一种电路板工作电流的测试电路和系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种电路板工作电流的测试电路和系统。其中，测试电路，包括：待测电路板、电流表以及定时开关模块，电流表满足预设的精度要求；待测电路板和电流表串联连接构成测试通路，定时开关模块中的第一开关端和第二开关端与电流表并联；定时开关模块，用于在测试通路由断开状态切换至通电状态时，连接第一开关端和第二开关端，以短接电流表；以及，在短接电流表的时间达到预设时间长度之后，断开第一开关端和第二开关端间的连接，以通过电流表测量待测电路板的工作电流。本发明专利技术实施例的技术方案，通过在待测电路板启动时将电流表短接，在保证待测电路板正常启动的同时，实现低功耗模式下的电流高精度测试。低功耗模式下的电流高精度测试。低功耗模式下的电流高精度测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板工作电流的测试电路和系统


[0001]本专利技术实施例涉及电流测试技术，尤其涉及一种电路板工作电流的测试电路和系统。

技术介绍

[0002]随着物联网设备使用越来越广泛，获取物联网设备的运行状态和功耗成为评估物联网设备运行状态的一个重要指标，因此，物联网设备的低功耗电流成为了物联网核心板测试的重要环节。
[0003]现有技术中，常用的方法是将电流表或者万用表连接到电路中来测量电流值，但是由于一些物联网核心板在启动时的工作电流较高，例如，50毫安，而进入低功耗模式时电流较低，例如，60微安，且要进入低功耗模式必须先进入正常启动模式。市场上一般量程大于50毫安的电流表，精度达不到微安级别，而精度达到微安级别的电流表，量程又达不到50毫安，因此，选用高精度电流表时，由于量程太低，导致核心板流过的电流过小，无法正常启动，而选用量程较大的电流表时，电流表精度不够，测量出的电流数据没有太大的参考价值。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种电路板工作电流的测试电路和系统，在待测电路板启动时，采用继电器将电流表短接，并在待测电路板进入低功耗模式时将电流表串联入测试通路中，在保证待测电路板正常启动的同时，实现低功耗模式下的电流高精度测试。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种电路板工作电流的测试电路，所述测试电路包括：待测电路板、电流表以及定时开关模块，所述电流表满足预设的精度要求；
[0006]所述待测电路板和所述电流表串联连接构成测试通路，所述定时开关模块中的第一开关端和第二开关端与所述电流表并联；
[0007]定时开关模块，用于在测试通路由断开状态切换至通电状态时，连接第一开关端和第二开关端，以短接电流表；以及，在短接电流表的时间达到预设时间长度之后，断开第一开关端和第二开关端间的连接，以通过电流表测量待测电路板的工作电流。
[0008]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种电路板工作电流的测试系统，所述测试系统包括：至少两个待测电路板、至少两个电流表、至少两个受控开关和一个定时触发器件，所述电流表满足预设的精度要求；
[0009]所述定时触发器件分别与所述至少两个受控开关相连，各待测电路板各自与对应的电流表串联构成至少两个测试通路，各受控开关中的第一开关端和第二开关端各自与对应的测试通路中的电流表并联；
[0010]所述定时触发器件，用于在所述至少两个测试通路由断开状态切换至通电状态时，向至少一个受控开关发送闭合控制信号，以及，在短接电流表的时间达到预设时间长度之后，向所述受控开关发送断开控制信号；
[0011]所述受控开关，用于在接收到闭合控制信号时，连接第一开关端和第二开关端，以及在接收到断开控制信号时，断开第一开关端和第二开关端之间的连接。
[0012]本专利技术实施例的技术方案中，电路板工作电流的测试电路包括待测电路板、电流表以及定时开关模块，待测电路板和电流表串联连接构成测试通路，定时开关模块中的第一开关端和第二开关端与电流表并联，定时开关模块用于在测试通路由断开状态切换至通电状态时，连接第一开关端和第二开关端，以短接电流表，以及，在短接电流表的时间达到预设时间长度之后，断开第一开关端和第二开关端间的连接，以通过电流表测量待测电路板的工作电流，解决了现有技术中电流表量程和精度不能同时满足使用需求的问题，在保证待测电路板正常启动的同时，实现低功耗模式下的电流的高精度测试。
附图说明
[0013]图1是本专利技术实施例一中的电路板工作电流的测试电路的结构示意图；
[0014]图2是本专利技术实施例二中的电路板工作电流的测试电路的结构示意图；
[0015]图3是本专利技术实施例三中的电路板工作电流的测试电路的结构示意图；
[0016]图4是本专利技术实施例四中的电路板工作电流的测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0017]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0018]实施例一
