一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法技术

本申请公开了一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，包括待标定样品；设置投射板面；样品标定；像素设置：光谱仪的各个探测器设定3

【技术实现步骤摘要】
一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法


[0001]本申请涉及一种异常光谱剔除方法，具体是一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法。

技术介绍

[0002]全谱直读光谱仪可以广泛适用于铁基、铝基、铜基、镍基、锌基、钛基、钴基、镁基、锡基、铅基等金属样品的成分分析，采用现代先进的ccd数码技术，实现了分析光谱的全谱直读，特殊设计的激发光源，使金属材料的成份分析进入了一个新的时代，卓越的分析性能、极短的分析时间，极低的运行维护成本，智能化的操作模式，使样品分析简单易行。
[0003]部分全谱式直度光谱仪用于产品检测，产品表面一些检测项目是肉眼观察不到的，潜在的影响产品质量，同时产品数量较多，好次产品剔除困难程度大，不能够成组进行一次性检测剔除。因此，针对上述问题提出一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法。

技术实现思路

[0004]一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，包括以下步骤：步骤一、待标定样品：将样品以不同表面标准分为3至4组，同时放置在相应待测环境空间内；步骤二、设置投射板面：采用二维平面板安装在样品放置空间一侧作为光投射获取光点的载体；步骤三、样品标定：利用光谱仪对样品表面进行激发，多次采集光谱，平均后作为当次分析的光谱，用于标定；步骤四、像素设置：光谱仪的各个探测器设定3
‑
5个像素位置，作为监控像素；步骤五、设定位置校正参考光谱；步骤六、比较剔除：根据计算机传输的激发参数和监控像素与光强，开始放电激发样品采集光谱，计算受控光强与监控光强相关系数与阈值比较，进行异常光谱剔除。
[0005]进一步地，所述步骤一中，样品以表面的平整度和洁净度进行分组，任选其中一种表面对样品进行分组。
[0006]进一步地，所述样品以表面的平整度为剔除测试标定，以三个或五个为一组将样品分成3组，三组样品相间放置在样品放置空间待测区域处，同时待测区域空间内为高纯度的氩气环境。
[0007]进一步地，所述步骤二中，光投射获取光点的载体区域一字相间分布有步骤四中的各个探测器所设的对应像素位置。
[0008]进一步地，所述监控像素对样品反射的光强值记录下来，组成一组向量，作为剔除异常光谱的监控光强向量，取基体元素谱线对应的像素位置，组成一组向量，作为监控像素向量。
[0009]进一步地，所述步骤三中依次对相间分布的三组样品逐个经光谱仪进行激发，每
一个样品对应一个探测器所设定的像素位置。
[0010]进一步地，所述步骤四中探测器上用于显示光强值的显示器设置在外部空间，且每一个显示器上标记有校正参考光谱数值。
[0011]进一步地，所述步骤六中进行异常光谱剔除，仪器根据激发参数激发样品，分组火花个数为L，则每放电L次，采集一次数据，FPGA控制电路，将探测器接受的光电信号经由A/D转换后成为数字信号，并读入FPGA的内存中，得到一条光谱数据。
[0012]进一步地，所述获得的光谱数据根据计算机传输的监控像素，获取当前受控光强，计算监控光强和受控光强之间的相关系数，如果相关系数低于设定的阈值，则判断该次采集的光谱异常，则该光谱数据直接抛弃，不计入有效光谱，同时异常光谱计数加1，否则该次光谱将与之前采集到的正常光谱值进行累加，同时正常光谱计数加1。
[0013]进一步地，所述正常光谱累加值除以正常光谱数，作为该次分析阶段的光谱数据，传输到计算机，参与后续计算。
[0014]本专利技术的有益效果是：该种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，通过全谱式直度光谱仪对样品表面进行激发且经探测器对相应光强数值分析，能够剔除处表面异常的样品，实现对样品表面平整度、洁净度及裂缝进行检测剔除的功能，达到微观检测的效果，便于剔除产品中的次品，通过将多个探测器与每一个所要检测的样品一一对应，能够成组的一次性进行检测剔除，同时将多个探测器与计算机进行连接，能够将获得的光强数值分布在屏幕上，且分布方式与样品放置方式一致，有利于直观地取出不合格的样品。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0016]图1为本申请异常光谱剔除方法流程图。
具体实施方式
[0017]为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0018]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0019]在本申请中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、
“
中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本申请及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。
[0020]并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本申请中的具体含义。
[0021]此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”、“套接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0022]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0023]如图1所示，一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，包括以下步骤：步骤一、待标定样品：将样品以不同表面标准分为3至4组，同时放置在相应待测环境空间内；步骤二、设置投射板面：采用二维平面板安装在样品放置空间一侧作为光投射获取光点的载体；步骤三、样品标定：利用光谱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一、待标定样品：将样品以不同表面标准分为3至4组，同时放置在相应待测环境空间内；步骤二、设置投射板面：采用二维平面板安装在样品放置空间一侧作为光投射获取光点的载体；步骤三、样品标定：利用光谱仪对样品表面进行激发，多次采集光谱，平均后作为当次分析的光谱，用于标定；步骤四、像素设置：光谱仪的各个探测器设定3
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5个像素位置，作为监控像素；步骤五、设定位置校正参考光谱；步骤六、比较剔除：根据计算机传输的激发参数和监控像素与光强，开始放电激发样品采集光谱，计算受控光强与监控光强相关系数与阈值比较，进行异常光谱剔除。2.根据权利要求1所述的一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，其特征在于：所述步骤一中，样品以表面的平整度和洁净度进行分组，任选其中一种表面对样品进行分组。3.根据权利要求2所述的一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，其特征在于：所述样品以表面的平整度为剔除测试标定，以三个或五个为一组将样品分成3组，三组样品相间放置在样品放置空间待测区域处，同时待测区域空间内为高纯度的氩气环境。4.根据权利要求1所述的一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，其特征在于：所述步骤二中，光投射获取光点的载体区域一字相间分布有步骤四中的各个探测器所设的对应像素位置。5.根据权利要求4所述的一种全谱式直度光谱仪的异常光谱剔除方法，其特征在于：所述监控像素对样品反射的光强值记录下来，组成一组向...

【专利技术属性】
技术研发人员：何其剑，
申请(专利权)人：无锡钱荣分析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：