
测试板，所述测试板上设置有沿第一方向间隔排布的多个测试探针；
其中，所述定位探针与所述多个测试探针在所述第一方向相对固定，且朝向相同，所述定位探针的末端可伸缩，且在自然状态下超出所述测试探针在自然状态下的末端。


4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，还包括：
驱动组件，用于驱动所述测试板靠近所述待测显示组件，并在所述对位检测电路产生对位失败信息时，停止驱动所述测试板靠近所述待测显示组件，使所述测试探针不能接触所述待测显示组件。


5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，
所述定位探针和所述测试探针均为弹簧针，所述定位探针被完全压缩后的长度小于或等于所述测试探针被完全压缩后的长度。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷良银，郑红，
申请(专利权)人：广州国显科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44