产生具有符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种产生具符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的方法及其装置。该方法包含利用奇偶校验产生电路产生低密度奇偶校验码、利用检测电路根据数据库中的多个陷阱集共用结构检测低密度奇偶校验码并产生至少一陷阱集共用结构资讯、利用验证电路根据低密度奇偶校验码分别与各陷阱集共用结构资讯进行重要性取样模拟以得到对应的估算错误基数、利用验证电路将各估算错误基数与预期错误基数进行比较，及于所有估算错误基数皆小于预期错误基数时利用验证电路输出低密度奇偶校验码。

【技术实现步骤摘要】
产生具有符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的方法及装置
本专利技术有关于低密度奇偶校验(low-densityparity-check，LDPC)技术，特别是一种可产生具符合所需的错误基数(errorfloor)的低密度奇偶校验码(LDPCcode)的方法及装置。
技术介绍
随着数字通信与储存设备系统对高可靠度数据的传输需求的增加，各种错误更正的技巧被广泛地应用于此些系统中。近年来，尤以具有高度错误更正能力的低密度奇偶校验码(low-densityparity-checkcode，LDPCcode)备受瞩目。一般而言，错误基数(errorfloor)越低的低密度奇偶校验码，其可靠度越高。因此，验证低密度奇偶校验码的错误基数(errorfloor)是确保可靠度的一个重要方式。然而，传统的验证方法所能验得的错误基数不够低，例如透过电脑模拟大约仅能验到10-6的错误基数。并且，若想要验证到很低的错误基数，例如低于10-16的错误基数，甚至需耗费数个月至数年的时间。
技术实现思路
在一实施例中，一种产生具有符合所需本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种产生具有符合所需的错误基数(error floor)的低密度奇偶校验码(Low-Density Parity-Check code，LDPC code)的方法，包含：/n利用一奇偶校验产生电路产生一低密度奇偶校验码；/n利用一检测电路根据一数据库中的多个陷阱集共用结构(trapping set core)对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的至少一陷阱集共用结构资讯，其中各该陷阱集共用结构资讯包含该些陷阱集共用结构中之一者、该陷阱集共用结构于该低密度奇偶校验码中的出现数量以及出现位置，且各该陷阱集共用结构资讯所包含的该陷阱集共用结构互不相同；/n利用一验证电路根据该低...

【技术特征摘要】
20190920 TW 1081339301.一种产生具有符合所需的错误基数(errorfloor)的低密度奇偶校验码(Low-DensityParity-Checkcode，LDPCcode)的方法，包含：
利用一奇偶校验产生电路产生一低密度奇偶校验码；
利用一检测电路根据一数据库中的多个陷阱集共用结构(trappingsetcore)对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的至少一陷阱集共用结构资讯，其中各该陷阱集共用结构资讯包含该些陷阱集共用结构中之一者、该陷阱集共用结构于该低密度奇偶校验码中的出现数量以及出现位置，且各该陷阱集共用结构资讯所包含的该陷阱集共用结构互不相同；
利用一验证电路根据该低密度奇偶校验码分别与各该陷阱集共用结构资讯进行一重要性取样(ImportanceSampling，IS)模拟，以得到各该陷阱集共用结构资讯对应的一估算错误基数；
利用该验证电路将各该估算错误基数与一预期错误基数进行比较；及
于所有该估算错误基数皆小于或等于该预期错误基数时，利用该验证电路输出该低密度奇偶校验码。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，于任一该陷阱集共用结构资讯的该估算错误基数大于该预期错误基数时，返回执行利用该奇偶校验产生电路产生该低密度奇偶校验码的步骤。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用该验证电路根据该低密度奇偶校验码分别与各该陷阱集共用结构资讯进行该重要性取样以得到对应于各该陷阱集共用结构资讯的该估算错误基数的步骤包含：
利用该验证电路的一码字产生模块根据该低密度奇偶校验码与一讯息产生一第一码字(codeword)；
利用该验证电路的一杂讯产生模块根据该陷阱集共用结构资讯在该低密度奇偶校验码中该陷阱集共用结构的该出现位置上添加具有一第一值的第一杂讯，并在该低密度奇偶校验码中的其余位置上添加具有一第二值的第二杂讯，以产生一第二码字，其中该第一值大于该第二值；
利用该验证电路的一解码器根据该第二码字进行解码并产生一解码结果；
利用该验证电路的一运算器根据该第一码字与该解码结果得到一模拟错误基数；及
利用该运算器根据该模拟错误基数和该第一值与该第二值之间的比值得到该陷阱集共用结构资讯的该估算错误基数。


4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用该检测电路根据该数据库中的该些陷阱集共用结构对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的该至少一陷阱集共用结构资讯的步骤包含：
利用该检测电路的一行选择器选择该低密度奇偶校验码中一第一数量的多个行，并利用该检测电路的一列选择器选择该低密度奇偶校验码中一第二数量的多个列；
利用该检测电路的一检测模块检测在被选择的该第一数量的该些行与该第二数量的该些列上是否出现该些陷阱集共用结构中之一；
于检测完被选择的该第一数量的该些行与该第二数量的该些列上后，返回执行利用该检测电路的该行选择器选择该低密度奇偶校验码中该第一数量的该些行并利用该检测电路的该列选择器选择该低密度奇偶校验码中该第二数量的该些列的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭轩豪，
申请(专利权)人：慧荣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71