一种设备性能测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种设备性能测试方法及装置，涉及数据处理技术领域，上述方法包括：接收基站模拟器发送的信号；模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输；通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，向各个探头发送模拟传输后的所述信号，以使得各个探头在放置有所述被测设备的所述暗室中辐射接收到的信号，实现对所述被测设备的性能测试，其中，每一探头与所述信号模拟器的一个输出接口相连接。应用本发明专利技术实施例提供的方案能够提升设备性能测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种设备性能测试方法及装置
本专利技术涉及通信
，特别是涉及一种设备性能测试方法及装置。
技术介绍
近年来随着基于5G技术的通信设备的市场占有率逐年升高，使用上述通信设备的用户也越来越多，用户对通信设备的质量要求也随之提高，因此，为通信设备的性能测试带来新的挑战。现有技术中，一般采用传导测试法进行通信设备测试，但上述方法需要拆卸被测设备的外壳，破坏了被测设备的完整性，且需要提前进行天线方向图的测量，导致通信设备性能测试的效率较低。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种设备性能测试方法及装置，以提高通信设备性能测试的效率。具体技术方案如下：第一方面，本专利技术实施例提供了一种设备性能测试方法，应用于信道模拟器，所述方法包括：接收基站模拟器发送的信号；模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，其中，所模拟出的信道的空间相关性满足以下关系式：其中，u1,u2表示被测设备的天线的标识，ρt(u1,u2)表示所模拟出的信道的空间相关性，M为预设的信道中每一个子径簇内的子径条数表示第m条子径的到达角AoA，表示放置于所述暗室的被测设备的第u1个天线的天线方向图，表示所述被测设备的第u2个天线的天线方向图的共轭；通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，向各个探头发送模拟传输后的所述信号，以使得各个探头在放置有所述被测设备的所述暗室中辐射接收到的信号，实现对所述被测设备的性能测试，其中，每一探头与所述信号模拟器的一个输出接口相连接。本专利技术的一个实施例中，上述模拟用于传输所述信号的信道，包括：以预设的信道模拟矩阵中的各个元素为所述暗室中各个探头的各条子径的初始相位，按照预衰落合成法模拟用于传输所述信号的信道；其中，所述信号模拟矩阵的行数等于每一子径簇内的子径数、列数等于探头的总数，所述信道模拟矩阵中第k列的第m个元素表示第k个探头相对应信道中任一子径簇内第m条子径的初始相位；所述信道模拟矩阵每一列的元素等于：预设的离散傅里叶矩阵中对应列的元素与该列对应的旋转因子exp(jαk)的乘积，各列对应的旋转因子中α在[0,2π]之间均匀分布。本专利技术的一个实施例中，上述基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，包括：采用所模拟出信道的时间响应对所述信号进行卷积相乘，实现对所述信号进行模拟传输。本专利技术的一个实施例中，上述暗室中的各个探头分别通过功率放大器与各个输出接口连接；所述通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，向各个探头发送模拟传输后的所述信号，包括：通过输出接口，向所述暗室中的各个探头分别连接的功率放大器发送模拟传输后的所述信号，以使得所述功率放大器对接收到的所述信号进行放大处理，并向探头发送经放大处理的所述信号。第二方面，本专利技术实施例提供了一种设备性能测试方法，应用于信道模拟器，所述方法包括：通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，接收各个探头发送的信号，其中，每一探头与所述信号模拟器的一个输出接口相连接；模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，其中，所模拟出的信道的空间相关性满足以下关系式：其中，u1,u2表示被测设备的天线的标识，ρt(u1,u2)表示所模拟出的信道的空间相关性，M为预设的信道中每一个子径簇内的子径条数，表示第m条子径的到达角AoA，表示放置于所述暗室的被测设备的第u1个天线的天线方向图，表示所述被测设备的第u2个天线的天线方向图的共轭；向基站模拟器发送模拟传输后的所述信号，以使得基站模拟器接收所述信号，实现对所述被测设备的性能测试。本专利技术的一个实施例中，上述模拟用于传输所述信号的信道，包括：以预设的信道模拟矩阵中的各个元素为所述暗室中各个探头的各条子径的初始相位，按照预衰落合成法模拟用于传输所述信号的信道；其中，所述信号模拟矩阵的行数等于每一子径簇内的子径数、列数等于探头的总数，所述信道模拟矩阵中第k列的第m个元素表示第k个探头相对应的信道中任一子径簇内第m条子径的初始相位；所述信道模拟矩阵每一列的元素等于：预设的离散傅里叶矩阵中对应列的元素与该列对应的旋转因子exp(jαk)的乘积，各列对应的旋转因子中α在[0,2π]之间均匀分布。本专利技术的一个实施例中，上述基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，包括：采用所模拟出信道的时间响应对所述信号进行卷积相乘，实现对所述信号进行模拟传输。本专利技术的一个实施例中，上述暗室中的各个探头分别通过功率放大器与各个输出接口连接；所述通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，接收各个探头发送的信号，包括：通过输出接口，接收所述暗室中的各个探头分别连接的功率放大器发送的信号。第三方面，本专利技术实施例提供了一种设备性能测试装置，应用于信道模拟器，所述装置包括：信号接收模块，用于接收基站模拟器发送的信号；信号传输模块，用于模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，其中，所模拟出的信道的空间相关性满足以下关系式：其中，u1,u2表示被测设备的天线的标识，ρt(u1,u2)表示所模拟出的信道的空间相关性，M为预设的信道中每一个子径簇内的子径条数，表示第m条子径的到达角AoA，表示放置于所述暗室的被测设备的第u1个天线的天线方向图，表示所述被测设备的第u2个天线的天线方向图的共轭；信号发送模块，用于通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，向各个探头发送模拟传输后的所述信号，以使得各个探头在放置有所述被测设备的所述暗室中辐射接收到的信号，实现对所述被测设备的性能测试，其中，每一探头与所述信号模拟器的一个输出接口相连接。本专利技术的一个实施例中，上述信号传输模块，具体用于以预设的信道模拟矩阵中的各个元素为所述暗室中各个探头的各条子径的初始相位，按照预衰落合成法模拟用于传输所述信号的信道；其中，所述信号模拟矩阵的行数等于每一子径簇内的子径条数、列数等于探头的总数，所述信道模拟矩阵中第k列的第m个元素表示探头相对应的信道包含的子径簇内第m条子径的初始相位；所述信道模拟矩阵每一列的元素等于：预设的离散傅里叶矩阵中对应列的元素与该列对应的旋转因子exp(jαk)的乘积，各列对应的旋转因子中α在[0,2π]之间均匀分布。本专利技术的一个实施例中，上述信号传输模块，具体用于采用所模拟出信道的时间响应对所述信号进行卷积相乘，实现对所述信号进行模拟传输。本专利技术的一个实施例中，上述暗室中的各个探头分别通过功率放大器与各个输出接口连接；所述信号发送模块，具体用于通过输出接口，向所述暗室中的各个探头分别连接的功率放大器发送模拟传输后的所述信号，以使得所述功率放大器对接收到的所述信号进行放大处理，并向探头发送经放大处理的所述信号。第四方面，本专利技术实施例提供了一种设备性能测试装置，应用于信道模拟器，所述装置包括：...

