一种标准层选取方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种标准层选取方法和装置，该方法包括：在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；计算最小公倍数；通过滑动变窗长扫描的方式确定非标准井的标准层。窗长扫描的方式确定非标准井的标准层。窗长扫描的方式确定非标准井的标准层。

【技术实现步骤摘要】
一种标准层选取方法和装置


[0001]本专利技术涉及地球物理测井
，尤其涉及一种标准层选取方法和装置。

技术介绍

[0002]本部分旨在为权利要求书中陈述的本专利技术的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
[0003]测井标准化处理由于可以消除测井仪器的系统误差，提高井与井的一致性，因此作为储层参数计算和预测不可或缺的基础性工作之一。尤其在老油田、开发区块等密井网区，井数多、井距小，对储层预测提高了更高的精度要求，而标准层的精准选取直接关系到标准化的处理效果。
[0004]目前，曲线标准化思路和方法已经比较成熟，其中标准层的选取是其中的一个关键步骤，标准层选取有四种常见方式：一是按测井地质分层作为约束选取标准层，二是通过制定曲线上的深度选取标准层，三是按地震解释层位作为约束选取标准层，四是利用全井段直接作为标准层。但这些方法由于很难精准识别出同一泥岩层，所以都是一种相对粗略的选取标准层的方法，影响后期反演和储层预测的精度。通过人工拾取标准层虽然能够提高选取精度，但在井多的情况下，工作量比较大，而且易受到人为因素影响。
[0005]因此，如何提供一种新的方案，其能够解决上述技术问题是本领域亟待解决的技术难题。

技术实现思路

[0006]本专利技术实施例提供一种标准层选取方法，实现恶劣标准层的自动准确选取，该方法包括：
[0007]在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；
[0008]根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；
[0009]设定相关系数的截止值；
[0010]获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；
[0011]根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；
[0012]计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；
[0013]根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；
[0014]若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底
数值；
[0015]将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；
[0016]将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；
[0017]根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。
[0018]本专利技术实施例还提供一种标准层选取装置，包括：
[0019]标准井标准层选取模块，用于在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；
[0020]搜索范围确定模块，用于根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；
[0021]相关系数的截止值设定模块，用于设定相关系数的截止值；
[0022]标准井参数获取模块，用于获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；
[0023]非标准井参数确定模块，用于根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；
[0024]最小公倍数计算模块，用于计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；
[0025]相关系数计算模块，用于根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；
[0026]相关系数对比模块，用于若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；
[0027]单次最新非标准井窗长的顶、底数值确定模块，用于将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；
[0028]最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值输出模块，用于将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭
代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；
[0029]非标准井的标准层确定模块，用于根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。
[0030]本专利技术实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种标准层选取方法。
[0031]本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述一种标准层选取方法的计算机程序。
[0032]本专利技术实施例提供的一种标准层选取方法和装置，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种标准层选取方法，其特征在于，包括：在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；根据测井曲线，在标准井的标准层的上端、下端分别确定一个测井地质分层，使研究区范围内所有井的标准层包含在测井地质分层的上下端内，将测井地质分层上下端之间的范围作为搜索范围；设定相关系数的截止值；获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔；根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数；其中，非标准井窗长的顶设置于测井地质分层的上端；计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数；根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，使非标准井窗长内样点个数与标准井标准层窗长内样点个数相同，计算内插样点后标准井与非标准井的相关系数；若相关系数大于设定的截止值，保留当前相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长从测井地质分层的上端整体向下移动一个标准井标准层测井曲线采样间隔，重复计算相关系数，若本次计算的相关系数大于设定截止值且大于上一次计算的相关系数，则将上一次计算的相关系数对应的标准井窗长的顶、底数值舍弃，保留本次计算的相关系数对应的非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长的底下移至测井地质分层的下端，确定单次最新非标准井窗长的顶、底数值；将非标准井的窗长厚度增加一个标准井标准层测井曲线采样间隔，对非标准井窗长厚度和样点个数进行迭代更新，重复获取单次最新非标准井窗长的顶、底数值，直至非标准井的窗长厚度变为两倍的标准井标准层的窗长厚度，输出最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值；根据最终保留的单次最新非标准井窗长的顶、底数值，确定非标准井的标准层。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，包括：在研究区范围内的所有井中进行筛选，将在目的层段内具有良好的井眼条件、相对全面的测井系列、系统的取芯资料、垂向地层沉积连续以及生产测试资料的井作为标准井。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，选取标准井的标准层，包括：在标准井的全部钻井地层中进行筛选，将区域上稳定分布且地球物理相应特征几乎相同的同一泥岩地层作为标准井的标准层。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，包括：获取标准井标准层的顶、底数值，确定标准层标准井的窗长厚度D；获取标准井的测井曲线采样间隔
△
t，结合窗长厚度D，确定样点个数为D/
△
t+1。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据标准井标准层的窗长厚度、样点个数和测井曲线采样间隔，结合搜索范围确定非标准井的窗长厚度和样点个数，包括：将标准井标准层的窗长厚度的一半作为非标准井的窗长厚度D/2；
根据非标准井的窗长厚度D/2和标准井标准层的测井曲线采样间隔
△
t，确定非标准井的样点个数D/(2
·
△
t)+1。6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，计算标准井标准层的样点个数与非标准井窗长的样点个数的最小公倍数，包括：分别将标准井标准层的样点个数D/
△
t+1和非标准井窗长的样点个数D/(2
·
△
t)+1减一；计算减一后标准井标准层的样点个数D/
△
t和减一后非标准井窗长的样点个数D/(2
·
△
t)的最小公倍数Q。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，根据最小公倍数，对非标准井窗长内的测井曲线段和标准井标准层窗长内的测井曲线段，在相邻两点之间按照线性插值法内插样点，包括：根据最小公倍数Q和非标准井的样点个数D/(2
·
△
t)+1，对非标准井窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算非标准井窗长内插样点个数Q/(D/(2
·
△
t))-1，在非标准井窗长的相邻两点之间内插样点；根据最小公倍数Q和标准井标准层的样点个数D/
△
t+1，对标准井标准层窗长内的测井曲线段按照线性插值法计算标准井标准层内插样点个数Q/(D/
△
t)-1，在标准井标准层的相邻两点之间内插样点。8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，按照如下方式，计算相关系数：其中，r为相关系数，X为非标准井窗长内内插后测井曲线段的曲线值；Y为标准井标准层内插样点后测井曲线段的曲线值；N为插值后的样点个数。9.一种标准层选取装置，其特征在于，包括：标准井标准层选取模块，用于在研究区范围内的井中选取一口井作为标准井，其他井作为非标准井，选取标准井的标准层；其中，每一口井均包含有测井曲线；搜索范围确定模块，用于根据测井曲线...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凯，马子涵，张立彬，胡少华，邹振，蔡银涛，
申请(专利权)人：中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司，
类型：发明
国别省市：