图像形成装置的转印电压控制方法制造方法及图纸

一种图像形成装置的转印电压控制方法包括：提供第一测量电压给第一转印构件和第二转印构件；通过在第一时段期间提供第二测量电压给所述第一转印构件来测量该第一转印构件的电阻变化；以及通过在第二时段期间提供所述第二测量电压来测量该第二转印构件的电阻变化。因此，它能够精确测量转印单元的电阻变化，从而可以设置最佳转印电压。因此，提高了图像形成装置的转印质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般概念涉及一种图像形成装置，更具体地，涉及一种图像形成装置的转印(transfer)电压控制方法。
技术介绍
利用转移感光(transfer photographic)方法的传统图像形成装置可以包 括输送单元、光学转印装置、显影单元、转印单元、定影(fixing)单元和 放电单元。从输送单元拾取的纸张经过显影单元和转印单元，将图像打印在所述纸 张上，通过定影单元将所述图像固定在纸张上，并且通过放电单元从外部对 所述纸张放电。将墨粉粘贴到在光敏介质上形成的潜像上，或者利用每个装置的电势差 将调色图像从光敏介质转印到转印单元上或者从转印单元转印到纸张上。必 须将适当的转印电压提供给转印单元，以便将光敏介质上的调色图像转印到 所述纸张上。在打印之前测量电阻变化和最佳转印电压。所述最佳转印电压 可以大约为+1200V到+1400V。彩色图像形成装置可以包括转印单元，该转印单元包含使用多种色彩来 转印图像的第一转印构件和第二转印构件。近年来，随着对高速彩色图像形 成装置的需求的增加，已经将转印鼓提供为所述第一转印构件以提高打印速 度，并且已经提出了 一种使用非接触显影剂的结构。包含多个转印构件的转印单元存在不能精确测量每个转印构件的电阻 变化的问题。例如，当测量第一转印构件的电阻变化时，通过向第一转印构 件提供500~600V的测量电压并根据电流变化来测量电阻变化。所述电压也 被提供给与第一转印构件相接触的第二转印构件和光敏介质，并且所测量的 第一转印构件的电阻变化包括第二转印构件和光敏介质的电阻值。结果，所 测量的电阻变化可能是不精确的。当通过提供测量电压给第二转印构件来测 量电流变化以识别第二转印构件的电阻变化时，所测量的电阻变化的误差可能增加。由于当没有精确测量第 一 和第二转印构件的电阻变化时无法设置最佳 转印电压，因此需要研究一种用于减少由转印电压误差所引起的转印错误或 者由过压所引起的图像损失的方法。
技术实现思路
本专利技术概念提供了 一种通过测量转印单元的电阻变化来控制最佳电压 的。本专利技术 一般概念的其它方面和效果将在下面的描述中被部分阐述，其部 分将从所述描述中是显而易见的，或者可以通过对本专利技术概念的实践而了解 到。可以通过提供一种来获得本专利技术一般概念的前述和/或其它方面和效果，所述方法包括提供第一测量电压给第 一转印构件和第二转印构件；通过在第一时段T1期间提供第二测量电压给 第一转印构件来测量第一转印构件的电阻变化；以及通过在时段T2期间提供第二测量电压来测量第二转印构件的电阻变化。可以以预定的间隔测量第 一和第二转印构件的电阻变化。 第二测量电压的绝对值可以大于第一测量电压的绝对值，其可以是将第 一测量电压增加预定电压量的结果，并且可以提供2到3次。可以将第一和第二转印构件的电阻变化计算为多个第二测量电压的电 阻变化值的平均值。可以将用于提供增加后的电压给第一转印构件所需要的第一时段设置 为与用于提供增加后的电压给第二转印构件所需要的第二时段不同。 第一转印构件可以是转印鼓，并且第二转印构件可以是转印辊。 也可以通过提供一种来获得本专利技术 一般概念的前述和/或其它方面和效果，所述方法包括提供第一测量电压给 转印鼓和转印辊；通过在第一时段期间提供第二测量电压给转印鼓来测量电 阻变化；将提供给转印鼓的第二测量电压改变为第一测量电压；通过在第二 时段期间提供第二测量电压给转印辊来测量电阻变化；以及释放提供给转印 鼓和转印辊的所述电压。第二测量电压的绝对值可以大于第 一测量电压的绝对值，并且其可以是将第一测量电压增加预定电压量的结果。也可以通过提供一种来获得本专利技术一般概念的前述和/或其它方面和效果。