【技术实现步骤摘要】
一种高低温环境下的测量误差动态补偿方法
[0001]本专利技术涉及温度补偿
,尤其涉及一种高低温环境下的测量误差动态补偿方法。
技术介绍
[0002]测控装置要求在高、低温运行环境下保证一定的测量精度。装置测量采样回路由电阻、电容等一系列元器件构成,输入的测量采样信号经过这些元器件的传变接入到CPU采集,如图1所示。常温下,可以通过按采样通道设置一个固定的采样系数对传变误差进行补偿;在环境温度变化后,元器件的参数不可避免会发生变化,从而使对应CPU采集的测量值发生变化产生测量误差,温度变化越大,这个误差值越大,一旦这个误差达到一定程度,将导致测量精度不合格。
[0003]针对上述情况,目前的处理方式是选择温度特性较稳定的元器件,去控制由温度变化产生的误差大小,使其在可接受的范围。这种处理方法存在两个缺陷:1是对元器件要求较高,带来设计的困难和成本的上升;2是一旦要求的运行环境温度范围扩大,超出可控制的极限时,将导致测量精度无法满足要求。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中存在的问题,本专利 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高低温环境下的测量误差动态补偿方法,其特征在于,包括:采样回路对某一待采集值采集,获取采样回路标准输出值和在高低温环境下每个温度点下的准确输出值;针对每个温度点计算准确输出值除以标准输出值作为对应温度系数,绘制温度系数随温度变化曲线;对温度系数随温度变化曲线进行拟合,拟合后的曲线存储至测量电路的主控芯片;所述主控芯片在测量过程中,根据反馈的当前温度,由存储的拟合后的曲线获取对应温度系数;接收采样回路输出的测量值,乘以对应温度系数作为补偿后的测量值。2.根据权利要求1所述的高低温环境下的测量误差动态补偿方法,其特征在于,获取采样回路标准输出值和在高低温环境下每个温度点下的准确输出值,具体包括:获取所述采样回路中每个元器件的温度特性曲线;根据每个元器件的温度特性曲线,获取高低温环境下每个温度点下的每个元器件的准确值;固定采集值的大小,根据每个元器件的标定值计算标准输出,根据每个温度点下的每个元器件的准确值计算每个温度点下的准确输出值。3.根据权利要求2所述的高低温环境下的测量误差动态补偿方法,其特征在于,所述反馈的当前温度为所述主控芯片的温度;获取所述主控芯片的温度与采样回路温度的对应关系;将每个温...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨凯,余高旺,蔺立,曹雪兰,李磊,刘树猛,刘志远,郑业兵,
申请(专利权)人:许继电气股份有限公司许昌许继软件技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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