[0019]图1为本专利技术实施例一中的一种电路板工作电流的测试电路的结构示意图，本实施例的技术方案适用于在初始电流较大，待测试电流较小且精度要求较高的电路中进行电流测试的情况，尤其适用于物联网核心板，即物联网设备中的微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)核心板。该测试电路包括：待测电路板1、电流表2以及定时开关模块3，所述电流表2满足预设的精度要求。
[0020]本实施例中，针对待测电路板1启动过程中流过的电流较大，而进入低功耗模式工作时流过的电流较小的情况，使用一般电流表进行电流测量时，若选用量程较大的电流表，可以保证待测电路板1正常启动，但是进入低功耗模式时，测试精度较低，测试数据没有参考价值；若选用量程较小的电流表，虽然可以满足对测量精度的需求，但是流过电流表的电流较小，导致与电流表串联的待测电路板1无法正常启动。针对上述问题，本实施例提供的测试电路中包含待测电路板1、电流表2以及定时开关模块3，其中，电流表2的测量精度满足预设的精度要求，例如，待测电路板在低功耗模式下，电流为6微安左右，则电流表精度为微安级别。定时开关模块3与电流表2并联，以实现在待测电路板1启动过程中将电流表2短路，使待测电路板1正常启动。
[0021]可选的，电流表2的精度是微安级别。可选地，待测电路板1正常启动时的启动电流的强度高于微安级别，例如在毫安或者安的级别。示例性地，对于低功耗工作电流为6微安左右，启动时工作电流为50毫安左右的核心板，可以采用量程为50微安，精度为0.1微安的电流表。
[0022]所述待测电路板1和所述电流表2串联连接构成测试通路，所述定时开关模块3中的第一开关端321和第二开关端322与所述电流表2并联。
[0023]其中，待测电路板1和电流表2串联构成电流测试通路，定时开关模块3通过第一开关端321和第二开关端322与电流表2并联，以控制电流表2在需要测量通路电流时接入测试通路，不影响待测电路板1的正常启动。应理解，除待测电路板1和电流表2以外，上述测试通路中还可以包括其他可能的元器件，本申请对此不作限定。
[0024]定时开关模块3，用于在测试通路由断开状态切换至通电状态时，连接第一开关端321和第二开关端322，以短接电流表2；以及，在短接电流表2的时间达到预设时间长度之后，断开第一开关端321和第二开关端322间的连接，以通过电流表2测量待测电路板的工作电流。
[0025]本实施例中，定时开关模块3用于在用户将待测电路板1接入测试通路时，即测试通路由断开状态切换至通电状态时，连接第一开关端321和第二开关端322，此时，电流表2被短接，不会影响待测电路板1的正常启动，与此同时，定时开关模块3按照设定时间长度开始计时，并在计时结束后，断开第一开关端321和第二开关端32本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板工作电流的测试电路，其特征在于，包括：待测电路板、电流表以及定时开关模块，所述电流表满足预设的精度要求；所述待测电路板和所述电流表串联连接构成测试通路，所述定时开关模块中的第一开关端和第二开关端与所述电流表并联；定时开关模块，用于在测试通路由断开状态切换至通电状态时，连接第一开关端和第二开关端，以短接电流表；以及，在短接电流表的时间达到预设时间长度之后，断开第一开关端和第二开关端间的连接，以通过电流表测量待测电路板的工作电流。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述定时开关模块包括：定时触发器件以及受控开关，所述定时触发器件与所述受控开关的控制端相连，所述受控开关包括所述第一开关端和所述第二开关端；定时触发器件，用于在测试通路由断开状态切换至通电状态时，向所述受控开关发送闭合控制信号，以及，在短接电流表的时间达到预设时间长度之后，向所述受控开关发送断开控制信号；受控开关，用于在接收到闭合控制信号时，连接第一开关端和第二开关端，以及在接收到断开控制信号时，断开第一开关端和第二开关端间的连接。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述定时触发器件为定时继电器，所述受控开关为受控继电器；所述定时继电器包括供电端、常开端、常闭端和公共端，所述受控继电器包括控制端、常开端、常闭端和公共端；所述定时继电器的公共端与所述受控继电器的控制端相连，所述受控继电器的常闭端和公共端分别作为第一开关端和第二开关端与所述电流表并联。4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，还包括电路板托盘，用于安装所述待测电路板，使安装于所述电路板托盘中的待测电路板与电流表构成测试通路。5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，还包括触发开关，所述触发开关与所述定时继电器相连；所述触发开关在所述待测电路板安装于电路板托盘时被触发，为所述定时继电器的供电端提供高电平。6.根据权利要求1-5任一项所述的测试电路，其特征在于，还包括电源，所述电源连接于所述待测电路板和电流表串联构成的测试通路中，为所述测试通路提供电源。7...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙吉平，刘长虎，
申请(专利权)人：北京深思数盾科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：