本发明专利技术提供一种液晶显示屏测试连接装置，与待测液晶显示屏和测试电路连接，实现对待测液晶显示屏测试，包括：至少一探头走线，分别与待测液晶显示屏的至少一走线对应，至少一探头走线分别与待测液晶显示屏的至少一走线建立电连接，向待测液晶显示屏传输测试电路发出的控制信号。本发明专利技术还提供一种液晶显示屏测试连接装置制作方法。本发明专利技术提供的液晶显示屏测试连接装置及其制作方法操作简单、识别方便，便于生产工人使用；制作难度小，成本相对较低；进行短路检测时避免了金属探针划伤ＩＴＯ走线的缺点；既可用于液晶显示屏的出货检测，也可用于液晶显示屏的来料检测，防止具有短路和／或断路缺陷的液晶显示屏流入下一工序或客户。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示屏测试领域，特别涉及液晶显示屏测试连接装置及 其制作方法。
技术介绍
目前点阵式液晶显示屏应用广泛，这种液晶显示屏电路高度密集，电路导线的最小间隔只有12微米，对IT0玻璃来料、制作过程环境中的灰尘颗粒、 铬板的清洗、生产过程中的工艺控制要求严格，任一环节出现一点问题就会 导致短断路缺陷。为测试上述短断路缺陷，现有一种探针卡测试仪器，在液晶显示屏制作 完成后，将液晶显示屏放在探针卡测试仪器上，使探针卡测试仪器的探针与 液晶显示屏上的IC邦定引线接触导通，通过测试电路驱动液晶显示屏显示全 屏和/或部分测试画面，检测测试画面是否缺划或不正常显示，从而判断液晶 显示屏是否有短断路缺陷。此检测方法方便且直观，多种液晶显示屏只需更换採:针卡即可共用测试电路，缺点是探针卡制作成本高，制作难度大，且与液晶显示屏的IC邦定引线接触的定位难度较大。
技术实现思路
本专利技术目的在于4是供一种液晶显示屏测试连接装置，降低成本及制作难 度，实现安全快捷检测液晶显示。本专利技术提供一种液晶显示屏测试连接装置，与待测液晶显示屏和测试电路连接，实现对待测液晶显示屏测试，包括至少一探头走线，分别与待测 液晶显示屏的至少一走线对应，至少一探头走线分别与待测液晶显示屏的至 少一走线建立电连接，向待测液晶显示屏传输测试电i 各发出的控制信号。优选地，液晶显示屏测试连接装置包括基板和至少一触点，至少一探头 走线分布在基板上，至少一触点分別固定在至少一探头走线的局部，与待测 液晶显示屏的至少 一走线对应。优选地，至少一触点通过固化胶水固定在至少一探头走线上，固化胶水 通过UV光照固化。优选地，至少一触点为金^^。优选地，上述液晶显示屏测试连接装置还包括至少一测试对位标，至少一测试对位标与待测液晶显示屏的至少 一对位标配合对位。本专利技术还提供一种液晶显示屏测试连接装置制作方法，包括印刷探头走线的步骤；布置至少一触点的步骤；和固定至少一触点，连接至少一触点 与至少一探头走线的步骤。优选地，印刷探头走线的步骤包括根据待测液晶显示屏的至少一走线 制作菲林的步骤；根据菲林，在基板上形成与至少一走线对应的探头走线的 步骤。优选地，布置至少一触点的步骤包括根据菲林制作网版的步骤；根据 网版在探头走线的局部涂覆胶水的步骤；在基板上洒布至少一触点，使至少 一触点覆盖#:头走线的步骤。优选地，固定至少一触点，连接至少一触点与至少一探头走线的步骤包 括将至少一触点与局部涂覆胶水的探头走线压紧的步骤；使胶水固化，将 至少一触点固定在探头走线上的步骤；清除未固定在探头走线上的至少一触 点 上述印刷探头走线的步骤还包括根据待测液晶显示屏的至少一对位标， 制作图形分别与至少一对位标对应的菲林的步骤；根据菲林，在基板上形成 与至少 一对位标对应的至少 一测试对位标的步骤。本专利技术提供的液晶显示屏测试连接装置及其制作方法发扬现有探针卡测 试仪器检测方便直观、通用性强的优点，又解决了探针卡测试仪器制作成本 高、难度大及定位难的缺点；操作简单、识别方便，便于生产工人使用；制 作难度小，成本较低，尤其在液晶显示器制造工厂更为方便；进行短断路检 测时，不需要金属探针与液晶显示屏的ITO走线进行直接接触，避免了金属探 针划伤ITO走线的缺点；既可用于液晶显示屏的出货检测，也可用于液晶显示 屏的来料检测，防止具有短路和/或断路缺陷的液晶显示屏流入下一工序或客 户。