一种键盘测试模组制造技术

技术编号:27756885 阅读:20 留言:0更新日期:2021-03-19 13:54
本实用新型专利技术旨在提供一种结构简单、产品定位精度高且不会对产品造成损害的键盘测试模组。本实用新型专利技术包括底板,所述底板上设有产品凹槽,所述产品凹槽的槽边设置有若干个弹性销,所述产品凹槽内设置有若干个定位销,所述底板上还设置有至少一个安装位,所述安装位上设置有探针测试组件,所述探针测试组件包括固定在所述安装位上的测试PCB和底座,所述底座位于所述测试PCB的上方,所述底座的后端铰接有压盖,所述压盖上设置有压块,所述压块与开设在所述底座上的压槽相适配,所述压槽内设置有硅胶针片,所述硅胶针片内设置有若干根金属探针,所述金属探针与设置在所述测试PCB上的PIN点相配合。本实用新型专利技术可应用于测试模组的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种键盘测试模组
本技术涉及测试模组的
,特别涉及一种键盘测试模组。
技术介绍
在计算机的使用过程中,我们必不可少使用到键盘产品,键盘是用于操作设备运行的一种指令和数据输入装置,也指经过系统安排操作一台机器或设备的一组功能键(如打字机、电脑键盘)。键盘是最常用也是最主要的输入设备,通过键盘可以将英文字母、数字、标点符号等输入到计算机中,从而向计算机发出命令、输入数据等。从第一台打印机开始直至现在的家庭电脑,键盘的使用总是密不可分的,它可以是输入指令的效率大大提高,方便人类提高工作效率,也有越来越多形状功能繁多的键盘产品被研发出来,因此对键盘产品产量要求和技术工艺要求也在逐步提高。市面上主要使用的键盘按工作原理分类分为机械键盘、塑料薄膜式键盘、导电橡胶式键盘、无接电静电电容键盘。键盘在生产过程中需要进行多项性能测试,其主要的测试类型包括键盘电气特性测试、键盘高低温老化试验、键盘按键反应测试、键盘keyfeeling测试、键盘内部光源光通量测试等。其中,大部分的测试都是针对键盘里的电路板进行。目前,常用的测试方式是用探针或PCB与产品本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种键盘测试模组,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)上设有产品凹槽(2),所述产品凹槽(2)的槽边设置有若干个弹性销(3),所述产品凹槽(2)内设置有若干个定位销(4),所述底板(1)上还设置有至少一个安装位(5),所述安装位(5)上设置有探针测试组件(6),所述探针测试组件(6)包括固定在所述安装位(5)上的测试PCB(60)和底座(61),所述底座(61)位于所述测试PCB(60)的上方,所述底座(61)的后端铰接有压盖(62),所述压盖(62)上设置有压块(63),所述压块(63)与开设在所述底座(61)上的压槽(64)相适配,所述压槽(64)内设置有硅胶针片(65),所述硅...

【技术特征摘要】
1.一种键盘测试模组,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)上设有产品凹槽(2),所述产品凹槽(2)的槽边设置有若干个弹性销(3),所述产品凹槽(2)内设置有若干个定位销(4),所述底板(1)上还设置有至少一个安装位(5),所述安装位(5)上设置有探针测试组件(6),所述探针测试组件(6)包括固定在所述安装位(5)上的测试PCB(60)和底座(61),所述底座(61)位于所述测试PCB(60)的上方,所述底座(61)的后端铰接有压盖(62),所述压盖(62)上设置有压块(63),所述压块(63)与开设在所述底座(61)上的压槽(64)相适配,所述压槽(64)内设置有硅胶针片(65),所述硅胶针片(65)内设置有若干根金属探针(66),所述金属探针(66)与设置在所述测试PCB(60)上的PIN点(67)相配合。


2.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组,其特征在于:所述压盖(62)的前端设有与所述压块(63)相适配的方槽(68),所述压块(63)通过压缩弹簧(69)浮动设置在所述方槽(68)内。


3.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组,其特征在于:所述底座(61)和所述压盖(62)通过转销(70)相铰接,所述转销(70)上套设有扭簧(71),所述扭簧(71)与所述底座(61)及所述压盖(62)相配合。


4.根据权利要求1所述的一种键盘测试模组,其特征在于:所述底板(1)上还设有若干个取手位(7),若干个取手位(7)分布在所述产品凹槽(2)的前后两侧并与所述产品凹槽(2...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄心填黄万演邝家辉祝国昌张琛星
申请(专利权)人:欧拓飞科技珠海有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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