检测电路、方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种检测电路、方法、装置及设备，属于检测技术领域。本发明专利技术的检测电路包括通信模块、主控模块和检测模块，主控模块用于输出控制指令；通信模块分别连接主控模块和待测设备，通信模块用于根据控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态，检测模块分别连接主控模块和待测设备，检测模块用于检测继电器的开闭状态。这种检测电路能够对继电器的正常通断进行快速检测，操作简单，提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
检测电路、方法、装置及设备
本专利技术涉及检测
，尤其涉及一种检测电路、方法、装置及设备。
技术介绍
目前，对继电器的正常通断进行检测往往需要多个步骤依次执行，操作复杂，影响检测效率，因此，如何对继电器的正常通断进行快速检测，从而提高检测效率，成为了亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种检测电路，能够对继电器的正常通断进行快速检测，操作简单，提高了检测效率。本专利技术还提出一种具有上述检测电路的检测方法。本专利技术还提出一种具有上述检测电路的检测装置。本专利技术还提出一种具有上述检测方法的电子设备。根据本专利技术的第一方面实施例的检测电路，包括：主控模块，所述主控模块用于输出控制指令；通信模块，所述通信模块分别连接所述主控模块和待测设备，所述通信模块用于根据所述控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态；检测模块，所述检测模块分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述检测模块用于检测所述继电器的开闭状态。根据本专利技术实施例的检测电路，至少具有如下有益效果：这种检测电路通过主控模块输出控制指令，使得通信模块根据控制指令控制继电器进行打开或者关闭，从而检测模块对继电器能否正常通断进行检测，操作简单，能够实现对继电器的快速检测，提高了检测效率。根据本专利技术的一些实施例，所述通信模块包括：第一芯片，所述第一芯片分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述第一芯片用于根据所述控制指令控制所述继电器的开闭状态。根据本专利技术的一些实施例，所述主控模块包括：MCU芯片，所述MCU芯片分别连接所述检测模块和所述通信模块，所述MCU芯片用于输出控制指令到所述通信模块，所述MCU芯片还用于识别检测结果。根据本专利技术的一些实施例，所述检测模块包括：第一电阻，所述第一电阻的第一端连接电源的正极端，所述第一电阻的第二端连接所述MCU芯片；电容，所述电容的第一端分别连接所述第一电阻的第二端、所述MCU芯片，所述电容的第二端接地；光电耦合器，所述光电耦合器的集电极分别连接所述第一电阻的第二端，所述MCU芯片，所述电容的第一端，所述光电耦合器的发射极分别连接所述电容的第二端和接地，所述光电耦合器的正极连接所述待测设备的正极输出端，所述光电耦合器的负极连接所述待测设备的负极输出端；二极管，所述二极管的阳极分别连接所述光电耦合器的正极和所述待测设备的正极输出端，所述二极管的阴极分别连接所述光电耦合器的负极和所述待测设备的负极输出端；第二电阻，所述第二电阻的第一端连接所述待测设备的负极输出端，所述第二电阻的第二端分别连接所述二极管的阴极和所述光电耦合器的负极。根据本专利技术的一些实施例，所述光电耦合器的型号为LTV816。根据本专利技术的一些实施例，所述二极管的型号为1N4007。根据本专利技术的第二方面实施例的检测方法，包括：获取第一信息，所述第一信息包括待测设备的继电器的初始状态；根据所述继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令以检测所述继电器的开闭状态，所述第一控制指令用于控制输入检测信号，所述第二控制指令用于控制所述继电器打开或者关闭；根据所述继电器的开闭状态，得到所述检测信号的电平状态。根据本专利技术实施例的检测方法，至少具有如下有益效果：这种检测方法通过获取的第一信息的继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令对继电器的开闭状态进行控制，并且检测输入的检测信号的电平状态，根据检测信号的电平状态确认继电器是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器的正常通断的快速检测，提高了检测效率。根据本专利技术的一些实施例，所述第二控制指令包括：第三控制指令，所述第三控制指令用于若所述继电器的初始状态为关闭，先打开所述继电器，经过预定时间之后再关闭所述继电器；第四控制指令，所述第四控制指令用于若所述继电器的初始状态为打开，先关闭所述继电器，经过预定时间之后再打开所述继电器。根据本专利技术的第三方面实施例的检测装置，包括：如第一方面实施例所述的检测电路；控制开关，用于控制所述检测装置的工作状态；显示屏，所述显示屏用于显示检测结果。根据本专利技术实施例的检测装置，至少具有如下有益效果：这种检测装置采用上述检测电路，在按下控制开关时就能够启动检测装置，通过主控模块输出控制指令到通信模块，使得通信模块根据控制指令控制继电器进行打开或者关闭，从而检测模块对继电器能否正常通断进行检测，通过显示屏显示检测结果，操作简单，能够实现对继电器的快速检测及测试结果的显示，提高了检测效率。根据本专利技术的第四方面实施例的电子设备包括：至少一个处理器，以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行所述指令时实现如第二方面实施例所述的检测方法。根据本专利技术实施例的电子设备，至少具有如下有益效果：这种电子设备通过上述检测方法通过获取的第一信息的继电器的初始状态，输出第一控制指令和第二控制指令对继电器的开闭状态进行控制，并且检测输入的检测信号的电平状态，根据检测信号的电平状态确认继电器是否可以正常开断，操作简单，检测速度较快，能够实现对继电器的正常通断的快速检测，提高了检测效率。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步的说明，其中：图1为本专利技术实施例的检测电路的结构示意图；图2为本专利技术另一实施例的检测电路的电路结构示意图；图3为本专利技术另一实施例的检测方法的流程图。附图标记：110、通信模块；120、主控模块；130、检测模块；140、待测设备；150、继电器；210、光电耦合器；220、MCU芯片，230、第一芯片。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.检测电路，其特征在于，包括：/n主控模块，所述主控模块用于输出控制指令；/n通信模块，所述通信模块分别连接所述主控模块和待测设备，所述通信模块用于根据所述控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态；/n检测模块，所述检测模块分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述检测模块用于检测所述继电器的开闭状态。/n

