一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法，包括支撑底座，所述支撑底座上设置有高度调节装置，所述高度调节装置上旋转固定有标尺，所述标尺设置在被检测产品的上方；所述标尺上设置有多个不同直径的检测孔，且所述多个检测孔之间的间距不等，所述检测孔的轴向与被检测产品方向相同。简化了X射线实时成像检测评判过程，快速获得缺陷尺寸，提高检测效率，适用于泡沫、橡胶、轻质陶瓷、薄壁件金属等X射线探伤检测材料。

【技术实现步骤摘要】
一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法
本专利技术涉及X射线实时成像检测领域，尤其涉及一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法。
技术介绍
X射线无损检测技术可分为X射线胶片照相法和X射线实时成像法。其中，X射线胶片照相法检测时间长、成本高，且缺陷与射线源的相对位置会大大影响评判结果，易造成漏判。而X射线实时成像法可克服X射线胶片照相法的不足，对缺陷进行实时检测与评估，对检测结果进行数字化存储与管理，节约成本，高效环保。目前，在X射线实时成像检测技术结果评判时，获得的是实物的投影图像，该图像采集到的杂质尺寸并不等同于缺陷的实际大小，缺陷的实际尺寸需要根据电流、电压、焦距、放大倍数四个参数以及相应的原理性公式计算得出，过程繁琐。现有技术中有在数字射线实时成像的基础上，结合飞机叶片图像灰度分布的特点，运用灰度曲面函数和集合运算实现了缺陷尺寸的自动测定，但该过程也涉及大量函数计算，缺陷尺寸计算过程复杂。还有对气体绝缘开关进行了X射线实时成像尺寸标定，虽然试验验证误差较低，但其需要查阅大量特定参数，导致X射线数字成像效率降低。根据X射线实时成像设备的透照参数及相应放大倍数等参数计算缺陷的实际尺寸，换算过程复杂，评判效率低。因此，急需要一种能够检测效率高的缺陷测量装置及方法。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是，针对上述存在的问题，提供了一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法，简化了X射线实时成像检测评判过程，快速获得缺陷尺寸，提高检测效率，适用于泡沫、橡胶、轻质陶瓷、薄壁件金属等X射线探伤检测材料。本专利技术采用的技术方案如下：一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置，包括支撑底座，所述支撑底座上设置有高度调节装置，所述高度调节装置上旋转固定有标尺，所述标尺设置在被检测产品的上方；所述标尺上设置有多个不同直径的检测孔，且所述多个检测孔之间的间距不等，所述检测孔的轴向与被检测产品方向相同。简化了X射线实时成像检测评判过程，快速获得缺陷尺寸，提高检测效率，适用于泡沫、橡胶、轻质陶瓷、薄壁件金属等X射线探伤检测材料。优选的，所述高度调节装置包括双孔管夹、单孔管夹、第一高度调节管和第二高度调节管，第一高度调节管的一端固定在所述支撑底座上、另一端固定在所述双孔管夹上，所述第二高度调节管的一端固定在所述双孔管夹上、另一端固定在所述单孔管夹上，所述单孔管夹上还旋转固定有所述标尺。能够通过双孔管夹夹持第一高度调节管和第二高度调节管，或者通过单孔管夹夹持第二高度调节管的位置来调节标尺的高度。优选的，所述第一高度调节管和所述第二高度调节管相互平行。优选的，所述标尺的下边缘结构与被检测产品的上边缘结构吻合。方便测量成像尺寸。优选的，所述标尺的厚度与被检测产品的衬度相同。减小衬度不同、导致成像比例不同带来的误差。优选的，所述检测孔的数量为8个，且孔径大小分别为0.2mm、0.4mm、0.6mm、0.8mm、1mm、1.5mm、2mm、3mm，孔间距依次为1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm。优选的，所述标尺为弧形结构，所述被检测产品的上边缘也为弧形结构。还提供一种基于X射线实时成像的缺陷测量方法，包括上述的测量装置，还包括以下步骤：S1：选用与被检测产品衬度相同、形状结构吻合的标尺；S2：在标尺上打多个检测孔，且检查孔的直径、间距均不相同；S3：采用单孔管夹连接标尺与第二高度调节管，双孔管夹连接第一高度调节管和第二高度调节管，再将第一高度调节管固定到支撑底座上；S4：调节标尺到被检测产品的上方，使其靠近被检测产品并高于被检测产品；S5：对被检测产品进行X射线实时成像检测，得到标尺的成像尺寸和实际尺寸的比例，再依据被检测产品缺陷的成像尺寸即可得出缺陷的实际尺寸。实际测量过程中可以根据实际缺陷选择合适尺寸的检查孔。优选的，被检测产品为圆弧形，设置标尺为弧形结构，在S4步骤中，调整标尺的位置，使标尺与被检测产品的圆心重合。优选的，在步骤S2中的检测孔的数量为8个，且检查孔的直径尺寸依次为0.2mm、0.4mm、0.6mm、0.8mm、1mm、1.5mm、2mm、3mm，每两孔孔间距依次为1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm。