【技术实现步骤摘要】
一种低成本MCU芯片FT测试电路
本技术涉及芯片测试技术相关领域,具体是一种低成本MCU芯片FT测试电路。
技术介绍
集成电路芯片在代工厂生产后,会进行封装和测试,FT测试就是芯片封装后的测试,指的是芯片在封装完成以后进行的最终测试,只有通过测试的芯片才会被出货。一般FT在封装厂或者测试厂进行,而进行FT测试的机台比较贵(几十万,几百万数量级),功能也比较强大,在MCU芯片的测试过程中需要进行多项测试,需要功能强大的测试机台,在集成电路测试繁忙的时候,机台会比较紧张,排队会延误交货日期,IC设计公司购买机台又需要大量的资金,为了解决资金和交期时间的矛盾。
技术实现思路
因此,为了解决上述不足,本技术在此提供一种低成本MCU芯片FT测试电路。本技术是这样实现的,构造一种低成本MCU芯片FT测试电路,该装置包括测试电路板,所述测试电路板顶端右侧由后至前依次设置有电源接口、输出导线和开关按键,所述测试电路板左端通过传输导线与连接电路板相连接,且连接电路板顶部安装有测试座。优选的,所述测试电路 ...
【技术保护点】
1.一种低成本MCU芯片FT测试电路,其特征在于:其结构包括测试电路板(1),所述测试电路板(1)顶端右侧由后至前依次设置有电源接口(2)、输出导线(3)和开关按键(4),所述测试电路板(1)左端通过传输导线(5)与连接电路板(6)相连接,且连接电路板(6)顶部安装有测试座(7)。/n
【技术特征摘要】
1.一种低成本MCU芯片FT测试电路,其特征在于:其结构包括测试电路板(1),所述测试电路板(1)顶端右侧由后至前依次设置有电源接口(2)、输出导线(3)和开关按键(4),所述测试电路板(1)左端通过传输导线(5)与连接电路板(6)相连接,且连接电路板(6)顶部安装有测试座(7)。
2.根据权利要求1所述一种低成本MCU芯片FT测试电路,其特征在于:所述测试电路板(1)边沿处均开设有六个螺栓孔,且螺栓孔大小一致。
3.根据权利要求1所述一种低成本MCU芯片FT测试电路,其特征在于:所述电源接口(2)的插口朝向位于右侧,且电源接口(2)底端与测试电路板(1)顶端边沿处贴合。
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【专利技术属性】
技术研发人员:沈敏,施彦,陶建平,
申请(专利权)人:江苏宏云技术有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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