SRM采集的可调停留时间制造技术

本发明专利技术公开一种分析样品的方法，其包含：设置多个跃迁的初始停留时间；在质谱分析期间监测所述跃迁；针对所述多个跃迁中的第一跃迁检测到信号强度高于第一阈值；响应于所述信号强度高于所述第一阈值，增加所述第一跃迁的停留时间；检测到所述第一跃迁的所述信号强度降至低于第二阈值；以及响应于所述信号强度降至低于所述第二阈值，减少所述第一跃迁的所述停留时间。留时间。留时间。

【技术实现步骤摘要】
SRM采集的可调停留时间


[0001]本公开大体上涉及质谱领域，包含单反应监测(SRM)采集的可调停留时间。

技术介绍

[0002]被称为MS/MS的串联质谱法是一种使源自样品的前体离子在受控条件下经受碎片化以产生产物离子的流行且广泛使用的分析技术。产物离子质谱含有可用于结构测定并且用于识别具有高特异性的样品组分的信息。在典型的MS/MS实验中，选择相对少量的前体离子种类进行碎片化，例如，丰度最大的那些离子种类或质荷比(m/z)与包含列表中的值匹配的那些离子种类。
[0003]过滤器型质谱系统可以以同时监测多个前体-产物对或跃迁的方式来使用。由于在任何时候都只能在这种过滤器中分离出一种离子，因此必须在所有可用的跃迁之间拆分可用的分析时间。因此，虽然仪器对某一前体进行取样时可能接近100％占空比，但总体取样效率约为0.1％(例如，对于1000Th的质量范围，分离窗口为1Th)。根据前述内容，应了解，需要用于安排跃迁以使所收集数据的值最大化的改进方法。

