一种量子场强探头和微波场强测量方法技术

本申请公开了一种量子场强探头，包括顺序连接的第一暗箱、第二暗箱、第三暗箱；第一暗箱和第二暗箱通过第一光孔连接；第二暗箱和第三暗箱通过第二光孔连接；第一暗箱中包含第一准直透镜、第二准直透镜、第一二向色镜；第一暗箱壁装有第一光纤法兰盘、第二光纤法兰盘；第三暗箱中包含第三准直透镜、第四准直透镜、第二二向色镜；第二暗箱壁装有第三光纤法兰盘、第四光纤法兰盘；第二暗箱中，包含第一1/2波片、原子蒸气室、第二1/2波片。本申请还包含用上述量子场强探头进行微波测量的方法。

【技术实现步骤摘要】
一种量子场强探头和微波场强测量方法
本申请涉及微波计量领域，尤其涉及一种新型的量子场强探头和微波场强测量方法。
技术介绍
微波场强测量在微波通讯、遥感、天线校准等方面具有重要意义。特别是近期人们使用无线设备种类繁多，雷达民用普及化程度高的情形下，对微波测量的精确度和灵敏度有了较高的需求。相比于传统的微波场强测量方案，量子场强方式具有高的灵敏度探测，同时也避免传统方案中不可避免的使用金属器件的天线引入的测量误差，量子场强测量基于里德堡原子有较大的电极化率。目前的基于光和原子的相互作用的微波场强测量方案处于原理设计阶段，没有基于工业稳定化设计具体可执行性的场强测量探头。
技术实现思路
本申请实施例提供一种量子场强探头和微波场强测量方法，解决现有技术没有场强测量探头产品的问题。本申请实施例提出一种量子场强探头，包括顺序连接的第一暗箱、第二暗箱、第三暗箱；第一暗箱和第二暗箱通过第一光孔连接；第二暗箱和第三暗箱通过第二光孔连接；第一暗箱中，包含第一准直透镜、第二准直透镜、第一二向色镜；第一暗箱壁装有第一光纤法兰本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种量子场强探头，其特征在于，包括顺序连接的第一暗箱、第二暗箱、第三暗箱；/n第一暗箱和第二暗箱通过第一光孔连接；第二暗箱和第三暗箱通过第二光孔连接；/n第一暗箱中，包含第一准直透镜、第二准直透镜、第一二向色镜；第一暗箱壁装有第一光纤法兰盘、第二光纤法兰盘；第一暗箱中的光路为：从第一光纤法兰盘接入的光经第一准直透镜、第一二向色镜、第一光孔进入第二暗箱；从第一光孔进入第一暗箱的光经过第一二向色镜、第二准直透镜、第二光纤法兰盘输出；/n第三暗箱中，包含第三准直透镜、第四准直透镜、第二二向色镜；第二暗箱壁装有第三光纤法兰盘、第四光纤法兰盘；第二暗箱中的光路为，从第三光纤法兰盘接入的光经过第三准直...

【技术特征摘要】
1.一种量子场强探头，其特征在于，包括顺序连接的第一暗箱、第二暗箱、第三暗箱；
第一暗箱和第二暗箱通过第一光孔连接；第二暗箱和第三暗箱通过第二光孔连接；
第一暗箱中，包含第一准直透镜、第二准直透镜、第一二向色镜；第一暗箱壁装有第一光纤法兰盘、第二光纤法兰盘；第一暗箱中的光路为：从第一光纤法兰盘接入的光经第一准直透镜、第一二向色镜、第一光孔进入第二暗箱；从第一光孔进入第一暗箱的光经过第一二向色镜、第二准直透镜、第二光纤法兰盘输出；
第三暗箱中，包含第三准直透镜、第四准直透镜、第二二向色镜；第二暗箱壁装有第三光纤法兰盘、第四光纤法兰盘；第二暗箱中的光路为，从第三光纤法兰盘接入的光经过第三准直透镜、第二二向色镜、第二光孔进入第二暗箱；从第二光孔进入第二暗箱的光经过第二二向色镜、第四准直透镜、第四光纤法兰盘输出；
第二暗箱中，包含第一1/2波片、原子蒸气室、第二1/2波片；自第一光孔进入第二暗箱的光经过第一1/2波片、原子蒸气室、第二1/2波片、第二光孔进入第三暗箱；自第二光孔进入第三暗箱的光经过第二1/2波片、原子蒸气室、第一1/2波片、第一光孔进入第一暗箱。


2.如权利要求1所述量子场强探头，其特征在于，所述第一暗箱、第二暗箱、第三暗箱的壳体为聚四氟乙烯材料。


3.如权利要求1所述量子场强探头，其特征在于，所述第二暗箱内包含用于固定原子蒸气室的支撑结构。


4.如权利要求3所述量子场强探头，其特征在于，所述第二暗箱内包...

【专利技术属性】
技术研发人员：靳刚，成永杰，刘星汛，黄承祖，彭博，付子豪，代明珍，齐万泉，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11