一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机制造技术

本发明专利技术涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。所述下料机包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；数据采集器和器件抓取机构均与控制器连接，器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，器件放置区包括良品区和不良品区；数据采集器用于采集器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，放置位置为良品区或不良品区；控制器用于根据测试数据控制器件抓取机构将器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的放置位置。本发明专利技术提高了分拣的精准度和高效率。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机
本专利技术涉及下料机领域，特别是涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。
技术介绍
现在器件的复杂度越来越高，为了保证出厂的器件没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或生产窗口来发现器件的早期故障，器件老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法，老化过程基本上模拟了器件整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了器件工作的最坏情况，根据不同的老化时间，所得资料可能涉及到器件的早期寿命或磨损程度。而器件作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法，电磁干扰/EMI是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如：手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。屏蔽箱又名屏蔽盒、隔离箱。是利用导电或者导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；/n所述数据采集器和所述器件抓取机构均与所述控制器连接，所述器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；所述器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，所述器件放置区包括良品区和不良品区；所述数据采集器用于采集所述器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，所述测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，所述放置位置为良品区中的位置或不良品区中的位置；所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对...

【技术特征摘要】
1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；
所述数据采集器和所述器件抓取机构均与所述控制器连接，所述器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；所述器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，所述器件放置区包括良品区和不良品区；所述数据采集器用于采集所述器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，所述测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，所述放置位置为良品区中的位置或不良品区中的位置；所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的放置位置。


2.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述器件自动出料机包括：多个运送装置，所述运送装置包括第一传送轨道、进盘仓和出盘仓；
所述进盘仓设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述出盘仓设置在所述第一传送轨道的出盘区，所述进盘仓用于放置空料盘，所述第一轨道用于将所述空料盘传输至所述放置位置并将所述放置位置内放置有所述待分拣器件的料盘传输至所述出盘仓，所述控制器用于根据所述测试数据控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的运送装置的放置位置。


3.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，其特征在于，所述器件测试盘下料机包括：第二传送轨道和器件测试盘放置仓，所述器件测试盘放置仓设置在所述第二传送轨道的下盘区，所述第二传送轨道用于将所述放置有待分拣的器件测试盘传送至所述器件取料区并将所述器件抓取机构抓取后的器件测试盘传送至所述器件测试盘放置仓，所述器件测试盘放置仓用于存储所述器件抓取机构抓取后的器件测试盘。


4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：周光杰，余振涛，
申请(专利权)人：群沃电子科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32