一种芯片原型验证方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:27831771 阅读:74 留言:0更新日期:2021-03-30 11:39
本申请公开了一种芯片原型验证方法、装置、设备及介质,包括:获取测试用例的配置信息,其中,所述配置信息包括寄存器名称;利用所述寄存器名称以及预设映射关系获取所述寄存器名称对应的寄存器地址信息;利用所述寄存器地址信息访问待测设计的寄存器,基于所述配置信息进行配置,以在所述待测设计上执行所述测试用例;获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果;利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果;对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。这样,能够满足验证可复用性、可维护性的需求,从而降低验证成本。从而降低验证成本。从而降低验证成本。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片原型验证方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及芯片验证
,特别涉及一种芯片原型验证方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着大规模集成电路设计复杂性的提升,芯片验证面临资金与时间的巨大挑战。当硬件厂商推出现场可编程逻辑门阵列(FPGA)后,开发者可通过将设计实现在FPGA上并检验FPGA的功能的方式对设计进行验证,FPGA原型验证这一解决方案就此应运而生,这一比流片便宜、比仿真要快的方式,已成为开发者检验设计有效性的首选方案之一。使用FPGA原型验证的解决方案,芯片和系统开发者可以在流片前对设计进行功能与性能验证,验证在真实软件应用条件下的芯片和系统表现是否满足了实际应用场景要求。由于FPGA具有内部电路可重构的特点,可以付出很小代价的在FPGA上映射芯片的逻辑设计。同时,FPGA原型验证的运行速度相对EDA仿真的速度相比往往是数个数量级的巨大优势,以及由于FPGA的固有特征允许设计在FPGA上长时间运行,这使得FPGA原型验证在性能测试、可靠性测试等方面有突出的优势。
[0003]目前,FPGA原型验证已是当前原型验证的主流方法。但是,在芯片原型验证领域,由于各类芯片测试场景的多样性、芯片测试手段的灵活性以及芯片功能的复杂性,在不同种类芯片甚至同一芯片不同测试场景的验证环境搭建工程实践中,原型验证工程师往往使用各种不同的方法来实现验证环境并满足验证需求,缺少在可重用性、可维护性有较好表现的自动化验证软件框架。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本申请的目的在于提供一种芯片原型验证方法、装置、设备及介质,能够满足验证可复用性、可维护性的需求,从而降低验证成本。其具体方案如下:
[0005]第一方面,本申请公开了一种芯片原型验证方法,包括:
[0006]获取测试用例的配置信息,其中,所述配置信息包括寄存器名称;
[0007]利用所述寄存器名称以及预设映射关系获取所述寄存器名称对应的寄存器地址信息;
[0008]利用所述寄存器地址信息访问待测设计的寄存器,基于所述配置信息进行配置,以在所述待测设计上执行所述测试用例;
[0009]获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果;
[0010]利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果;
[0011]对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。
[0012]可选的,所述方法,还包括:
[0013]对芯片的寄存器表单进行解析,提取出寄存器名称与寄存器地址信息,构建所述预设映射关系。
[0014]可选的,所述获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果,包括:
[0015]基于第一预设数据结构读取所述待测设计的状态锁存寄存器的结果,以得到所述实际执行结果。
[0016]可选的,所述利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果,包括:
[0017]利用所述预测模型以及所述配置信息输出对应的执行结果,并将该执行结果转换为第二预设数据结构,得到所述预期执行结果。
[0018]可选的,所述对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过,包括:
[0019]遍历所述第一预设数据结构与所述第二数据结构,对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。
[0020]可选的,所述方法还包括:
[0021]在所述测试用例的执行过程中,自动收集所述测试用例中测试点的覆盖情况。
[0022]可选的,所述在所述测试用例的执行过程中,自动收集所述测试用例中测试点的覆盖情况,包括:
[0023]设置测试点字典,所述测试点字典中包括各测试点对应的预设值域;
[0024]在基于所述配置信息进行配置时,利用所述配置信息中的寄存器配置值与所述测试点字典进行匹配,若在所述预设值域中匹配到与该寄存器配置值一致的值,则更新所述测试点字典中的测试点覆盖信息,和/或利用所述测试用例中通过测试的测试点对应的所述实际执行结果与所述测试点字典进行匹配,以更新所述测试点覆盖信息。
