本实用新型专利技术涉及光学膜片技术领域，尤其涉及一种用于光学膜片辅助测量装置，包括箱体，所述箱体的内侧设置有多组测磨机构，所述测磨机构包括水平设置在箱体内部的支撑板，所述支撑板的上方设置有连接板，所述连接板的内侧活动插装有连接柱，所述连接柱的底端连接有耐磨板，所述连接柱的外侧套设有弹簧，所述弹簧的上端和下端分别与连接板和耐磨板相抵，所述连接柱的顶端设置有限位盘，所述连接板的一侧共同连接有滑动机构，本实用新型专利技术结构简单，使用较为便利，且可以多层实验测量，大大的提升了生产光学膜片的成品质量。生产光学膜片的成品质量。生产光学膜片的成品质量。
【技术实现步骤摘要】
一种用于光学膜片辅助测量装置
[0001]本技术涉及光学膜片
，尤其涉及一种用于光学膜片辅助测量装置。
技术介绍
[0002]液晶显示器已经广泛的应用于生活中，它的组件包括导光板、上下扩散片等多种光学膜片，以致于光学膜片的生产需要大大的提高，在使用时，光学膜片由于震动等原因，需要对光学膜片进行抽检耐磨测试，测量光学膜片层面的耐磨程度，所以光学膜片的必须具备合格的耐磨性能才能保证成品质量，现有装置结构复杂，且测量效率不高，不便于使用，为此，我们提出一种用于光学膜片辅助测量装置。
技术实现思路
[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在结构复杂，且测量效率不高，不便于使用的问题，而提出的一种用于光学膜片辅助测量装置。
[0004]为达到以上目的，本技术采用的技术方案为：一种用于光学膜片辅助测量装置，包括箱体，所述箱体的内侧设置有多组测磨机构，所述测磨机构包括水平设置在箱体内部的支撑板，所述支撑板的上方设置有连接板，所述连接板的内侧活动插装有连接柱，所述连接柱的底端连接有耐磨板，所述连接柱的外侧套设有弹簧，所述弹簧的上端和下端分别与连接板和耐磨板相抵，所述连接柱的顶端设置有限位盘，多块所述连接板的一侧共同连接有滑动机构。
[0005]优选的，所述滑动机构包括电机，所述电机的底端设置有支撑座，所述支撑座与箱体固定连接，所述电机的输出端连接有螺纹杆，所述螺纹杆的远离电机的一端螺纹连接有滑块，所述滑块的底端设置有限位机构，所述滑块的内侧套装有E型管，所述E型管的端部均与连接板固定连接，所述箱体的前端面开设有适配E型管的滑槽。
[0006]优选的，所述限位机构包括横板，所述横板的一侧与箱体的前端面固定连接，所述滑块滑动连接在横板的顶端，所述横板的端部设置有限位板。
[0007]优选的，所述支撑板的两端均延伸有挡板，所述挡板均与箱体内壁固定连接。
[0008]优选的，所述耐磨板的底端均包裹有钢丝绒摩擦层。
[0009]优选的，所述耐磨板的材质为塑料硬板或者钢化玻璃材料。
[0010]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：通过设置多组测磨机构不仅能便于检测光学膜片的耐磨性，而且提升了检测光学膜片耐磨的效率，从而保证了光学膜片的成品质量，且根据不同光学膜片的厚度进行调节耐磨板，将光学膜片放置在隔板上，连接外部电源驱动电机，即可使得滑块和E型管在光学膜片的表面进行耐磨检测，结构简单，便于使用。
附图说明
[0011]图1为本技术一种用于光学膜片辅助测量装置结构示意图；
[0012]图2为本技术一种用于光学膜片辅助测量装置的局部结构剖视图；
[0013]图3为本技术一种用于光学膜片辅助测量装置的图2中A处放大示意图。
[0014]图中：1、箱体；2、支撑板；3、电机；4、E型管；5、滑块；6、连接板；7、螺纹杆；8、耐磨板；9、横板；10、弹簧；11、连接柱；12、限位盘；13、支撑座；14、滑槽；15、限位板；16、挡板。
具体实施方式
[0015]以下描述用于揭露本技术以使本领域技术人员能够实现本技术。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。
