【技术实现步骤摘要】
一种用于测量工件平面度的测量装置
本专利技术属于平面度测量
，更具体地，涉及一种用于测量工件平面度的测量装置。
技术介绍
压铸件在加工完成后需要进行平面度检测，以确保工件的加工精度，从而保证工件的安装精度。相关技术中，首先，通过在底板上固定三根等高的支撑柱对待测工件进行支撑，以保证工件的待测面水平布置。然后，使用百分表分别检测待测工件上待测面不同位置处的平面度。然而，不同的待测工件的支撑点的位置不同，且厚度不同(支撑点到待测工件待测面的间距)，上述方法中的支撑柱固定布置，且长度一定，不能适用于不同待测工件的测量。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种用于测量工件平面度的测量装置，其目的在于实现对不同待测工件的测量，由此解决不能适用于不同待测工件的测量的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供了一种用于测量工件平面度的测量装置，所述测量装置包括底板、测量组件和三个支撑柱调节件；所述测量组件包括测杆、用于测量待测工件平面度的测量件和两个平行...
【技术保护点】
1.一种用于测量工件平面度的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括底板(1)、测量组件(2)和三个支撑柱调节件(3)；/n所述测量组件(2)包括测杆(21)、用于测量待测工件平面度的测量件(22)和两个平行间隔布置的侧板(23)，两个所述侧板(23)分别垂直固定在所述底板(1)的一个板面上，所述测杆(21)的两端分别可活动地插装在两个所述侧板(23)的顶部，所述测杆(21)的滑动方向与所述侧板(23)的板面平行，且所述测杆(21)水平布置，所述测量件(22)沿所述测杆(21)的轴向可滑动地插装在所述测杆(21)上；/n三个所述支撑柱调节件(3)间隔布置在所述底板(1)上，各...
【技术特征摘要】
1.一种用于测量工件平面度的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括底板(1)、测量组件(2)和三个支撑柱调节件(3)；
所述测量组件(2)包括测杆(21)、用于测量待测工件平面度的测量件(22)和两个平行间隔布置的侧板(23)，两个所述侧板(23)分别垂直固定在所述底板(1)的一个板面上，所述测杆(21)的两端分别可活动地插装在两个所述侧板(23)的顶部，所述测杆(21)的滑动方向与所述侧板(23)的板面平行，且所述测杆(21)水平布置，所述测量件(22)沿所述测杆(21)的轴向可滑动地插装在所述测杆(21)上；
三个所述支撑柱调节件(3)间隔布置在所述底板(1)上，各所述支撑柱调节件(3)均包括滑杆(31)和至少一个支撑柱(32)，所述滑杆(31)可滑动地布置在所述底板(1)上，且所述滑杆(31)的滑动方向与所述侧板(23)的板面平行，各所述支撑柱(32)均包括通用支撑柱(321)和专用支撑柱(322)，对于任意一个所述支撑柱调节件(3)，所述通用支撑柱(321)竖直布置，所述通用支撑柱(321)的底端沿所述滑杆(31)的轴向可滑动地插装在所述滑杆(31)上，且所述通用支撑柱(321)的顶端背向所述底板(1)延伸，所述专用支撑柱(322)的底端同轴可拆卸地插装在所述通用支撑柱(321)的顶端中，所述专用支撑柱(322)为长度可调的杆件，以支撑不同的所述待测工件。
2.根据权利要求1所述的一种用于测量工件平面度的测量装置，其特征在于，所述专用支撑柱(322)包括连接柱体(3221)和调节柱体(3222)，所述连接柱体(3221)的底端同轴可拆卸地插装在所述通用支撑柱(321)的顶端中，所述调节柱体(3222)的底端具有同轴布置的插柱(3223)，所述连接柱体(3221)中具有同轴布置的螺纹孔(3224)，所述插柱(3223)和所述螺纹孔(3224)螺纹配合。
3.根据权利要求2所述的一种用于测量工件平面度的测量装置，其特征在于，所述专用支撑柱(322)还包括锁止件(3220)，所述锁止件(3220)用于锁止所述连接柱体(3221)和所述插柱(3223)。
4.根据权利要求3所述的一种用于测量工件平面度的测量装置，其特征在于，所述锁止件(3220)为连接螺栓(3225)，所述连接螺栓(3225)同轴插装在所述螺纹孔(3224)中，且所述连接螺栓(3225)的顶端与所述插柱(3223)螺纹配合，以连接所述连接柱体(3221)和所述插柱(3223)。
5.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：傅荣谦，周国成，苏权波，邓裕深，张金庆，
申请(专利权)人：广东鸿图科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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