The invention relates to a boundary scan test method is applicable to a plurality of boundary scan test, which comprises the following steps: setting A. switching procedures for boundary scan test, the switching program will specify the test path for the current transformation of the boundary scan chain; B. judgment to be tested whether the boundary scan chain chain, if yes, in step C, if not, the other test method test, the end of the process; C. call switching procedures, clear the current test directory, and will be testing the boundary scan chain diagnosis file directory copied to the current directory D. test; test vector to test the boundary scan chain, generating test file; E. judgment if there is a boundary scanning chain to be detected if there is, return to step B; if not, then end the process. The invention copies the diagnostic file of the chain to the designated test directory before calling the single chain test, thereby realizing the multi chain test diagnosis.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试领域,由其涉及一种基于ICT(In-Circuit-Test)的多链边界扫描测试方法。
技术介绍
边界扫描测试(BST-Boundary Scan Test)技术,也就是JTAG技术,是指通过存在于器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC(边界扫描单元)对器件及其外围电路进行测试。利用边界扫描测试技术可以有效地降低单板成本,提高测试质量,缩短产品研发周期。1990年,美国电气与电子工程师学会(IEEE)将JTAG标准经补充和修订以后,命名为IEEE1149.1。IEE1149.1标准大大地推动了边界扫描测试技术的发展和广泛应用。迄今为止,边界扫描技术已成为最成熟的DFT技术,它已成为DFT的主要手段,对DFT技术的发展具有深远的影响。近年来,由于许多芯片制造商都接受了IEEE1149.1标准,越来越多的芯片具有边界扫描功能,在单板的DFT设计时会将这些边界扫描器件按一定的要求连成一条或多条的边界扫描菊花链。基于ICT(In-Circuit-Test)的边界扫描测试是指,ICT测试仪通过ICT针床对被测单板上的边界扫描器件激励测量信号,通过接收测试结果来进行故障诊断和故障定位。多链测试是指分别要对两个或两个以上的边界扫描菊花链进行测试。目前边界扫描测试方法都是通过分析单链上边界扫描器件和周边器件的拓扑关系,产生边界扫描测试向量和故障诊断文件,所以每条边界扫描链都有各自独立的诊断文件。测试工具测试的时候要将单链的诊断文件放到指定的测试目录下,才能实现对边界扫描单链的故障诊断和故障定位。如果将不同链的诊断文件同时拷到测试目录下,就会出错。由于不 ...
【技术保护点】
一种边界扫描链测试方法,适用于多条边界扫描链测试,其特征在于:包括以下步骤:A、为测试的边界扫描链设置切换程序,该切换程序将指定测试路径转换为当前边界扫描链;B、判断待测试链是否为边界扫描链,如果是,进入步骤C,如果否,结束 本流程;C、调用切换程序,清空当前测试目录,并将待测试边界扫描链目录下的诊断文件拷贝到当前测试目录下;D、对待测试边界扫描链进行向量测试,产生测试文件;E、判断是否还有待测边界扫描链,如果有,返回步骤B;如果没有,则 结束流程。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:徐臻,杨远志,陈定邦,
申请(专利权)人:华为技术有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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