一种移相器S参数自动测试系统技术方案

技术编号:27798125 阅读:17 留言:0更新日期:2021-03-23 17:55
一种移相器S参数自动测试系统,包括移相电路、矢量网络分析仪、移相器测试工装、上位机和打印机,移相器测试工装一端口与矢量网络分析仪一端口相连,移相器测试工装二端口与矢量网络分析仪二端口相连,移相器测试工装三端口与移相电路相连,上位机分别与矢量网络分析仪、移相电路、打印机相连。相对于传统的测试方法通过手动拨码测试人工记录数据,本系统测试简单、利于操作并且可以大大提高生产效率,节约人工成本实现自动化生产。

【技术实现步骤摘要】
一种移相器S参数自动测试系统
本技术涉属于通信领域,具体涉及一种移相器S参数自动测试系统。
技术介绍
随着通信电子技术的发展,自动化测试设备在工业及军事领域的应用越来越广泛,测试要求越来越复杂,测试频率越来越高,传统的人工打码测试效率太低,通过手动拨码测试人工记录数据,不利于批量生产,而且无形的增加了生产成本。
技术实现思路
针对上述现有技术的不足,本申请通过提供一种移相器S参数自动测试系统,被测件连好后实现上位机直接控制移相电路,并实现实时输出矢量网络分析S参数测试数据。缩短了测试时间,提高了效率,节约了人工成本。一种移相器S参数自动测试系统,包括移相电路、矢量网络分析仪、移相测试工装、上位机和打印机;所述移相器测试工装一端口与所述矢量网络分析仪一端口相连,所述移相测试工装二端口与所述矢量网络分析仪二端口相连,所述移相器测试工装三端口与所述移相电路相连,所述上位机分别与所述矢量网络分析仪、移相电路、打印机相连。进一步地,所述移相器测试工装支持C波段6位数字移相器。进一步地,所述移相电路采用C8051芯片。进一步地,所述移相电路通过LAN口与上位机相连:所述矢量网络分析仪通过GPIB口与上位机相连;所述打印机通过USB口与上位机相连。与现有技术相比,本申请提供的技术方案,具有的技术效果或优点是:实现实时输出矢量网络分析S参数测试数据。缩短了测试时间,提高了效率,节约了人工成本。附图说明图1为本技术实施例中的移相器S参数自动测试系统的结构图。具体实施方式下面结合说明书附图对本技术的技术方案做进一步的详细说明。一种移相器S参数自动测试系统,如图1所示,包括移相电路1、矢量网络分析仪2、移相器测试工装3、上位机4和打印机5,所述移相器测试工装3一端口与所述矢量网络分析仪2一端口相连,所述移相器成测试工装3二端口与所述矢量网络分析仪2二端口相连,所述移相器测试工装3三端口与所述移相电路1相连,所述上位机4分别与所述矢量网络分析仪2、所述移相电路1、所述打印机5相连。所述移相器测试工装3支持C波段6位数字移相器。进一步地,所述移相电路1采用C8051芯片。所述移相电路1通过LAN口与上位机4相连:矢量网络分析仪2通过GPIB口与上位机4相连;打印机5通过USB口与上位机4相连。被测件连好后实现上位机直接控制移相电路,并实现实时输出矢量网络分析S参数测试数据。与现有技术相比,本申请提供的技术方案,具有的技术效果或优点是:实现实时输出矢量网络分析S参数测试数据。缩短了测试时间,提高了效率,节约了人工成本。以上所述仅为本技术的较佳实施方式,本技术的保护范围并不以上述实施方式为限,但凡本领域普通技术人员根据本技术所揭示内容所作的等效修饰或变化,皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种移相器S参数自动测试系统,其特征在于:/n所述测试系统包括移相电路、矢量网络分析仪、移相测试工装、上位机和打印机;/n所述移相器测试工装一端口与所述矢量网络分析仪一端口相连,所述移相测试工装二端口与所述矢量网络分析仪二端口相连,所述移相器测试工装三端口与所述移相电路相连,所述上位机分别与所述矢量网络分析仪、移相电路、打印机相连。/n

【技术特征摘要】
1.一种移相器S参数自动测试系统,其特征在于:
所述测试系统包括移相电路、矢量网络分析仪、移相测试工装、上位机和打印机;
所述移相器测试工装一端口与所述矢量网络分析仪一端口相连,所述移相测试工装二端口与所述矢量网络分析仪二端口相连,所述移相器测试工装三端口与所述移相电路相连,所述上位机分别与所述矢量网络分析仪、移相电路、打印机相连。


2.根据权利要求1所述的一种移相器S...

【专利技术属性】
技术研发人员:金鹏
申请(专利权)人:南京汉瑞微波通信有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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