检查设定装置及检查设定方法制造方法及图纸

检查设定装置具备判定部和设定部。判定部在图像处理的结果包含于被判定为正常的第一容许范围时，判定图像处理的结果是否包含于第二容许范围，图像处理在对基板作业机对基板产品的生产处理中执行，识别基板产品中包含的构成部位的状态。第二容许范围是比第一容许范围窄的容许范围，且考虑构成部位及图像处理的偏差来设定。设定部在由判定部判定为图像处理的结果不包含于第二容许范围时，将判定的构成部位的检查基准设定得比进行判定之前严格。位的检查基准设定得比进行判定之前严格。位的检查基准设定得比进行判定之前严格。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查设定装置及检查设定方法


[0001]本说明书公开与检查设定装置及检查设定方法相关的技术。

技术介绍

[0002]专利文献1所记载的检查装置具备作业顺序决定部。作业顺序决定部基于对电路基板进行的对电路基板作业的作业信息即对基板作业信息来决定对于电路基板的检查作业的作业顺序。作业顺序决定部例如将利用安装不良率高的吸嘴进行的安装对象、长期间使用的供料器所参与的安装对象等设为发生安装不良的可能性较高的安装对象，选定为检查对象。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献1：日本特开2003-124699号公报

技术实现思路

[0005]专利技术所需解决的课题
[0006]对基板进行预定的作业的对基板作业机在生产基板产品的生产处理中为了担保作业的可靠性而执行图像处理。然而，对基板作业机在图像数据中例如有可能将基板产品中包含的构成部位的附近的异物、辉度的偏差误识别为构成部位。其结果是，对基板作业机在应该判定为异常的图像处理中有可能误判定为正常。在该情况下，在基板产品的检查工序中，需要提高检查精度。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检查设定装置，具备：判定部，在图像处理的结果包含于被判定为正常的第一容许范围时，判定所述图像处理的结果是否包含于第二容许范围，所述图像处理在对基板作业机进行的基板产品的生产处理中执行来识别所述基板产品中包含的构成部位的状态，所述第二容许范围是比所述第一容许范围窄的容许范围，且考虑所述构成部位及所述图像处理的偏差来设定；及设定部，在由所述判定部判定为所述图像处理的结果不包含于所述第二容许范围时，将进行了所述判定的所述构成部位的检查基准设定得比进行所述判定之前严格。2.根据权利要求1所述的检查设定装置，其中，所述设定部设定检查对象设定、检查项目设定及检查方法设定中的至少一个，所述检查对象设定在所述构成部位不是检查对象时将该构成部位设为检查对象，所述检查项目设定追加与所述构成部位相关的检查项目，所述检查方法设定将与所述构成部位相关的检查方法变更为能够进行精度比进行所述判定之前高的检查的检查方法。3.根据权利要求2所述的检查设定装置，其中，所述检查项目是有无检查、位置偏差检查及方向检查中的至少一个，所述有无检查对有无所述构成部位进行检查，所述位置偏差检查对所述构成部位相对于所述构成部位在所述基板产品中应处的预定位置的位置偏差进行检查，所述方向检查对所述基板产品中的所述构成部位的方向进行检查。4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查设定装置，其中，所述第二容许范围考虑由操作所述对基板作业机的操作者指定的指定值及在本次的所述图像处理之前多次执行的所述图像处理的结果的统计值中的至少一方而设定。5.根据权利要求1～4中任一项所述的检查设定装置，其中，在所述图像处理的结果中包含所述图像处理的所需时间，所述判定部判定所述图像处理的所需时间是否包含于所述第二容许范围。6.根据权利要求1～5中任一项所述的检查设定装置，其中，所述构成部位包括基板和安装于所述基板的多个元件，所述图像处理是识别表示所述多个元件中的各元件在所述基板上的位置的坐标值及角度中的至少一方的处理。7.根据权利要求1～6中任一项所述的检查设定装置，其中，所述构成部位包括基板和作为所述基板的定位基准的多个标记部，所述图像处理是识别所述基板上的所述多个标记部的位置关系的处理。8.根据权利要求1～7中任一项所述的检查设定装置，其中，所述构成部位包括基板、作为所述基板的定位基准的多个标记部及安装于所述基板的...

【专利技术属性】
技术研发人员：小林贵纮，天野雅史，横井勇太，鬼头秀一郎，
申请(专利权)人：株式会社富士，
类型：发明
国别省市：