技术实现思路

[0004]在第一方面，一种分析样品的方法可以包含：设置多个跃迁的初始停留时间；在质谱分析期间监测所述跃迁；针对所述多个跃迁中的第一跃迁检测到信号强度高于第一阈值；响应于所述信号强度高于所述第一阈值，增加所述第一跃迁的停留时间；检测到所述第一跃迁的所述信号强度降至低于第二阈值；以及响应于所述信号强度降至低于所述第二阈值，减少所述第一跃迁的所述停留时间。
[0005]在第一方面的各种实施例中，增加所述第一停留时间可以导致减少第二停留时间。
[0006]在第一方面的各种实施例中，减少所述第一停留时间可以导致增加第二停留时间。
[0007]在第一方面的各种实施例中，可以相对于所述停留时间重新校准所述信号强度，并且可以在峰持续时间内对响应进行积分，以对与所述第一跃迁相对应的化合物进行定量。
[0008]在第一方面的各种实施例中，对于所述多个跃迁中的每一个跃迁，所述初始停留时间可以相等。
[0009]在第一方面的各种实施例中，所述初始停留时间可以基于所述多个跃迁的预期强度。
[0010]在第一方面的各种实施例中，所述初始停留时间可以基于与所述多个跃迁相对应的化合物的所需检测水平。
[0011]在第一方面的各种实施例中，所述方法可以进一步包含当所述信号强度超出第三阈值时减少所述第一跃迁的所述停留时间。
[0012]在第二方面，一种质谱仪可以包含离子源、四极滤质器、检测器和控制器。所述离子源可以被配置成从样品中产生离子流。所述四极滤质器可以被配置成选择质荷比范围内的离子，并将质荷比范围外的离子从所述离子流中舍弃；以及重复循环与多个跃迁相对应的一系列质荷比，从而在每个质荷比范围上暂停与所述跃迁相对应的停留时间。所述检测器可以被配置成生成与进入的离子流强度成比例的信号。所述控制器可以被配置成：设置所述多个跃迁的初始停留时间；在质谱分析期间监测所述多个跃迁中每一个跃迁的信号强度；针对所述多个跃迁中的第一跃迁检测到信号强度超过第一阈值；响应于所述信号强度高于所述第一阈值，增加所述第一跃迁的停留时间；检测到所述第一跃迁的所述信号强度降至低于第二阈值；以及响应于所述信号强度降至低于所述第二阈值，减少所述第一跃迁的所述停留时间。
[0013]在第二方面的各种实施例中，增加所述第一停留时间可以导致减少第二停留时间。
[0014]在第二方面的各种实施例中，减少所述第一停留时间可以导致增加第二停留时间。
[0015]在第二方面的各种实施例中，所述控制器可以进一步被配置成相对于所述停留时间重新校准所述信号强度，并且在峰持续时间对响应进行积分，以对与所述第一跃迁相对应的化合物进行定量。
[0016]在第二方面的各种实施例中，对于所述多个跃迁中的每一个跃迁，所述初始停留时间可以相等。
[0017]在第二方面的各种实施例中，所述初始停留时间可以基于所述多个跃迁的预期强度。
[0018]在第二方面的各种实施例中，所述初始停留时间可以基于与所述多个跃迁相对应的化合物的所需检测水平。
[0019]在第二方面的各种实施例中，所述控制器可以进一步被配置成当所述信号强度超出第三阈值时减少所述第一跃迁的所述停留时间。
[0020]在第三方面，一种分析样品的方法可以包含：对样品执行初始质谱分析，以获得多个跃迁的信号强度；基于样品的初始质谱分析所确定的所述信号强度，设置所述多个跃迁的停留时间；使用所述停留时间对所述样品执行第二次质谱分析；在所述第二次质谱分析期间测量随时间而变的所述多个跃迁的离子强度；以及基于至少一个峰内的所述离子强度的积分而对与所述多个跃迁相对应的化合物进行定量。
[0021]在第三方面的各种实施例中，对于所述多个跃迁中的每一个跃迁，在所述初始质谱分析期间的所述停留时间可以相等。
[0022]在第三方面的各种实施例中，所述初始质谱分析期间的所述停留时间可以基于所述多个跃迁的预期强度。
[0023]在第三方面的各种实施例中，所述初始质谱分析期间的所述停留时间可以基于与所述多个跃迁相对应的化合物的所需检测水平。
附图说明
[0024]为了更完整地理解本文所公开的原理及其优点，现在参考以下结合附图所作出的
描述，其中：
[0025]图1是根据各种实施例的示例性质谱系统的框图。
[0026]图2、3和4是示出根据各种实施例的确定停留时间的示例性方法的流程图。
[0027]图5是示出根据各种实施例的分析期间的停留时间的时序图。
[0028]图6是示出根据各种实施例的示例性数据分析系统的框图。
[0029]应理解，附图不一定按比例绘制，附图中的对象彼此之间的关系也不一定按比例绘制。附图是为了使本文公开的设备、系统和方法的各种实施例清楚且易于理解而进行的描绘。将贯穿附图尽可能使用相同的附图标记来指代相同或相似的部分。此外，应了解，附图并不旨在以任何方式限制本专利技术教示的范围。
具体实施方式
[0030]本文描述了用于离子分离的系统和方法的实施例。
[0031]本文使用的章节标题仅出于组织的目的，而不应被解释为以任何方式限制所描述的主题。
[0032]在对各种实施例的这种详细描述中，出于解释的目的，阐述了许多具体细节以提供对所公开的实施例的透彻理解。然而，本领域的技术人员将理解，可以在具有或不具有这些具体细节的情况下实践这些各种实施例。在其它情况下，以框图形式展示结构和装置。此外，本领域的技术人员可以容易地理解，呈现和执行方法的特定序列是说明性的，并且设想这些序列可以改变且仍然保持在本文公开的各种实施例的精神和范围内。
[0033]本申请中所引用的包含但不限于专利、专利申请、论文、书籍、专著和互联网网页的所有文献和类似材料出于任何目的以全文引用的方式整体明确地并入。除非另外描述，否则本文所使用的所有技术和科学术语均具有如本文所描述的各种实施例所属领域的普通技术人员通常理解的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分析样品的方法，其包括：设置多个跃迁的初始停留时间；在质谱分析期间监测所述跃迁；针对所述多个跃迁中的第一跃迁检测到信号强度高于第一阈值；响应于所述信号强度高于所述第一阈值，增加所述第一跃迁的停留时间；检测到所述第一跃迁的所述信号强度降至低于第二阈值；响应于所述信号强度降至低于所述第二阈值，减少所述第一跃迁的所述停留时间。2.根据权利要求1所述的方法，其中增加所述第一停留时间导致减少第二停留时间。3.根据权利要求1所述的方法，其中减少所述第一停留时间导致增加第二停留时间。4.根据权利要求1所述的方法，其中相对于所述停留时间重新校准所述信号强度，并且在峰持续时间内对响应进行积分，以对与所述第一跃迁相对应的化合物进行定量。5.根据权利要求1所述的方法，其中对于所述多个跃迁中的每一个跃迁，所述初始停留时间相等。6.根据权利要求1所述的方法，其中所述初始停留时间基于所述多个跃迁的预期强度。7.根据权利要求1所述的方法，其中所述初始停留时间基于与所述多个跃迁相对应的化合物的所需检测水平。8.根据权利要求1所述的方法，其还包括当所述信号强度超出第三阈值时减少所述第一跃迁的所述停留时间。9.一种质谱仪，其包括：离子源，其被配置成从样品中产生离子流；四极滤质器，其被配置成：选择质荷比范围内的离子，并将质荷比范围外的离子从所述离子流中舍弃；以及重复循环与多个跃迁相对应的一系列质荷比，从而在每个质荷比范围上暂停与所述跃迁相对应的停留时间；检测器，其被配置成生成与进入的离子流的强度成比例的信号；控制器，其被配置成：设置所述多个跃迁的初始停留时间；在质谱分析期间监测所述多个跃迁中的每一个跃迁的信号强度；针对所述多个跃迁中的第一跃迁检测到信号强度超过第一阈值；响应于所述信号强度高于所述第一阈值，增加所述第一跃迁的停留时间；检测到所述第一跃迁的...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：萨默费尼根有限公司，
类型：发明
国别省市：