一种并发系统的内部性能评估方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种并发系统的内部性能评估方法和系统，方法包括：向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个状态位置生成相对应的状态标识；基于并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；响应于基于总采样数运行内部性能代码，而在每个状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数；基于每个状态位置的消耗时间周期、本地采样数、和内部性能代码的运行频率确定每个状态位置的消耗时间；基于消耗时间评估每个状态位置的内部性能。本发明专利技术能够快速确定并发系统的性能瓶颈以执行针对性优化。以执行针对性优化。以执行针对性优化。

【技术实现步骤摘要】
一种并发系统的内部性能评估方法和系统


[0001]本专利技术涉及性能评估领域，更具体地，特别是指一种并发系统的内部性能评估方法和系统。

技术介绍

[0002]在SSD(固态硬盘)读写的开发过程中，性能是关注焦点。现有很多测试性能的工具，但只能测试出SSD的整体读写性能，无法知道SSD内部各个模块的运行时间，这就使开发人员无法知道代码哪个模块比较耗性能，无法进行针对性的优化。
[0003]针对现有技术中并发系统内部性能难以评估的问题，目前尚无有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提出一种并发系统的内部性能评估方法和系统，能够快速确定并发系统的性能瓶颈以执行针对性优化。
[0005]基于上述目的，本专利技术实施例的第一方面提供了一种并发系统的内部性能评估方法，包括执行以下步骤：
[0006]向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个状态位置生成相对应的状态标识；
[0007]基于并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；<br/>[0008]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种并发系统的内部性能评估方法，其特征在于，包括执行以下步骤：向内部性能代码中设置多个状态位置，并为每个所述状态位置生成相对应的状态标识；基于所述并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数；响应于基于所述总采样数运行所述内部性能代码，而在每个所述状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数；基于每个所述状态位置的所述消耗时间周期、所述本地采样数、和所述内部性能代码的运行频率确定每个所述状态位置的消耗时间；基于所述消耗时间评估每个所述状态位置的内部性能。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每个所述状态标识是唯一的并且彼此不同。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述并发系统的内存储器容量和内部性能评估的精度需求确定总采样数包括：基于所述并发系统的内存储器容量确定上下文位置索引的最大值；基于内部性能评估的精度需求确定上下文位置索引的最小值；基于上下文位置索引的最大值和最小值确定所述总采样数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，响应于基于所述总采样数运行所述内部性能代码，而在每个所述状态位置依次记录消耗时间周期和本地采样数包括：将从当前采样开始到所述状态位置的消耗时间周期记为当前时间周期；将所述总采样数中的所有当前时间周期叠加获得所述消耗时间周期；将所述总采样数中经历所述状态位置的次数作为所述本地采样数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于每个所述状态位置的所述消耗时间周期、所述本地采样数、和所述内部性能代码的运行频率确定每个所述状态位置的消耗时间包括：基于所述状态位置的所述消耗时间周期与前一状态位置的所述消耗时间周期之差确定所述状态位置的差分消耗时间周期；基于所述差分消耗时间周期与所述本地采样数之商确定平均消耗时间周期；基于平均消耗时间周期与所述运行频率之商确定所述状态位置的消耗时间。6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：范瑞春，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：