一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及工业测量技术领域，具体涉及一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法及系统，所述系统包括：控制单元、分别与控制单元连接的视觉检测单元和分类单元，分类单元包括下位机、分别与下位机连接的储料机构和分选机构，所述方法包括：下位机控制储料机构的运行，以将储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域；视觉检测单元对待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成分类结果信息，下位机根据控制单元发送的第二控制指令包含的分类结果信息控制分选机构将待测陶瓷基片进行分类放置，本发明专利技术可以节省人工，降低生产成本，提高对陶瓷电阻基片尺寸检测结果的准确率和产品分类的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法及系统
本专利技术涉及工业测量
，具体涉及一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法及系统。
技术介绍
目前，在生产陶瓷基材这种对产品几何尺寸要求比较高的场合，对其进行检测分类时大多采用人工手动测量其相关几何特征，再进行分类。这种检测方式不但消耗大量的人力，提高了生产成本，使得劳动生产效率低下，而且手动测量操作、人工读数存在很大的误差可能，严重影响检测结果的准确率和产品分类的可靠性。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法及系统，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。为了实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，所述方法应用于视觉检测分类系统，所述系统包括：控制单元、视觉检测单元、分类单元，所述控制单元分别与所述视觉检测单元和分类单元连接，所述分类单元包括下位机、储料机构和分选机构，所述下位机分别与所述储料机构和分选机构连接，所述方法包括以下步骤：下位机响应控制单元下发的第一控制指令控制储料机构的运行，以将所述储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域；控制单元接收到下位机上报的第一反馈信息时，向视觉检测单元发送第二控制指令；所述第一反馈信息包含放置于所述储料机构的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域的确认信息；视觉检测单元响应控制单元发送的第二控制指令，对所述待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成第二反馈信息，并将所述第二反馈信息反馈给控制单元；所述第二反馈信息包含所述待测陶瓷基片的分类结果信息；控制单元接收到视觉检测单元上报的第二反馈信息时，向下位机发送第二控制指令；下位机根据所述第二控制指令包含的分类结果信息控制分选机构将待测陶瓷基片进行分类放置。进一步，所述储料机构包括滑轨、设置于所述滑轨两端的挡板、沿所述滑轨左右运行的储料盒、设置于所述储料盒两侧外壁且朝向挡板方向的距离传感器、以及驱动所述储料盒运行的伺服电机，所述下位机分别与所述伺服电机和所述距离传感器连接，所述下位机响应控制单元下发的第一控制指令控制储料机构的运行，以将所述储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域包括：当下位机接收到控制单元下发的第一控制指令时，获取所述距离传感器探测到的第一距离值，所述第一距离值包括所述储料盒两侧分别距离同侧挡板的两个距离值；下位机根据所述第一距离值和第二距离值确定储料盒当前所处的位置区间，所述第二距离值为所述滑轨两端挡板的距离；下位机根据储料盒当前所处的位置区间和指定图像采集区域的偏差确定第三控制指令，所述第三控制指令包括储料盒的运行方向和运行里程；伺服电机根据所述第三控制指令控制所述储料盒的运行，以将放置于所述储料盒的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域。进一步，所述储料机构还包括设置于所述滑轨下方的LED光源，所述下位机还与所述LED光源连接，所述方法还包括：当下位机接收到控制单元下发的第一控制指令时，控制所述LED光源通电。进一步，所述视觉检测单元包括图像采集控制器和工业相机，所述图像采集控制器分别和所述工业相机、所述控制单元连接，所述视觉检测单元响应控制单元发送的第二控制指令，对所述待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成第二反馈信息，并将所述第二反馈信息反馈给控制单元包括：图像采集控制器响应控制单元发送的第二控制指令，触发工业相机对所述待测陶瓷基片进行图像拍摄；图像采集控制器根据工业相机拍摄的图像和预先检测的尺寸系数确定待测陶瓷基片的理论尺寸；图像采集控制器根据待测陶瓷基片的理论尺寸和预先设置的尺寸分类标准确定待测陶瓷基片的分类结果信息，将包含所述分类结果信息的第二反馈信息反馈给控制单元。