测距方法、装置、电子设备以及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种测距方法、装置、电子设备以及可读存储介质，该方法包括获取双目摄像头拍摄的第一图像和第二图像；根据所述第一图像，得到包含目标物的第一子图；根据所述第二图像，得到包含所述目标物的第二子图；根据所述目标物的特征像素点，计算所述目标物在所述第一子图和所述第二子图中的视差；根据所述视差和所述双目摄像头的相机参数，计算所述目标物与所述双目摄像头的距离。本发明专利技术通过采样策略获取对物体匹配度高的特征像素点进行稀疏匹配，降低算法的计算复杂度，同时对物体纹理需求不高，提升初始视差的估计结果的准确性，从而提升测距精度。

【技术实现步骤摘要】
测距方法、装置、电子设备以及可读存储介质
本专利技术涉及视觉测距领域，尤其涉及一种测距方法、装置、电子设备以及可读存储介质。
技术介绍
双目立体视觉作为一种低成本的测距技术，得到了广泛的应用。在相机参数(图像分辨率；基线：两个摄像头的距离)确定的情况下，双目立体视觉的测距精度取决于立体像对的匹配误差以及物体距离摄像头的距离。现有技术中，基于双目立体视觉的高精度测距中，由于采用稠密视差匹配算法来估计初始视差，导致当物体内部缺乏纹理时，初始视差的估计结果不可靠，其次获取准确的物体轮廓的计算复杂度过高。
技术实现思路
本专利技术提供一种测距方法、装置、电子设备以及可读存储介质，以解决测距时初始视差的估计结果不准确以及计算复杂度过高的问题。根据本专利技术的第一方面，本专利技术提供一种测距方法，所述方法包括：获取双目摄像头拍摄的第一图像和第二图像；根据所述第一图像，得到包含目标物的第一子图；根据所述第二图像，得到包含所述目标物的第二子图；根据所述目标物的特征像素点，计算所述目标物在所述第一子图和所述第二子图中的视差；根本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测距方法，其特征在于，包括：/n获取双目摄像头拍摄的第一图像和第二图像；/n根据所述第一图像，得到包含目标物的第一子图；/n根据所述第二图像，得到包含所述目标物的第二子图；/n根据所述目标物的特征像素点，计算所述目标物在所述第一子图和所述第二子图中的视差；/n根据所述视差和所述双目摄像头的相机参数，计算所述目标物与所述双目摄像头的距离。/n

【技术特征摘要】
1.一种测距方法，其特征在于，包括：
获取双目摄像头拍摄的第一图像和第二图像；
根据所述第一图像，得到包含目标物的第一子图；
根据所述第二图像，得到包含所述目标物的第二子图；
根据所述目标物的特征像素点，计算所述目标物在所述第一子图和所述第二子图中的视差；
根据所述视差和所述双目摄像头的相机参数，计算所述目标物与所述双目摄像头的距离。


2.如权利要求1所述的测距方法，其特征在于，在计算所述目标物在所述第一子图和所述第二子图中的视差的步骤中，包括：
对所述第一子图进行采样，得到第一像素点集，所述第一像素点集包括所述特征像素点；
对所述第二子图进行采样，得到第二像素点集，所述第二像素点集包括所述特征像素点；
根据所述第一像素点集和所述第二像素点集，对所述第一子图和所述第二子图进行视差匹配，得到所述目标物的初始视差；
根据所述第一像素点集、所述第二子图的全部像素以及所述初始视差，得到所述目标物的视差。


3.如权利要求2所述的测距方法，其特征在于，在对所述第一子图进行采样，得到第一像素点集的步骤中，包括：
在所述第一子图上选取一预设大小的目标物区域，根据所述目标物区域计算所述目标物的颜色模型；
根据满足所述颜色模型的所述第一子图中的像素，得到目标物像素；
根据边缘强度大于第一阈值的所述第一子图中的像素，得到边缘像素；
根据所述目标物像素与所述边缘像素的交集，得到第一像素点集。


4.如权利要求3所述的测距方法，其特征在于，所述颜色模型为高斯模型时，计算所述目标物的平均颜色以及颜色方差，得到颜色范围，所述颜色范围用于判断所述第一子图中的像素是否满足所述颜色模型。


5.如权利要求3所述的测距方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：胥立丰，徐友聚，朱福国，
申请(专利权)人：海宁奕斯伟集成电路设计有限公司，北京奕斯伟计算技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33