【技术实现步骤摘要】
一种半导体检测用光学显微镜
本技术属于半导体检测
，更具体地说，特别涉及一种半导体检测用光学显微镜。
技术介绍
半导体，物质存在的形式多种多样，固体、液体、气体、等离子体等等。我们通常把导电性差的材料，如煤、人工晶体、琥珀、陶瓷等称为绝缘体。而把导电性比较好的金属如金、银、铜、铁、锡、铝等称为导体。可以简单的把介于导体和绝缘体之间的材料称为半导体。与导体和绝缘体相比，半导体材料的发现是最晚的，直到20世纪30年代，当材料的提纯技术改进以后，半导体的存在才真正被学术界认可。申请号：CN201921620114.0的专利中，本技术公开了半导体检测用光学显微镜，包括底座，在底座上固定有立柱和放置半导体的工作台，工作台位于立柱一侧.工作台上凹设有光源腔，光源腔内设置有检测光源，光源腔开口处设置有用于将检测光源的光线充分散射的折射板。光源腔四周环绕设置有若干压紧半导体的固定装置，固定装置包括手柄、固定座、连杆和压紧块，固定座可拆卸固定在工作台上，连杆可相对固定座上下翻转，连杆一端与手柄连接，另一端与压紧块固结。立柱上设置...
【技术保护点】
1.一种半导体检测用光学显微镜，其特征在于：包括底座结构（1）；所述底座结构（1）的前端处安装有调节结构（2），且调节结构（2）上设置有平衡结构（3）；所述平衡结构（3）上设有观测台结构（5）；所述底座结构（1）上处安装有防护结构（4）；所述底座结构（1）包括立柱（101），固定座（102），调节台（103），所述固定座（102）中间位置设置有立柱（101），且立柱（101）横截面为矩形形状，调节台（103）直接套接在垂直的立柱（101）上，调节台（103）末端处套接有电子显微镜。/n
【技术特征摘要】
1.一种半导体检测用光学显微镜，其特征在于：包括底座结构（1）；所述底座结构（1）的前端处安装有调节结构（2），且调节结构（2）上设置有平衡结构（3）；所述平衡结构（3）上设有观测台结构（5）；所述底座结构（1）上处安装有防护结构（4）；所述底座结构（1）包括立柱（101），固定座（102），调节台（103），所述固定座（102）中间位置设置有立柱（101），且立柱（101）横截面为矩形形状，调节台（103）直接套接在垂直的立柱（101）上，调节台（103）末端处套接有电子显微镜。
2.如权利要求1所述半导体检测用光学显微镜，其特征在于：所述调节结构（2）包括连接板（201），丝杆（202），螺母块（203），所述连接板（201）直接设置在固定座（102）的前端处，且固定座（102）与连接板（201）接触位置转动安装有丝杆（202），丝杆（202）的两端均设置有旋钮，连接板（201）与固定座（102）接触位置的中间处设置有螺母块（203），螺母块（203）套接在丝杆（202）上。
3.如权利要求1所述半导体检测用光学显微镜，其特征在于：所述平衡结构（3）包括安装头（301），支撑柱（302），连接套（303），主支柱（304），所述主支柱（304）安装在连接板（201）的中间，且连接板（201）与主支柱（304）之间为焊接固定，主支柱（304）顶部固定在连接套（303）内，主支柱（304）的外侧设置有四处安装头（301），且每处安装头（301）上均铰接安装有支撑柱（302），支撑柱（302）采用伸缩结构，且每处支撑柱（302）的顶端均安装在连接套（303）内，连接套（303）套接处为球形形状。
4.如权利要求1所述半导体检测用光学显微镜，其特征在于...
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