进一步，所述预先检测的尺寸系数通过以下方式确定：控制工业相机对标准陶瓷基片进行图像拍摄，以获取N张标准陶瓷基片的原始图像，所述标准陶瓷基片放置于所述储料盒中，所述储料盒位于指定图像采集区域，N≥100；对N张所述标准陶瓷基片的原始图像进行处理，以获取N张灰度图像；提取N张所述灰度图像的边缘像素尺寸，得到N个边缘像素尺寸，将N个边缘像素尺寸的数学期望值作为所述标准陶瓷基片的像素尺寸；将所述标准陶瓷基片的实际边长尺寸和像素尺寸的比值作为预先检测的尺寸系数。一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类系统，所述系统包括：控制单元、视觉检测单元、分类单元，所述控制单元分别与所述视觉检测单元和分类单元连接，所述分类单元包括下位机、储料机构和分选机构，所述下位机分别与所述储料机构和分选机构连接；所述下位机，用于响应控制单元下发的第一控制指令控制储料机构的运行，以将所述储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域；所述控制单元，用于接收到下位机上报的第一反馈信息时，向视觉检测单元发送第二控制指令；所述第一反馈信息包含放置于所述储料机构的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域的确认信息；所述视觉检测单元，用于响应控制单元发送的第二控制指令，对所述待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成第二反馈信息，并将所述第二反馈信息反馈给控制单元；所述第二反馈信息包含所述待测陶瓷基片的分类结果信息；所述控制单元，用于接收到视觉检测单元上报的第二反馈信息时，向下位机发送第二控制指令；所述下位机，还用于根据所述第二控制指令包含的分类结果信息控制分选机构将待测陶瓷基片进行分类放置。进一步，所述储料机构包括滑轨、设置于所述滑轨两端的挡板、沿所述滑轨左右运行的储料盒、设置于所述储料盒两侧外壁且朝向挡板方向的距离传感器、以及驱动所述储料盒运行的伺服电机，所述下位机分别与所述伺服电机和所述距离传感器连接，所述下位机具体用于：当接收到控制单元下发的第一控制指令时，获取所述距离传感器探测到的第一距离值，所述第一距离值包括所述储料盒两侧分别距离同侧挡板的两个距离值；根据所述第一距离值和第二距离值确定储料盒当前所处的位置区间，所述第二距离值为所述滑轨两端挡板的距离；根据储料盒当前所处的位置区间和指定图像采集区域的偏差确定第三控制指令，使得伺服电机根据所述第三控制指令控制所述储料盒的运行，以将放置于所述储料盒的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域，所述第三控制指令包括储料盒的运行方向和运行里程。进一步，所述储料机构还包括设置于所述滑轨下方的LED光源，所述下位机还与所述LED光源连接，所述下位机还用于：当接收到控制单元下发的第一控制指令时，控制所述LED光源通电。进一步，所述视觉检测单元包括图像采集控制器和工业相机，所述图像采集控制器分别和所述工业相机、所述控制单元连接，所述图像采集控制器用于：响应控制单元发送的第二控制指令，触发工业相机对所述待测陶瓷基片进行图像拍摄；根据工业相机拍摄的图像和预先检测的尺寸系数确定待测陶瓷基片的理论尺寸；<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，其特征在于，所述方法应用于视觉检测分类系统，所述系统包括：控制单元、视觉检测单元、分类单元，所述控制单元分别与所述视觉检测单元和分类单元连接，所述分类单元包括下位机、储料机构和分选机构，所述下位机分别与所述储料机构和分选机构连接，所述方法包括以下步骤：/n下位机响应控制单元下发的第一控制指令控制储料机构的运行，以将所述储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域；/n控制单元接收到下位机上报的第一反馈信息时，向视觉检测单元发送第二控制指令；所述第一反馈信息包含放置于所述储料机构的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域的确认信息；/n视觉检测单元响应控制单元发送的第二控制指令，对所述待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成第二反馈信息，并将所述第二反馈信息反馈给控制单元；所述第二反馈信息包含所述待测陶瓷基片的分类结果信息；/n控制单元接收到视觉检测单元上报的第二反馈信息时，向下位机发送第二控制指令；/n下位机根据所述第二控制指令包含的分类结果信息控制分选机构将待测陶瓷基片进行分类放置。/n