附图说明图1是本专利技术第 一 实施例的液晶显示屏测试连接装置示意图； 图2是本专利技术第一实施例的液晶显示屏测试连接装置结构示意图； 图3是本专利技术第一实施例纟笨头走线的结构示意图； 图4是本专利技术第三实施例的流程示意图； 图5是本专利技术第四实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施例方式参照图l，示出本专利技术第一实施例的示意图，液晶显示屏测试连接装置2 与待测液晶显示屏l贴合，液晶显示屏测试连接装置2通过导线3与测试电路4 连接，使待测液晶显示屏1与测试电路4电连接。测试电路4发出控制信号，驱动待测液晶显示屏l显示全屏和/或部分测试 画面，检测测试画面是否缺划或不正常显示，从而判断待测液晶显示屏l是否 有短断路缺陷。待测液晶显示屏1包括至少 一走线11和至少一对位标12，其中至少 一走线 11分别为C0M/SEG走线，位于待测液晶显示屏1的IC芯片上方，传输控制信号， 使待测液晶显示屏l显示图像；至少一对位标12分布于待测液晶显示屏1的周 围，用于精确对位。图2示出本专利技术第一实施例结构示意图，液晶显示屏测试连接装置2包括 至少一探头走线22和至少一测试对位标23。结合图l,至少一探头走线22的局 部设有至少一触点223，该局部分别与待测液晶显示屏l的至少一走线ll对应； 至少一探头走线22的另一局部分别与导线3连接，当液晶显示屏测试连接装置 2与待测液晶显示屏1贴合时，至少一触点223分别与待测液晶显示屏1的至少 一走线ll紧密接触，使至少一探头走线22与至少一走线11分别电连接，向待 测液晶显示屏l传输控制信号。至少一测试对位标23分布于液晶显示屏测试连接装置2的周围，分布位置 分别对应于待测液晶显示屏1的至少 一对位标12，与至少 一对位标12配合对 位，实现液晶显示屏测试连接装置2与待测液晶显示屏1的精确对位，使液晶 显示屏测试连接装置2与待测液晶显示屏1贴合时，至少一探头走线22上的至 少 一触点2 2 3正对待测液晶显示屏1的至少 一走线11 。图3示出本专利技术第一实施例探头走线结构示意图。本实施例的液晶显示屏 测试连接装置2包括基板21和至少一触点22 3 ，基板21上分布至少 一探头走线 22，至少一触点223分别固定在至少一探头走线22的局部，与待测液晶显示屏 l的至少一走线ll对应。使用本专利技术的液晶显示屏测试连接装置2对待测液晶显示屏1进行测试的 过程是将液晶显示屏测试连接装置2与待测液晶显示屏1对准贴合，液晶显 示屏测试连接装置2通过导线3与测试电路4连接，使待测液晶显示屏l与测试 电路4电连接。测试电路4发出控制信号，控制信号通过导线3和液晶显示屏测 试连接装置2的至少一探头走线22和至少一触点223传输到待测液晶显示屏1的至少一走线ll,驱动待测液晶显示屏l显示全屏和/或部分测试画面，检测 或观察测试画面，若测试画面出现缺划或不正常显示说明待测液晶显示屏l有 短路和/或断3各缺陷。在上一实施例基础上，本专利技术提出第二实施例，液晶显示屏测试连接装 置2的结构及测试过程与第一实施例类似，故不赘述。本实施例的基板21采用IT0玻璃，其优点在于透明且材质硬，便于进行点接触或面接触，便于实 现精确对位。探头走线22分布在基板21上。至少一触点223采用金球，材 质为金，形状为球状，其导电性和延展性较佳。本实施例每一探头走线22上 分布至少5个金球且位置集中，以保证探头走线22通过金球与对应走线11 紧密接触和导通。本实施例的至少一触点223通过固化胶水固定在探头走线 22的局部，其中固化胶水为UV固化胶水，在探头走线22上的涂覆厚度为5um 左右，通过UV光照固化，实现固定至少一触点223。本实施例导线3为FPC导线，导线3与至少一探头走线22的连接采用LC本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种液晶显示屏测试连接装置，与待测液晶显示屏和测试电路连接，实现对待测液晶显示屏测试，其特征在于，包括：至少一探头走线，分别与待测液晶显示屏的至少一走线对应，所述至少一探头走线分别与待测液晶显示屏的至少一走线建立电连接，向所述待测液晶显示屏传输所述测试电路发出的控制信号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨跃虎，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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