[0016]如图1-图3所示的一种用于光学膜片辅助测量装置，包括箱体1，箱体1的内侧设置有多组测磨机构，测磨机构包括水平设置在箱体1内部的支撑板2，支撑板2的上方设置有连接板6，连接板6的内侧活动插装有连接柱11，连接柱11的底端连接有耐磨板8，连接柱11的外侧套设有弹簧10，弹簧10的上端和下端分别与连接板6和耐磨板8相抵，连接柱11的顶端设置有限位盘12，多块连接板6的一侧共同连接有滑动机构，连接板6起到了支撑和辅助连接柱11以及弹簧10，限位盘12，防止在弹簧10的作用力下让连接板6以及耐磨板8脱离箱体1，连接柱11使得连接板6以及耐磨板8相连接。
[0017]滑动机构包括电机3，电机3的底端设置有支撑座13，支撑座13与箱体1固定连接，电机3的输出端连接有螺纹杆7，螺纹杆7的远离电机3的一端螺纹连接有滑块5，滑块5的底端设置有限位机构，滑块5的内侧套装有E型管4，E型管4的端部均与连接板6固定连接，箱体1的前端面开设有适配E型管4的滑槽14，将电机3连通外部电源，可以驱动螺纹杆7和滑块5以及E型管4水平滑动，从而带动多块连接板6能在光学膜片的表面进行滑动耐磨测试，滑槽14便于E型管4滑动，支撑座13可支撑电机3，使得电机3能与箱体1相连接。
[0018]限位机构包括横板9，横板9的一侧与箱体1的前端面固定连接，滑块5滑动连接在横板9的顶端，横板9的端部设置有限位板15，横板9可以使得滑块5在螺纹杆7的驱动下不会翻转，从而使滑块5仅能水平移动，限位板15防止滑块5与横板9分离，可挡住滑块5移动至横板9的端部。
[0019]支撑板2的两端均延伸有挡板16，挡板16均与箱体1内壁固定连接，挡板16可卡设光学膜片。
[0020]耐磨板8的底端均包裹有钢丝绒摩擦层，钢丝绒摩擦层可在试验光学膜片耐磨性能的同时不对光学膜片的表面刮蹭。
[0021]耐磨板8的材质为塑料硬板或者钢化玻璃材料。
[0022]在工作时，使用者将光学膜片原材放至在各层支撑板2的顶端，弹簧10自身可根据不同光学膜片的厚度进行挤压随后贴合光学膜片的外表面，两侧的挡板16可便于卡设光学膜片，随后，连接外部电源驱动电机3,从而带动螺纹杆7以及滑块5水平方向进行移动，致使耐磨板8在光学膜片的表面进行耐磨测试，随后观察光学膜片表面的摩擦程度，从而得到不同层面的摩擦的高度，随后通过测量工具进行测量数值，即可确定光学膜片耐磨性能是否符合规定。
[0023]以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下本技术还会有各
种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术的范围内。本技术要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于光学膜片辅助测量装置，包括箱体(1)，其特征在于，所述箱体(1)的内侧设置有多组测磨机构，所述测磨机构包括水平设置在箱体(1)内部的支撑板(2)，所述支撑板(2)的上方设置有连接板(6)，所述连接板(6)的内侧活动插装有连接柱(11)，所述连接柱(11)的底端连接有耐磨板(8)，所述连接柱(11)的外侧套设有弹簧(10)，所述弹簧(10)的上端和下端分别与连接板(6)和耐磨板(8)相抵，所述连接柱(11)的顶端设置有限位盘(12)，多块所述连接板(6)的一侧共同连接有滑动机构。2.根据权利要求1所述的一种用于光学膜片辅助测量装置，其特征在于，所述滑动机构包括电机(3)，所述电机(3)的底端设置有支撑座(13)，所述支撑座(13)与箱体(1)固定连接，所述电机(3)的输出端连接有螺纹杆(7)，所述螺纹杆(7)的远离电机(3)的一端螺纹连接有滑块(5)，所述滑块(5)的...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵小强，杨旭，
申请(专利权)人：绵阳虹瑞科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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