【技术实现步骤摘要】
基于MicroLED显示技术的显示屏
本专利技术属于基于MicroLED显示技术的显示屏
,具体涉及基于MicroLED显示技术的显示屏。
技术介绍
MicroLED又称微型发光二极管,是指高密度集成的LED阵列,阵列中的LED像素点距离在10微米量级,每一个LED像素都能自发光。得益于新一代的显示技术——MicroLED技术,即LED微缩化和矩阵化技术。指的是在一个芯片上集成的高密度微小尺寸的LED阵列,如LED显示屏每一个像素可定址、单独驱动点亮,可看成是户外LED显示屏的微缩版,将像素点距离从毫米级降低至微米级。该技术将传统的无机LED阵列微小化,每个尺寸在10微米尺寸的LED像素点均可以被独立的定位、点亮。也就是说,原本小间距LED的尺寸可进一步缩小至10微米量级。MicroLED的显示方式十分直接,将10微米尺度的LED芯片连接到TFT驱动基板上,从而实现对每个芯片放光亮度的精确控制,进而实现图像显示。当显示屏有部分位置出现故障时,在故障位置会出现光斑,通过检测显示屏的光斑位置可以确定显示屏故障点的位置,因此对显示屏光斑的位置的检测非常重要。授权公告号为CN106951891B的中国专利技术专利公开了一种光斑检测方法和装置,首先获取原始图像,然后根据其灰度、红色分量、绿色分量和蓝色分量确定是否存在光斑,并结合不存在光斑时的目标图片确定光斑所在的位置。上述专利所公开的技术方案,不能够准确的定位出屏幕上光斑的位置,可靠性较差。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基 ...
【技术保护点】
1.一种基于MicroLED显示技术的显示屏,包括控制器和显示屏本体,控制器与显示屏本体连接,用于控制显示屏本体的显示内容;其特征在于,所述控制器还连接有用于获取显示屏本体图像的图像采集装置,控制器用于根据显示屏本体的图像判断其是否存在光斑,判断方法包括如下步骤:/n步骤一:根据显示屏本体的图像初步判断其是否存在光斑;/n步骤二:初步判断出显示屏本体上存在光斑时,控制显示屏本体变换其显示的图像,并在每次变换时获取显示屏本体的图像,共获取设定张显示屏本体图像,并根据获取的设定张显示屏本体图像判断显示屏本体上是否存在光斑;/n步骤三:如果根据获取的设定张显示屏本体图像均判断出显示屏本体上存在光斑,则根据各显示屏本体图像获取显示屏本体上光斑存在的位置;/n步骤四:判断根据各显示屏图像获取的显示屏本体上光斑的位置是否一致,如果一致,则判断显示屏本体的该位置存在光斑;/n获取显示屏本体上光斑位置的方法是:/n获取光斑的最小矩形包围框,然后获取该包围框周围八个邻域内的显示屏本体图像,每个邻域的大小均与所述最小矩形包围框相同;/n根据各邻域内显示屏本体的图像内容获取其在显示屏本体的位置,并根据各邻域 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于MicroLED显示技术的显示屏,包括控制器和显示屏本体,控制器与显示屏本体连接,用于控制显示屏本体的显示内容;其特征在于,所述控制器还连接有用于获取显示屏本体图像的图像采集装置,控制器用于根据显示屏本体的图像判断其是否存在光斑,判断方法包括如下步骤:
步骤一:根据显示屏本体的图像初步判断其是否存在光斑;
步骤二:初步判断出显示屏本体上存在光斑时,控制显示屏本体变换其显示的图像,并在每次变换时获取显示屏本体的图像,共获取设定张显示屏本体图像,并根据获取的设定张显示屏本体图像判断显示屏本体上是否存在光斑;
步骤三:如果根据获取的设定张显示屏本体图像均判断出显示屏本体上存在光斑,则根据各显示屏本体图像获取显示屏本体上光斑存在的位置;
步骤四:判断根据各显示屏图像获取的显示屏本体上光斑的位置是否一致,如果一致,则判断显示屏本体的该位置存在光斑;
获取显示屏本体上光斑位置的方法是:
获取光斑的最小矩形包围框,然后获取该包围框周围八个邻域内的显示屏本体图像,每个邻域的大小均与所述最小矩形包围框相同;
根据各邻域内显示屏本体的图像内容获取其在显示屏本体的位置,并根据各邻域在显示屏本体的位置确定光斑在显示屏本体的位置。
2.根据权利要求1所述的基于MicroLED显示技术的显示屏,其特征在于,根据显示屏本体图像判断其是否存在光斑的方法为:
通过图像的每个像素点的红色分量、绿色分量和蓝色分量,在所有像素点中确定高亮度像素点;
获取高亮度像素点所组成的连通域,将该连通域作为光斑。
3.根据权利要求2所述的基于MicroLED显示技术的显示屏,其特征在于,确定所述高亮度像素点的具体步骤如下
获取图像中各像素点的红色分量、绿色分量和蓝色分量,并计算该像素点的灰度值;
采用对数变化,通过像素点的灰度值计算该其增强...
【专利技术属性】
技术研发人员:宋玉,王石萌,李子倩,张乃心,
申请(专利权)人:郑州大学,
类型:发明
国别省市:河南;41
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