【技术保护点】
1.一种设备性能测试方法，其特征在于，应用于信道模拟器，所述方法包括：/n接收基站模拟器发送的信号；/n模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，其中，所模拟出的信道的空间相关性满足以下关系式：/n

【技术特征摘要】
1.一种设备性能测试方法，其特征在于，应用于信道模拟器，所述方法包括：
接收基站模拟器发送的信号；
模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，其中，所模拟出的信道的空间相关性满足以下关系式：



其中，u1,u2表示被测设备的天线的标识，ρt(u1,u2)表示所模拟出的信道的空间相关性，M为预设的信道中每一个子径簇内的子径条数，θm表示第m条子径的到达角AoA，表示放置于所述暗室的被测设备的第u1个天线的天线方向图，表示所述被测设备的第u2个天线的天线方向图的共轭；
通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，向各个探头发送模拟传输后的所述信号，以使得各个探头在放置有所述被测设备的所述暗室中辐射接收到的信号，实现对所述被测设备的性能测试，其中，每一探头与所述信号模拟器的一个输出接口相连接。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模拟用于传输所述信号的信道，包括：
以预设的信道模拟矩阵中的各个元素为所述暗室中各个探头的各条子径的初始相位，按照预衰落合成法模拟用于传输所述信号的信道；
其中，所述信号模拟矩阵的行数等于每一子径簇内的子径数、列数等于探头的总数，所述信道模拟矩阵中第k列的第m个元素表示第k个探头相对应的信道包含的子径簇内第m条子径的初始相位；所述信道模拟矩阵每一列的元素等于：预设的离散傅里叶矩阵中对应列的元素与该列对应的旋转因子exp(jαk)的乘积，各列对应的旋转因子中α在[0,2π]之间均匀分布。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，包括：
采用所模拟出信道的时间响应对所述信号进行卷积相乘，实现对所述信号进行模拟传输。


4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述暗室中的各个探头分别通过功率放大器与各个输出接口连接；
所述通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，向各个探头发送模拟传输后的所述信号，包括：
通过输出接口，向所述暗室中的各个探头分别连接的功率放大器发送模拟传输后的所述信号，以使得所述功率放大器对接收到的所述信号进行放大处理，并向探头发送经放大处理的所述信号。


5.一种设备性能测试方法，其特征在于，应用于信道模拟器，所述方法包括：
通过与所述暗室中的各个探头分别连接的输出接口，接收各个探头发送的信号，其中，每一探头与所述信号模拟器的一个输出接口相连接；
模拟用于传输所述信号的信道，并基于所模拟的信道对所述信号进行模拟传输，其中，所模拟出的信道的空间相关性满足以下关系式：



其中，u1,u2表示被测设备的天线的标识，ρt(u1,u2)表示所模拟出的信道的空间相关性，M为预设的信道中每一个子径簇内的子径条数，θm表示第m条子径的到达角AoA，表示放置于所述暗室的被测设备的第u1个天线的天线方向图，表示所述被测设备的第u2个天线的天线方向图的共轭；
向基站模拟器发送模拟传输后的所述信号，以使得基站模拟器接收所述信号，实现对所述被测设备的性能测试。

【专利技术属性】
技术研发人员：李勇，孙浩，彭木根，
申请(专利权)人：北京邮电大学，
类型：发明
国别省市：北京;11