一种凸曲面测绘卡尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种凸曲面测绘卡尺，包括外框架和多个分度尺，所述分度尺为长方体形，所述外框架为方形框架，多个所述分度尺密排阵列地设于所述外框架内，所述分度尺的侧面设有刻度，各分度尺可相对所述外框架上下移动。本实用新型专利技术的有益效果是多个分度尺测量凸曲面上的不同点，得到不同点的高度数据，再将这些数据输入计算机，即可通过软件模拟还原该凸曲面，成本低廉，携带操作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种凸曲面测绘卡尺
本技术涉及量具领域，尤其涉及一种凸曲面测绘卡尺。
技术介绍
对于部分不规则曲面的绘制，如变形的类圆柱侧曲面，其侧面投影为一根线条，可以直接通过描摹或投影的方式将其画出，再导入软件拉伸一定高度即可。但对于不规则的三维曲面的测绘，常规的方法是通过精密仪器如全站仪，通过光学方法对物体表面采集点，通过采集点数据模拟还原原曲面，但是全站仪等精密测绘仪器价格高昂，且携带不便。
技术实现思路
本技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种凸曲面测绘卡尺。本技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种凸曲面测绘卡尺，包括外框架和多个分度尺，所述分度尺为长方体形，所述外框架为方形框架，多个所述分度尺密排阵列地设于所述外框架内，所述分度尺的侧面设有刻度，各分度尺可相对所述外框架上下移动。进一步地，所述分度尺的一侧面设有半圆柱状的凸条，所述分度尺的相对的另一侧面设有对应的半圆柱状的第一凹槽，所述刻度设于所述凸条的外周侧。进一步地，多个所述分度尺包括多个第一分度尺和多个第二分度尺，所述第一分度尺和第二分度尺的凸条朝向相反的方向设置。进一步地，所述第一分度尺和所述第二分度尺的数量相等。进一步地，所述外框架的内周侧设有与所述凸条对应的半圆柱形的第二凹槽。进一步地，所述凸条的顶部同轴地设有半圆形的限位盘，所述限位盘的半径大于所述凸条的半径。进一步地，所述分度尺的顶面设有与所述限位盘对应的第三凹槽。进一步地，所述外框架的顶面设有与所述限位盘对应的第四凹槽。进一步地，所述外框架上设有收紧机构，所述收紧机构与所述外框架的一对相对的边框连接。进一步地，所述收紧机构包括调节螺钉和两个“L”型的连接件，两个所述连接件的一端分别与所述外框架的一对相对的边框铰接，两个所述连接件的另一端通过所述调节螺钉连接。本技术的有益效果在于：1、多个分度尺测量凸曲面上的不同点，得到不同点的高度数据，再将这些数据输入计算机，即可通过软件模拟还原该凸曲面，成本低廉，操作方便；2、在读数完成之后，将凸曲面测绘卡尺的第一凹槽朝上，手持外框架，将调节螺钉拧松，分度尺由于重力向下滑动，直至限位盘落入第三凹槽或第四凹槽内，即将所有分度尺收齐，以方便收纳；3、通过手提收紧机构，便可将整个卡尺提起，携带方便。附图说明图1是本技术所述一种凸曲面测绘卡尺的示意图；图2是本技术所述一种凸曲面测绘卡尺的使用状态的示意图。附图标记：1-外框架，11-第二凹槽，12-第四凹槽，2-分度尺，21-第一分度尺，22-第二分度尺，3-凸条，31-刻度，32-限位盘，4-第一凹槽，41-第三凹槽，5-收紧机构，51-调节螺钉，52-连接件。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步说明：如图1和图2所示，一种凸曲面测绘卡尺，包括外框架1和密排阵列地设于所述外框架1内的多个分度尺2，所述分度尺2为长方体形，所述分度尺2的一侧面设有半圆柱状的凸条3，所述凸条3的外周侧设有刻度31，所述分度尺2的相对的另一侧面设有对应的半圆柱状的第一凹槽4，所述凸条3的顶部同轴地设有半圆形的限位盘32，所述限位盘32的半径大于所述凸条3的半径，所述分度尺2的顶面设有与所述限位盘32对应的第三凹槽41，多个所述分度尺2包括数量相等的多个第一分度尺21和多个第二分度尺22，所述第一分度尺21和第二分度尺22的凸条3朝向相反的方向设置。