一种光学信息检测方法、装置及设备制造方法及图纸

本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测方法，包括：获取第一相机采集的投影图案的全场散斑图案，根据预设零级散斑图案和预设特征匹配规则，确定全场散斑图案中的目标零级散斑图案，获取目标零级散斑图案对应的像素坐标信息，根据目标零级散斑图案及其像素坐标信息，计算目标光学信息。本实施例中，对于散斑投影器件的投射图像规划一些用于检测的目标光学信息，确定投影的全场散斑图案的目标零级散斑图案，就可以准确的计算出用于检测的目标光学信息。完整、准确、可靠的通过投影的全场散斑图像检测出对应的用于检测的目标光学信息，进而准确快速的确定投影器件的质量是否合格，提高产线的效率和良品率。提高产线的效率和良品率。提高产线的效率和良品率。

【技术实现步骤摘要】
一种光学信息检测方法、装置及设备


[0001]本申请属于光学
，尤其涉及一种光学信息检测方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]投影器件在进行质量检测时，需要获取光学信息，通过光学信息来判断投影器件的质量。现有技术中，对于检测所需要的光学信息并没有一套完整的获取方法，这样导致得到的检测结果也会出现很大误差。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种光学信息检测方法、装置及设备，可以解决现有技术中，对于检测所需要的光学信息并没有一套完整的获取方法，导致得到的检测结果误差大的问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测方法，包括：
[0005]获取第一相机采集的投影图案的全场散斑图案；所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏；
[0006]根据预设零级散斑图案和预设特征匹配规则，确定所述全场散斑图案中的目标零级散斑图案；
[0007]获取所述目标零级散斑图案对应的像素坐标信息；
[0008]根据所述目标零级散斑图案及其所述像素坐标信息，计算目标光学信息。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学信息检测方法，其特征在于，包括：获取第一相机采集的投影图案的全场散斑图案；所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏；根据预设零级散斑图案和预设特征匹配规则，确定所述全场散斑图案中的目标零级散斑图案；获取所述目标零级散斑图案对应的像素坐标信息；根据所述目标零级散斑图案及其所述像素坐标信息，计算目标光学信息。2.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，所述目标光学信息包括光轴偏转角；所述根据所述目标零级散斑图案及其所述像素坐标信息，计算目标光学信息，包括：获取所述预设零级散斑图案中的预设中心点，并且根据预设中心点确定所述目标零级散斑图案中的目标中心点；根据所述像素坐标信息获取所述预设中心点和所述目标中心点之间的像素差；根据所述像素差和第一距离，计算所述光轴偏转角；所述第一距离为所述散斑投影组件和所述投影屏之间的距离。3.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，所述目标光学信息包括散斑旋转夹角；所述根据所述目标零级散斑图案及其所述像素信息，计算目标光学信息，包括：获取所述预设零级散斑图案中的第一预设散斑点和第二预设散斑点，并获取所述第一预设散斑点和所述第二预设散斑点之间的第二距离；所述第一预设散斑点和所述第二预设散斑点的竖直像素坐标相同；在所述目标零级散斑图案中获取与所述第一预设散斑点对应的第一目标散斑点、与所述第二预设散斑点对应的第二目标散斑点；根据所述第二距离获取与所述第一目标散斑的竖直像素坐标相同第三目标散斑点；根据所述第一目标散斑点、所述第二目标散斑点、所述第三目标散斑点和所述像素信息，计算所述散斑旋转夹角。4.如权利要求1所述的光学信息检测方法，其特征在于，在所述获取第一相机采集的投影图案的全场散斑图案之后，还包括：获取所述投影图案与所述全场散斑图案之间的大小比例信息；获取所述全场散斑图案的内切矩形的边长信息；根据所述大小比例信息和所述边长信息确定所述全场散斑图案的实际物理尺寸；根据所述实际物理尺寸和第一距离，计算所述散斑投影组件的视场角；所述第一距离为所述散斑投影组件和所述投影屏之间的距离。5.一种光学信息检测装置，其特征在于，包括：第一获取单元，用于获取第一相机采集的投影图案的全场散斑图案；所述投影图案由散斑投影组件投射在投影屏；第一确定单元，用于根据预设零级散斑图案和预...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文健，刘畅，黄源浩，肖振中，
申请(专利权)人：奥比中光科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：