【技术特征摘要】
1.检测电路，其特征在于，包括：
主控模块，所述主控模块用于输出控制指令；
通信模块，所述通信模块分别连接所述主控模块和待测设备，所述通信模块用于根据所述控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态；
检测模块，所述检测模块分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述检测模块用于检测所述继电器的开闭状态。


2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述通信模块包括：
第一芯片，所述第一芯片分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述第一芯片用于根据所述控制指令控制所述继电器的开闭状态。


3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述主控模块包括：
MCU芯片，所述MCU芯片分别连接所述检测模块和所述通信模块，所述MCU芯片用于输出控制指令到所述通信模块，所述MCU芯片还用于识别检测结果。


4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述检测模块包括：
第一电阻，所述第一电阻的第一端连接电源的正极端，所述第一电阻的第二端连接所述MCU芯片；
电容，所述电容的第一端分别连接所述第一电阻的第二端、所述MCU芯片，所述电容的第二端接地；
光电耦合器，所述光电耦合器的集电极分别连接所述第一电阻的第二端，所述MCU芯片，所述电容的第一端，所述光电耦合器的发射极分别连接所述电容的第二端和接地，所述光电耦合器的正极连接所述待测设备的正极输出端，所述光电耦合器的负极连接所述待测设备的负极输出端；
二极管，所述二极管的阳极分别连接所述光电耦合器的正极和所述待测设备的正极输出端，所述二极管的阴极分别连接所述光电耦合器的负极和所述待测设备的负极输出端；
第二电阻，所述第二电...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘晓亮，
申请(专利权)人：深圳市科陆电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44