与现有技术相比，采用上述技术方案的有益效果为：本专利技术的基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法，包括支撑底座，所述支撑底座上设置有高度调节装置，所述高度调节装置上旋转固定有标尺，所述标尺设置在被检测产品的上方；所述标尺上设置有多个不同直径的检测孔，且所述多个检测孔之间的间距不等，所述检测孔的轴向与被检测产品方向相同。简化了X射线实时成像检测评判过程，快速获得缺陷尺寸，提高检测效率，适用于泡沫、橡胶、轻质陶瓷、薄壁件金属等X射线探伤检测材料。附图说明图1是本专利技术的结构图；图2是本专利技术的第一丝状缺陷成像图；图3是本专利技术的第一丝状缺陷成像图；图4是本专利技术的第一点状缺陷成像图；图5是本专利技术的第二点状缺陷成像图。主要元素符号说明：1、支撑底座；2、双孔管夹；3、单孔管夹；4、第二高度调节管；5、标尺。具体实施方式下面结合附图，对本专利技术作详细的说明。为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。实施例1：请参阅图1，本实施例的一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置，包括支撑底座1，支撑底座1上设置有高度调节装置，高度调节装置上旋转固定有标尺5，标尺5设置在被检测产品的上方；标尺5上设置有多个不同直径的检测孔，且多个检测孔之间的间距不等，检测孔的轴向与被检测产品方向相同。简化了X射线实时成像检测评判过程，快速获得缺陷尺寸，提高检测效率，适用于泡沫、橡胶、轻质陶瓷、薄壁件金属等X射线探伤检测材料。标尺5可由铝制成。本实施例的高度调节装置包括双孔管夹2、单孔管夹3、第一高度调节管和第二高度调节管4，第一高度调节管的一端固定在支撑底座1上、另一端固定在双孔管夹2上，第二高度调节管4的一端固定在双孔管夹2上、另一端固定在单孔管夹3上，单孔管夹3上还旋转固定有标尺5。能够通过双孔管夹2夹持第一高度调节管和第二高度调节管4，或者通过单孔管夹3夹持第二高度调节管4的位置来调节标尺5的高度。本实施例的第一高度调节管和第二高度调节管4相互平行。本实施例的标尺5的下边缘结构与被检测产品的上边缘结构吻合。方便测量成像尺寸。本实施例的标尺5的厚度与被检测产品的衬度相同。减小衬度不同、导致成像比例不同带来的误差。本实施例的检测孔的数量为8个，且孔径大小分别为0.2mm、0.4mm、0.6mm、0.8mm、1mm、1.5mm、2mm、3mm，孔间距依次为1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm。本实施例的标尺5为弧形结构，被检测产品的上边缘也为弧形结构。本实施例还提供一种基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，包括支撑底座，所述支撑底座上设置有高度调节装置，所述高度调节装置上旋转固定有标尺，所述标尺设置在被检测产品的上方；所述标尺上设置有多个不同直径的检测孔，且所述多个检测孔之间的间距不等，所述检测孔的轴向与被检测产品方向相同。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，包括支撑底座，所述支撑底座上设置有高度调节装置，所述高度调节装置上旋转固定有标尺，所述标尺设置在被检测产品的上方；所述标尺上设置有多个不同直径的检测孔，且所述多个检测孔之间的间距不等，所述检测孔的轴向与被检测产品方向相同。


2.根据权利要求1所述的基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，所述高度调节装置包括双孔管夹、单孔管夹、第一高度调节管和第二高度调节管，第一高度调节管的一端固定在所述支撑底座上、另一端固定在所述双孔管夹上，所述第二高度调节管的一端固定在所述双孔管夹上、另一端固定在所述单孔管夹上，所述单孔管夹上还旋转固定有所述标尺。


3.根据权利要求2所述的基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，所述第一高度调节管和所述第二高度调节管相互平行。


4.根据权利要求1所述的基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，所述标尺的下边缘结构与被检测产品的上边缘结构吻合。


5.根据权利要求1所述的基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，所述标尺的厚度与被检测产品的衬度相同。


6.根据权利要求1所述的基于X射线实时成像的缺陷测量装置，其特征在于，所述检测孔的数量为8个，且孔径大小分别为0.2mm、0.4mm、0.6mm、0.8mm、1mm、1.5mm、2mm、3mm，孔间距依次为1mm、2mm、3mm、4...

【专利技术属性】
技术研发人员：奚清，喻拓夏，时晓晶，杨丹，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院材料研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51