对于反射和透射的空间外差干涉测量法(SHIRT)测量制造技术

描述了用于对于反射和透射的空间外差干涉测量法（ＳＨＩＲＴ）测量的系统和方法。方法包括：通过使用第一参考光束和第一物体光束数字记录第一空间外差的全息图；通过使用第二参考光束和第二物体光束数字记录第二空间外差的全息图；傅利叶分析数字记录的第一空间外差的全息图，以定义第一分析的图像；傅利叶分析数字记录的第二空间外差的全息图，以定义第二分析的图像；数字滤波第一分析的图像，定义第一结果；以及数字滤波第二分析的图像，定义第二结果；对第一结果执行第一逆傅利叶变换，和对第二结果执行第二逆傅利叶变换。第一物体光束透过至少是部分半透明的物体（９４０，１０４５）以及第二物体光束从物体反射。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术总的涉及空间外差干涉测量法(SHI)领域。更具体地，本专利技术涉及用于得到对于透射的空间外差干涉测量法(SHIRT)和对于反射和透射的空间外差干涉测量法(SHIRT)的测量结果的方法和机器。
技术介绍
美国专利No.6,078,392和No.6,525,821涉及直接到数字的全息术(Direct-to-Digital Holography，DDH)。在DDH中，在数字成像设备的表面上在小的角度上反射物体波前与参考波前相组合。小的角度生成一组与反射物体波前空间外差的线性干涉条纹。然后使用傅利叶分析来隔离在外差频率上的图像以及重建复数波前，Voelkl(1999)。DDH是利用傅利叶重建的空间外差干涉测量法的实施方案，用来捕获从物体的表面反射的复数波前。当波前撞击物体表面时表面的形状被嵌入到波前的相位中，并且表面的反射率被包含在反射波的强度中。这个反射波与参考波在数字成像设备处相组合，这样，它们互相干涉，并产生一组线性干涉条纹。这些线性干涉条纹就包含物体波的相位和幅度信息。在傅利叶空间，这个物体波信息显示出以条纹的空间频率附近为中心。在非零频率的波的相位和幅度信息的记录被称本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：通过使用第一参考光束和第一物体光束数字记录包括用于傅利叶分析的空间外差条纹的第一空间外差全息图；通过使用第二参考光束和第二物体光束数字记录包括用于傅利叶分析的空间外差条纹的第二空间外差全息图；通过移位 数字记录的第一空间外差的全息图的第一原始原点，以放置在由在第一参考光束与第一物体光束之间的第一角度定义的第一空间外差载波频率的顶点而傅利叶分析数字记录的第一空间外差全息图，以定义第一分析的图像；通过移位数字记录的第二空间外差的全息图 的第二原始原点，以放置在由在第二参考光束与第二物体光束之间的第二角度定义的第二空间外差载...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：格里高利R汉森，菲利普R宾汉，肯W托宾，
申请(专利权)人：UT巴特勒有限责任公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]