该方法包括提供第一测量电流给转 印鼓和转印辊；通过在第一时段期间向转印鼓提供第二测量电流来测量电阻 变化；将提供给转印鼓的第二测量电流改变为第一测量电流；通过在第二时 段期间向转印辊提供第二测量电流来测量电阻变化；以及释放被提供给转印 鼓和转印辊的电流。所述第二测量电流可以大于所述第 一测量电流。 所述第二测量电流可以是将第 一测量电流增加预定电流量的结果。 也可以通过提供一种图像形成装置来获得本专利技术 一般概念的前述和/或 其它方面和效果，该图像形成装置包括显影单元，显影图像；转印单元， 转印图像并且包含第一转印构件和第二转印构件；高压电源，发送转印电压 给显影单元和转印单元，其中，所述转印电压是分别精确反映所测量的第一 转印构件和第二转印构件的电阻变化的最佳转印电压。也可以通过提供一种用于图像形成装置的转印电压控制单元来获得本 专利技术一般概念的前述和/或其它方面和效果，所述转印电压控制单元包括电 源，提供第一测量电流给第一转印构件和第二转印构件；和测量单元，分别 测量第一转印构件和第二转印构件的电阻变化，其中，通过分别在第一时段 期间提供第二测量电流给第 一 转印构件以及在第二时段期间提供第二测量 电流给第二转印构件的所述电源来测量所述第一转印构件和第二转印构件 的所述变化。也可以通过提供一种来获得本专利技术 一般概念的前述和/或其它方面和效果，所述方法包括通过显影单元显影图 像；通过包含第一转印构件和第二转印构件的转印单元来转印所述图像；以 及提供转印电压给显影单元和转印单元，以便所述转印电压是精确反映所分 别测量的第一转印构件和第二转印构件的电阻变化的最佳转印电压。附图说明根据结合附图对实施例的以下描述，本专利技术 一般概念的这些和/或其它方 面和效果将变得显而易见并且更加容易理解，其中图1是说明根据本专利技术一般概念的示范性实施例的图像形成装置的示意性透视图2A和图2B是说明在根据本专利技术一般概念的示范性实施例的图像形 成装置中、在同时提供电压给传送带和转印辊之后提供测量电压给转印单元 以将转印电压设置为最佳电平的状态的图；以及图3到图5是说明在根据本专利技术一般概念的示范性实施例的图像形成装 置中控制转印电压的方法的流程图。具体实施例方式现在将详细参考本专利技术一般概念的实施例，在附图中说明了它的示例， 其中，全文中相同的参考标号指相同的元件。下面通过参考所述附图描述所 述实施例以便解释本专利技术 一般概念。在下面描述中，即使在不同附图中对相同元件也使用相同的附图标记。 提供在所述说明中所定义的例如详细结构和元件的主题以有助于本专利技术一 般概念的综合理解。因此，显然在没有那些特定定义得主题的情况下也能够 执行本专利技术一般概念。此外，由于不必要的细节会使本专利技术一般概念变得模 糊不清，因此对众所周知的功能和结构不做细致描述。图1是说明根据本专利技术 一般概念的示范性实施例的图像形成装置的示意 性透视图。如图1所示，控制单元100输出控制信号给激光扫描单元110和高压电 源(HVPS) 120。激光扫描单元110根据来自控制单元100的控制信号将显影单元200中 所提供的光敏介质210进行曝光。因此，在光敏介质210上形成潜像，将墨 粉粘贴到其上，并且显影所述潜像。HVPS 120根据控制单元100的控制信号发送转印电压给显影单元200 和转印单元300。转印单元300可以包括第一转印构件310和第二转印构件 320。第一转印构件310可以是转印鼓，并且第二转印构件320可以是转印 辊。可替换地，第一转印构件310可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种图像形成装置的转印电压控制方法，所述方法包括：　　　　提供第一测量电压给第一转印构件和第二转印构件；　　　　通过在第一时段期间提供第二测量电压给所述第一转印构件来测量该第一转印构件的电阻变化；以及　　　　通过在第二时段期间提供所述第二测量电压给所述第二转印构件来测量该第二转印构件的电阻变化。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：庆明浩，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]