【技术实现步骤摘要】
一种验证SPI总线时序容限的夹具
本技术涉及通讯
,尤其涉及一种验证SPI总线时序容限的夹具。
技术介绍
为了保证SPI总线时序能够正常工作,就需要进行不同环境下的验证,比如高温低温等极端环境,而正常的验证是无法进行这种极端验证的,那就需要变换思维,改用某种方式去替代这种极端环境下引起时序上的差异大小,就通过改变SPI总线的CLK和MOSI两个信号之间的时间延迟来验证SPI总线能够承受的最大容限,通过这种方式就可以验证出总线时序能否正常工作的情况。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述现有技术的不足,提供一种验证SPI总线时序容限的夹具,通过改变SPI总线的CLK和MOSI两个信号之间的时间延迟来验证SPI总线能够承受的最大容限,通过这种方式就可以验证出总线时序能否正常工作的情况。为解决上述问题,本技术所采取的技术方案是:一种验证SPI总线时序容限的夹具,包括CLK信号输入端、CLK信号输出端、MOSI信号输入端和MOSI信号输出端,所述CLK信号输入端分别与第一CLK三极管、第二CL ...
【技术保护点】
1.一种验证SPI总线时序容限的夹具,其特征在于:包括CLK信号输入端(1)、CLK信号输出端(2)、MOSI信号输入端(3)和MOSI信号输出端(4),所述CLK信号输入端(1)分别与第一CLK三极管(5)、第二CLK三极管(6)和第三CLK三极管(7)的集电极相连,所述第一CLK三极管(5)的发射极通过第一CLK连接线(8)与CLK信号输出端(2)连接,所述第二CLK三极管(6)的发射极通过第二CLK连接线(9)与CLK信号输出端(2)连接,所述第三CLK三极管(7)的发射极通过第三CLK连接线(10)与CLK信号输出端(2)连接,所述第一CLK连接线(8)、第二CLK ...
【技术特征摘要】
1.一种验证SPI总线时序容限的夹具,其特征在于:包括CLK信号输入端(1)、CLK信号输出端(2)、MOSI信号输入端(3)和MOSI信号输出端(4),所述CLK信号输入端(1)分别与第一CLK三极管(5)、第二CLK三极管(6)和第三CLK三极管(7)的集电极相连,所述第一CLK三极管(5)的发射极通过第一CLK连接线(8)与CLK信号输出端(2)连接,所述第二CLK三极管(6)的发射极通过第二CLK连接线(9)与CLK信号输出端(2)连接,所述第三CLK三极管(7)的发射极通过第三CLK连接线(10)与CLK信号输出端(2)连接,所述第一CLK连接线(8)、第二CLK连接线(9)和第三CLK连接线(10)的长度不同,所述第一CLK三极管(5)的基极通过第一控制线(11)与外部控制电路连接,所述第二CLK三极管(6)的基极通过第二控制线(12)与外部控制电路连接,所述第三CLK三极管(7)的基极通过第三控制线(13)与外部控制电路连接,所述MOSI信号输入端(3)分别与第一MOSI三极管(14)、第二MOSI三极管(15)和第三MOSI三极管(16)的集电极相连...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈晨,杨成,
申请(专利权)人:太仓市同维电子有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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