一种双反应位点荧光探针制造技术

技术编号:27568187 阅读:32 留言:0更新日期:2021-03-09 22:14
本发明专利技术公开了一种双反应位点荧光探针,具体化学结构式如下所示:本发明专利技术的荧光探针可用于汞离子、肼的检测。肼的检测。肼的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种双反应位点荧光探针


[0001]本专利技术涉及一种双反应位点荧光探针以及其在检测汞离子、肼中的应用。

技术介绍

[0002]汞广泛存在于食物链和生态环境中。水溶性较好的汞盐都具有剧毒,吸入、接触或误服后均会导致脑和肝损伤。汞离子(Hg
2+
)会转化成甲基汞和二甲基汞,甲基汞比汞离子毒性更大,易被人体吸收,水俣病是甲基汞中毒的一种病症。目前检测汞的分析方法主要有电感耦合等离子体质谱法、二硫腙比色法、冷原子吸收光谱法、原子荧光光谱分析法、电感耦合等离子体发射光谱法等。
[0003]肼(N2H4)是一种强还原剂,在农业、制药和军事工业中发挥着重要作用。肼是一种水溶性化合物,容易造成水污染,并对饮用水及果蔬菜等农产品的安全产生威胁。N2H4可被人体的肺部和皮肤吸收,对人体健康具有高毒性、致突变性和致癌性。
[0004]有机小分子荧光探针检测法由于其具有检测快速、灵敏度高、操作简便等优点,引起了研究者的高度关注,开发一种双功能荧光探针,用于测定汞离子、肼的含量,具有重要的研究意义。
专利技术内容
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双反应位点荧光探针,具体...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨绍祥田红玉刘永国孙宝国武小明王皓李雅楠
申请(专利权)人:北京工商大学
类型:发明
国别省市:

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