测试机构和测试设备制造技术

本发明专利技术公开一种测试机构和测试设备，所述测试机构包括底座、测试组件及压紧结构，所述测试组件包括支撑座和检测件，所述支撑座的一端与所述底座连接，所述支撑座的另一端设有安装腔，所述检测件设于所述安装腔内，并与所述安装腔的内壁围合形成放置槽，所述放置槽用于放置产品；所述压紧结构与所述支撑座滑动连接，所述压紧结构设有压紧件，所述压紧件邻近所述放置槽的槽口设有夹爪，所述夹爪用于压紧或释放所述放置槽内的产品。本发明专利技术旨在提供一种结构简单，且能够确保产品与检测件良好接触的测试机构，该测试机构有效提高了测试精度和测试效率，且成本低。且成本低。且成本低。

【技术实现步骤摘要】
测试机构和测试设备


[0001]本专利技术涉及MIC麦克风单体检测设备
，特别涉及一种测试机构和应用该测试机构的测试设备。

技术介绍

[0002]麦克风组装后需对其进行各项功能测试，测试时测试点需与产品接触测试。相关技术中，测试机构种类繁多，通常采用气缸结构进行驱动，导致测试机构价格偏高，且测试精度低等问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的是提供一种测试机构和测试设备，旨在提供一种结构简单，且能够确保产品与检测件良好接触的测试机构，该测试机构有效提高了测试精度和测试效率，且成本低。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提出一种测试机构，所述测试机构包括：
[0005]底座；
[0006]测试组件，所述测试组件包括支撑座和检测件，所述支撑座的一端与所述底座连接，所述支撑座的另一端设有安装腔，所述检测件设于所述安装腔内，并与所述安装腔的内壁围合形成放置槽，所述放置槽用于放置产品；及
[0007]压紧结构，所述压紧结构与所述支撑座滑动连接，所述压紧结构设有压紧件，所述压紧件邻近所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试机构，其特征在于，所述测试机构包括：底座；测试组件，所述测试组件包括支撑座和检测件，所述支撑座的一端与所述底座连接，所述支撑座的另一端设有安装腔，所述检测件设于所述安装腔内，并与所述安装腔的内壁围合形成放置槽，所述放置槽用于放置产品；及压紧结构，所述压紧结构与所述支撑座滑动连接，所述压紧结构设有压紧件，所述压紧件邻近所述放置槽的槽口设有夹爪，所述夹爪用于压紧或释放所述放置槽内的产品。2.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于，所述压紧结构包括：滑动座，所述滑动座设有滑动孔，所述支撑座可滑动地穿过所述滑动孔，并与所述底座连接，所述压紧件远离所述夹爪的一端与所述滑动座连接；和转动件，所述转动件与所述底座转动连接，并与所述滑动座的周缘活动连接；其中，所述转动件带动所述滑动座和所述压紧件沿所述支撑座滑动，以使所述夹爪压紧或释放所述放置槽内的产品。3.如权利要求2所述的测试机构，其特征在于，所述滑动座环绕所述滑动孔还设有容纳槽，所述支撑座设有台阶面，所述压紧结构还包括弹性件，所述弹性件的一端容纳于所述容纳槽内，所述弹性件的另一端与所述台阶面弹性连接。4.如权利要求3所述的测试机构，其特征在于，所述滑动座环绕所述容纳槽还设有限位台，所述压紧结构还包括定位环，所述定位环套设于所述容纳槽的外壁，并限位于所述限位台，所述定位环的内壁设有定位槽，所述压紧件远离所述夹爪的一端设有定位凸起，所述定位凸起容纳并限位于所述定位槽内。5.如权利要求2所述的测试机构，其特征在于，所述滑动座的周缘设有连接槽，所述转动件包括：连接头，所述连接头设有凹槽，所述滑动座的部分容纳于所述凹槽内；两个连接块，两个所述连接块呈对称设置于所述凹槽内，两个所述连接块可活动地容纳于所述连接槽内；及握把，所述握把的一端与所述连接头连接，所述握把邻近所述连接头的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵志远，于南南，王鹏，周斌，
申请(专利权)人：荣成歌尔微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：