一种基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统技术方案

技术编号:27736675 阅读:19 留言:0更新日期:2021-03-19 13:28
本发明专利技术提出了一种基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统,包括:激光器,用于向被测物体入射激光光束;聚焦透镜、光接收元件,聚焦透镜用于接收入射激光光束在被测物体表面发生的反射光并将反射光成像在光接收元件上;信号处理器,与光接收元件信号连接,用于接收光接收元件输出的成像点光斑位置的电信号并根据电信号计算出被测物体表面位移量;终端,与信号处理器信号连接,用于实时显示成像点光斑的位移数据并对位移数据进行频谱分析。本发明专利技术基于光学原理,实现了对高速旋转设备转子的轴振动非接触式的测量、分析;结构简单,成本低,精度高,操作简单,具有可移动式测量功能。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统
本专利技术涉及振动测量
,尤其涉及一种基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统。
技术介绍
大型旋转机械装备是我国工业生产中的重要设备,在我国电力、化工、石油、冶金等行业广泛分布。在火力发电厂和核电站中,生产现场应用了很多大型泵、风机,尤其是以汽轮机拖动发电机来生产电能的,汽轮发电机组为人类提供了80%左右的电能,是现代化国家中重要的动力机械设备。发电企业通过获取一系列状态特征参量对大型旋转设备的转子进行重点监测,包括振动、温度、偏心和轴向位移等,其中尤以振动信号为主,被称为转子的“体温计”,直接反映了转子的健康状况。一台机组正常运行时,其振动值和振动变化值都应该比较小,一旦机组振动值变大,或振动变得不稳定,都说明设备出现了一定程度的故障。设备的振动信号中蕴藏了大量信息,检测振动数据中的特征信息,并分析产生振动的原因,越来越得到生产企业的重视。目前工业现场中应用的频谱分析仪器,探头采用加速度式压电系统,测量时,需将探头固定在被测表面上,跟随被测表面一起振动,探头将感受到的振动信号转换为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统,其特征在于,包括:/n激光器,用于向被测物体入射激光光束;/n聚焦透镜、光接收元件,聚焦透镜用于接收入射激光光束在被测物体表面发生的反射光并将反射光成像在光接收元件上;/n信号处理器,与光接收元件信号连接,用于接收光接收元件输出的成像点光斑位置的电信号并根据电信号计算出被测物体表面位移量;/n终端,与信号处理器信号连接,用于实时显示成像点光斑的位移数据并对位移数据进行频谱分析。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统,其特征在于,包括:
激光器,用于向被测物体入射激光光束;
聚焦透镜、光接收元件,聚焦透镜用于接收入射激光光束在被测物体表面发生的反射光并将反射光成像在光接收元件上;
信号处理器,与光接收元件信号连接,用于接收光接收元件输出的成像点光斑位置的电信号并根据电信号计算出被测物体表面位移量;
终端,与信号处理器信号连接,用于实时显示成像点光斑的位移数据并对位移数据进行频谱分析。


2.根据权利要求1所述的基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统,其特征在于,被测物体表面位移量y满足



其中:α为激光器的入射激光光束与聚焦透镜的光轴之间的夹角,β为聚焦透镜的光轴与光接收元件之间的夹角,l1为聚焦透镜的物距,l2为聚焦透镜的像距,x为成像点光斑在光接收元件上产生的位移。


3.根据权利要求2所述的基于光学原理的旋转设备转子轴振动测量系统,其特征在于,l1、l2满足以下关系:



l1tanα=l2tanβ;
其中,f为聚焦透镜的焦距。


4.根据权利要求2所述的基...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵继兴刘晓奎陆大勇孟庆党杨佰臻李伟肖立胜解瑞刘华金晓明
申请(专利权)人:华能巢湖发电有限责任公司
类型:发明
国别省市:安徽;34

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