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，其特征在于，所述方法应用于视觉检测分类系统，所述系统包括：控制单元、视觉检测单元、分类单元，所述控制单元分别与所述视觉检测单元和分类单元连接，所述分类单元包括下位机、储料机构和分选机构，所述下位机分别与所述储料机构和分选机构连接，所述方法包括以下步骤：
下位机响应控制单元下发的第一控制指令控制储料机构的运行，以将所述储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域；
控制单元接收到下位机上报的第一反馈信息时，向视觉检测单元发送第二控制指令；所述第一反馈信息包含放置于所述储料机构的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域的确认信息；
视觉检测单元响应控制单元发送的第二控制指令，对所述待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成第二反馈信息，并将所述第二反馈信息反馈给控制单元；所述第二反馈信息包含所述待测陶瓷基片的分类结果信息；
控制单元接收到视觉检测单元上报的第二反馈信息时，向下位机发送第二控制指令；
下位机根据所述第二控制指令包含的分类结果信息控制分选机构将待测陶瓷基片进行分类放置。


2.根据权利要求1所述的陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，其特征在于，所述储料机构包括滑轨、设置于所述滑轨两端的挡板、沿所述滑轨左右运行的储料盒、设置于所述储料盒两侧外壁且朝向挡板方向的距离传感器、以及驱动所述储料盒运行的伺服电机，所述下位机分别与所述伺服电机和所述距离传感器连接，所述下位机响应控制单元下发的第一控制指令控制储料机构的运行，以将所述储料机构承载的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域包括：
当下位机接收到控制单元下发的第一控制指令时，获取所述距离传感器探测到的第一距离值，所述第一距离值包括所述储料盒两侧分别距离同侧挡板的两个距离值；
下位机根据所述第一距离值和第二距离值确定储料盒当前所处的位置区间，所述第二距离值为所述滑轨两端挡板的距离；
下位机根据储料盒当前所处的位置区间和指定图像采集区域的偏差确定第三控制指令，所述第三控制指令包括储料盒的运行方向和运行里程；
伺服电机根据所述第三控制指令控制所述储料盒的运行，以将放置于所述储料盒的待测陶瓷基片运送至指定图像采集区域。


3.根据权利要求2所述的陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，其特征在于，所述储料机构还包括设置于所述滑轨下方的LED光源，所述下位机还与所述LED光源连接，所述方法还包括：当下位机接收到控制单元下发的第一控制指令时，控制所述LED光源通电。


4.根据权利要求3所述的陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，其特征在于，所述视觉检测单元包括图像采集控制器和工业相机，所述图像采集控制器分别和所述工业相机、所述控制单元连接，所述视觉检测单元响应控制单元发送的第二控制指令，对所述待测陶瓷基片进行图像检测，基于检测到的图像生成第二反馈信息，并将所述第二反馈信息反馈给控制单元包括：
图像采集控制器响应控制单元发送的第二控制指令，触发工业相机对所述待测陶瓷基片进行图像拍摄；
图像采集控制器根据工业相机拍摄的图像和预先检测的尺寸系数确定待测陶瓷基片的理论尺寸；
图像采集控制器根据待测陶瓷基片的理论尺寸和预先设置的尺寸分类标准确定待测陶瓷基片的分类结果信息，将包含所述分类结果信息的第二反馈信息反馈给控制单元。


5.根据权利要求4所述的陶瓷电阻基片尺寸的视觉检测分类方法，其特征在于，所述预先检测的尺寸系数通过以下方式确定：
控制工业相机对标准陶瓷基片进行图像拍摄，以获取N张标准陶瓷基片的原始图像，所述标准陶瓷基片放置于所述储料盒中，所述储料盒位于指定图像采集区域，N≥100；
对N张所述标准陶瓷基片的原始图像进行处理，以获取N张灰度图像；
提取N张所述灰度图像的边缘像素尺寸，得到N个边缘像素尺...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈国强，叶树林，刘创彬，张力，
申请(专利权)人：佛山科学技术学院，
类型：发明
国别省市：广东;44