如图和图2所示，所述外框架1为方形框架，36根所述分度尺2以6排6列的密排阵列形式设于所述外框架1内，所述外框架1的内周侧设有与所述凸条3对应的半圆柱形的第二凹槽11，所述外框架1的顶面设有与所述限位盘32对应的第四凹槽12。所述外框架1上设有收紧机构5，所述收紧机构5包括调节螺钉51和两个“L”型的连接件52，两个所述连接件52的一端分别与所述外框架1的一对相对的边框铰接，两个所述连接件52的另一端通过所述调节螺钉51连接，所述调节螺钉51自其中一个连接件52的弯折处穿入，自该连接件52的非铰接端部穿出，并延伸至另一个连接件52的非铰接端部内，与其螺纹连接。使用时先将调节螺钉51拧松，使分度尺2能在外框架1内上下滑动，然后将凸曲面测绘卡尺的底部对准待测的凸曲面按下，在重力的作用下，各个分度尺2的底端落在待测凸曲面的不同位置上，分度尺2的凸条3露出不同长度，然后将调解螺钉拧紧，使两个连接件52之间的距离减小，从而使外框收缩，分度尺2由于其侧面的压力增加，分度尺2与分度尺2之间的摩擦力增加，从而使其相对位置固定，以方便读数。对凸条3上的刻度31读数即可得到露出高度的具体数值，对于凸条3直接接触外框架1的外周分度尺2，其凸条3上的露出的刻度31的读数即为对应测量的凸曲面位置的高度，而对于非外周的内部分度尺2，则需要将其自身的读数与和与其相同朝向的相对朝外的所有分度尺2的凸条刻度读数累计相加来得到所对应测量的凸曲面位置的总高度。利用多个分度尺2可同时测量凸曲面上的不同位置的高度数据，再将这些数据输入计算机，即可通过软件模拟还原该凸曲面，成本低廉，携带操作方便。在读数完成之后，将凸曲面测绘卡尺的第一凹槽4朝上，手持外框架1，将调节螺钉51拧松，分度尺2由于重力向下滑动，直至限位盘32落入第三凹槽41或第四凹槽12内，即将所有分度尺2收齐，以方便收纳。上述实施例只是本技术的较佳实施例，并不是对本技术技术方案的限制，只要是不经过创造性劳动即可在上述实施例的基础上实现的技术方案，均应视为落入本技术专利的权利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种凸曲面测绘卡尺，其特征在于，包括外框架和多个分度尺，所述分度尺为长方体形，所述外框架为方形框架，多个所述分度尺密排阵列地设于所述外框架内，所述分度尺的侧面设有刻度，各分度尺可相对所述外框架上下移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种凸曲面测绘卡尺，其特征在于，包括外框架和多个分度尺，所述分度尺为长方体形，所述外框架为方形框架，多个所述分度尺密排阵列地设于所述外框架内，所述分度尺的侧面设有刻度，各分度尺可相对所述外框架上下移动。


2.根据权利要求1所述的一种凸曲面测绘卡尺，其特征在于，所述分度尺的一侧面设有半圆柱状的凸条，所述分度尺的相对的另一侧面设有对应的半圆柱状的第一凹槽，所述刻度设于所述凸条的外周侧。


3.根据权利要求2所述的一种凸曲面测绘卡尺，其特征在于，多个所述分度尺包括多个第一分度尺和多个第二分度尺，所述第一分度尺和第二分度尺的凸条朝向相反的方向设置。


4.根据权利要求3所述的一种凸曲面测绘卡尺，其特征在于，所述第一分度尺和所述第二分度尺的数量相等。


5.根据权利要求4所述的一种凸曲面测绘卡尺，其特征在于，所述外框架的内周侧设有与所述凸...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘格，陈彪，
申请(专利权)人：成都信华光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51