一种利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法，所述方法包括：通过观察孔采用紫外光光洁度仪器检测GIS设备内部表面光洁度；调整光洁度仪器角度和方向，多次检测GIS内部表面光洁度；根据GIS设备内部表面光洁度评估GIS设备内部表面脏污物是否会引起GIS设备内部放电，并得出评估结果；根据评估结果设定GIS设备运行方式。本发明专利技术实施例通过检测GIS设备内部表面光洁度评估是否会导致GIS设备内部放电方法，实现了GIS设备气室放电提前预警，减少事故发生率以及降低电网成本。

【技术实现步骤摘要】
一种利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法
本专利技术涉及电力检测
，特别涉及一种利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法。
技术介绍
近年来，由于气体绝缘金属封闭开关设备(GIS)具有占地面积小、受气候条件的影响小、使用周期长、维护工作少、装置结构紧凑、便于安装、适用于地形复杂、地势狭小的区域特点，广泛用于电力行业。然而随着GIS变电站数量不断增加，GIS设备故障也越来越多。分析其故障主要原因是因为GIS设备在生产、装配、运输等过程中会不可避免地在设备内部产生悬浮颗粒、内壁及绝缘子表面脏污，急剧降低SF6气体的绝缘水平，导致发生闪络，严重时导致绝缘击穿，SF6分解，从而造成停电事故。然而引起闪络放电的脏污物尺寸是亚毫米级，甚至是微米级，且GIS设备停电检查非常困难。因此，急需一种GIS设备内部脏污物检测评估方法，评估其是否会导致GIS设备内部放电。目前，针对GIS设备气室放电检测方法很多，常用的就是局部放电超声波检测方法和气相色谱检测方法。局部超声检测方法主要是利用GIS内部发生局部放电时，气体瞬间受热膨胀，产生冲击波，通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法，其特征在于，所述方法包括：/n通过观察孔采用紫外光光洁度仪器检测GIS设备内部表面光洁度；/n调整光洁度仪器角度和方向，多次检测GIS内部表面光洁度；/n根据GIS设备内部表面光洁度评估GIS设备内部表面脏污物是否会引起GIS设备内部放电，并得出评估结果；/n根据评估结果设定GIS设备运行方式。/n

【技术特征摘要】
1.一种利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法，其特征在于，所述方法包括：
通过观察孔采用紫外光光洁度仪器检测GIS设备内部表面光洁度；
调整光洁度仪器角度和方向，多次检测GIS内部表面光洁度；
根据GIS设备内部表面光洁度评估GIS设备内部表面脏污物是否会引起GIS设备内部放电，并得出评估结果；
根据评估结果设定GIS设备运行方式。


2.如权利要求1所述的利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取到GIS刀闸气室内的电压参数。


3.如权利要求2所述的利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法，其特征在于，所述电压参数为220kV、或者110kV。


4.如权利要求3所述的利用紫外光评估GIS设备内部缺陷放电的方法，其特征在于，所述评估结果为：不会产生放电、可能产生放电、会产生放电。

【专利技术属性】
技术研发人员：边美华，张兴森，彭家宁，杨艺云，卢展强，李君华，刘桂蝉，梁世容，
申请(专利权)人：广西电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：广西;45