[0025]第二方面,本申请公开了一种芯片原型验证装置,包括:
[0026]配置信息获取模块,用于获取测试用例的配置信息,其中,所述配置信息包括寄存器名称;
[0027]寄存器地址获取模块,用于利用所述寄存器名称以及预设映射关系获取所述寄存器名称对应的寄存器地址信息;
[0028]待测设计配置模块,用于利用所述寄存器地址信息访问待测设计的寄存器,基于所述配置信息进行配置,以在所述待测设计上执行所述测试用例;
[0029]实际执行结果获取模块,用于获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果;
[0030]预期执行结果确定模块,用于利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果;
[0031]执行结果检查模块,用于对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。
[0032]第三方面,本申请公开了一种电子设备,包括:
[0033]存储器,用于保存计算机程序;
[0034]处理器,用于执行所述计算机程序,以实现前述的芯片原型验证方法。
[0035]第四方面,本申请公开了一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于保存计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现前述的芯片原型验证方法。
[0036]可见,本申请获取测试用例的配置信息,其中,所述配置信息包括寄存器名称,然后利用所述寄存器名称以及预设映射关系获取所述寄存器名称对应的寄存器地址信息,之
后利用所述寄存器地址信息访问待测设计的寄存器,基于所述配置信息进行配置,以在所述待测设计上执行所述测试用例,然后获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果,并且利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果,最后对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。也即,本申请利用寄存器名称以及预设映射关系获取对应的寄存器地址,而不是直接利用寄存器地址进行访问,避免芯片迭代过程中寄存器地址改变引起的验证可复用性以及可维护性低的问题,能够满足验证可复用性、可维护性的需求,从而降低验证成本。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0038]图1为本申请公开的一种芯片原型验证方法流程图;
[0039]图2为本申请公开的一种具体的芯片原型验证方法流程图;
[0040]图3为本申请公开的一种具体的芯片原型验证装置结构示意图;
[0041]图4为本申请公开的一种具体的芯片验证平台结构示意图;
[0042]图5为本申请公开的一种电子设备结构图。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片原型验证方法,其特征在于,包括:获取测试用例的配置信息,其中,所述配置信息包括寄存器名称;利用所述寄存器名称以及预设映射关系获取所述寄存器名称对应的寄存器地址信息;利用所述寄存器地址信息访问待测设计的寄存器,基于所述配置信息进行配置,以在所述待测设计上执行所述测试用例;获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果;利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果;对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。2.根据权利要求1所述的芯片原型验证方法,其特征在于,还包括:对芯片的寄存器表单进行解析,提取出寄存器名称与寄存器地址信息,构建所述预设映射关系。3.根据权利要求1所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述获取所述测试用例在所述待测设计上的实际执行结果,包括:基于第一预设数据结构读取所述待测设计的状态锁存寄存器的结果,以得到所述实际执行结果。4.根据权利要求3所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述利用预设预测模型以及所述配置信息确定预期执行结果,包括:利用所述预测模型以及所述配置信息输出对应的执行结果,并将该执行结果转换为第二预设数据结构,得到所述预期执行结果。5.根据权利要求4所述的芯片原型验证方法,其特征在于,所述对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过,包括:遍历所述第一预设数据结构与所述第二数据结构,对比所述实际执行结果与所述预期执行结果,判断所述测试用例是否通过。6.根据权利要求1至5任一项所述的芯片原型验证方法,其特征在于,还包括:在所述测试用例的执行过程中,自动收集所述测试用例中测试点的覆盖情...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘文博邵海波田利波乐亚平
申请(专利权)人:山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
类型:发明
国别省市:

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