一种利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种结构简单、成本低、易于集成且能够精确测量出漏电流的利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置及方法。本发明专利技术装置包括电子负载模块（2）、电压放大模块（3）及电压测量模块（4）；本发明专利技术方法包括以下步骤：在待测产品（1）内设定两个测量点；电子负载模块从B点施加负载电流并记为I1，同时测量出AB测量点间的电压并记为V1；再用电子负载模块从B点施加负载电流并记为I2，同时测量出AB测量点间的电压并记为V2；利用电压、电流与电阻之间的关系，最后将两次测得的电流和电压值输入电阻计算公式，即可算得漏电流。本发明专利技术可应用于测量领域。域。域。

【技术实现步骤摘要】
一种利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置及方法


[0001]本专利技术涉及测量领域，尤其涉及一种利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置及方法。

技术介绍

[0002]当今时代，电子科技飞速发展，电子产品日益革新变更，使用者对电子产品的续航要求越来越高，但是电池容量已远远跟不上用户的需求。因此对于电路板各个部件功耗的精准测量和控制变得尤为重要。
[0003]芯片某些管脚存在漏电流，可能会影响到某部分功耗电路电流的精准测量，漏电流在这一部分电流测量中不可忽略，因此必须利用某种手段精确测量出漏电流的大小以确保功耗电路消耗功率的精确测算。
[0004]当前，对漏电流测试多采用漏电测试仪或者DMM（数字万用表）、SMU（源测量单元）等测量仪器，通过这些测量仪器可以测试出元器件的漏电，但是，这些仪器成本高、体积大，难以集成，不易推广在大批量的生产中。此外，板级的复杂电路中会受到测试条件的制约而无法测量某些特定的漏电流,上述仪器无法解决这种特定场合的漏电流测试难题。而这种难题在测试过程中越来越多地遇到。为解决这一问题，亟待设计一种简单、成本低、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置，其特征在于：该装置包括为待测产品（1）的电源提供负载电流的电子负载模块（2），对待测产品（1）上设置的两个测量点之间测得的电压值进行放大并向电压测量模块（4）发送信号的电压放大模块（3），以及接收来自所述电压放大模块（3）的信号并测得待测产品（1）上设置的两个测量点之间的电压值的电压测量模块（4），所述电子负载模块（2）的输入端与待测产品（1）上设置的一个测量点相连接，该测量点与所述电压放大模块（3）的负输入极相连接。2.根据权利要求1所述的一种利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置，其特征在于：所述电子负载模块（2）包括直流电源（21）、运放比较器（22）、限流电阻（23）、功率MOS管（24）及采样电阻（25）组成，所述直流电源（21）的正极与所述运放比较器（22）的正输入极相连接，所述运放比较器（22）的输出极与所述限流电阻（23）的一端连接，所述限流电阻（23）的另一端与所述功率MOS管（24）的栅极连接，所述功率MOS管（24）的源极与所述采样电阻（25）的一端连接，所述采样电阻（25）的另一端接地，所述功率MOS管（24）的源极与所述采样电阻（25）的连接点所述运放比较器（22）的负输入极相连通，所述功率MOS管（24）的漏极与待测产品（1）上设置的一个测量点相连接。3.根据权利要求1所述的一种利用线路阻抗测算板级芯片漏电流的装置，其特征在于：所述电压放大模块（3）包括运算放大器（31），所述运算放大器（31）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯磊，王江，张吉明，刘孟辉，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：