光通道识别方法、装置、光通信监测设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:27465475 阅读:27 留言:0更新日期:2021-03-02 17:27
本发明专利技术实施例提供一种光通道识别方法、装置、光通信监测设备及存储介质,通过将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱,其中,卷积预处理信号为波形对称的脉冲信号经一阶微分处理得到,且脉冲信号的时域宽度与对一个光通道的扫描时间匹配。随后,对卷积谱进行二阶差分处理得到二阶差分处理结果,并利用二阶差分处理结果的符号确定波峰波谷的频率位置,实现光通道识别。由于光通道识别方案在进行光通道识别的时候,无须进行导频标记,因此不会影响光通道对业务信号的传输性能。另一方面,光通道识别方案对光通道监测仪的频谱分辨率要求不高,不会增加光通道识别的成本,能够在保证低硬件成本的基础上提升光通道的识别率。通道的识别率。通道的识别率。

【技术实现步骤摘要】
光通道识别方法、装置、光通信监测设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及光通信
,尤其涉及一种光通道识别方法、装置、光通信监测设备及存储介质。

技术介绍

[0002]OPM(Optical Performance Monitoring,光性能监测)技术是实现未来动态、透明、灵活光网络的关键使能技术,准确的光通道识别是实现不同业务光性能监测的基础。在超100G DWDM(Dense Wavelength Division Multiplexing,密集波分复用)系统中,波特率的增加和通道栅格的减小导致相邻通道频谱交叠严重,尤其是在相邻光通道功率差较大时,小功率光通道频谱容易被相邻的大功率光通道频谱串扰和背景噪声淹没,从而导致无法识别的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供的光通道识别方法、装置、光通信监测设备及存储介质,主要解决的技术问题是:如何实现DWDM系统中光通道的识别。
[0004]为解决上述技术问题,本专利技术实施例提供一种光通道识别方法,包括:
[0005]将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱,卷积预处理信号为波形对称的脉冲信号经一阶微分处理得到,脉冲信号的时域宽度与对一个光通道的扫描时间匹配;
[0006]对卷积谱进行二阶差分处理得到二阶差分处理结果;
[0007]利用二阶差分处理结果的符号确定波峰波谷的频率位置,实现光通道识别。
[0008]本专利技术实施例还提供一种光通道识别装置,包括:
[0009]处理控制模块,用于将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱,卷积预处理信号为波形对称的脉冲信号经一阶微分处理得到,脉冲信号的时域宽度与对一个光通道的扫描时间匹配,处理控制模块还用于对卷积谱进行二阶差分处理得到二阶差分处理结果;并利用二阶差分处理结果的符号确定波峰波谷的频率位置,实现光通道识别。
[0010]本专利技术实施例还提供一种光通信监测设备,光通信监测设备包括处理器、存储器及通信总线;
[0011]通信总线用于实现处理器和存储器之间的连接通信;
[0012]处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个程序,以实现上述光通道识别方法的步骤。
[0013]本专利技术实施例还提供一种存储介质,存储介质存储有一个或者多个程序,一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现上述光通道识别方法的步骤。
[0014]本专利技术的有益效果是:
[0015]本专利技术实施例提供的光通道识别方法、装置、光通信监测设备及存储介质,通过将
卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱,其中,卷积预处理信号为波形对称的脉冲信号经一阶微分处理得到,且脉冲信号的时域宽度与对一个光通道的扫描时间匹配。随后,对卷积谱进行二阶差分处理得到二阶差分处理结果,并利用二阶差分处理结果的符号确定波峰波谷的频率位置,实现光通道识别。由于本专利技术实施例提供的光通道识别方案在进行光通道识别的时候,无须进行导频标记,因此不会影响光通道对业务信号的传输性能。另一方面,光通道识别方案对光通道监测仪的频谱分辨率要求不高,不会增加光通道识别的成本,能够在保证低硬件成本的基础上提升对DWDM中光通道的识别率。而且,本专利技术实施例提供的光通道识别方案对色散和非线性不敏感,与业务信号调制码型无关,因此具有广阔的应用场景。
[0016]本专利技术其他特征和相应的有益效果在说明书的后面部分进行阐述说明,且应当理解,至少部分有益效果从本专利技术说明书中的记载变的显而易见。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例一中提供的光通道识别方法的一种流程图;
[0018]图2为本专利技术实施例一中提供的获取光谱信号的一种流程图;
[0019]图3为本专利技术实施例一中提供的生成卷积预处理信号的一种流程图;
[0020]图4为本专利技术实施例一中提供的光通信监测设备获取卷积谱的一种流程图;
[0021]图5为本专利技术实施例一中提供的光通信监测设备对卷积谱的二阶差分处理的一种流程图;
[0022]图6为本专利技术实施例二中提供的光通道识别装置的一种结构示意图;
[0023]图7为本专利技术实施例二中提供的光通道识别装置的另一种结构示意图;
[0024]图8为本专利技术实施例二中提供的卷积信号生成模块的一种结构示意图;
[0025]图9为本专利技术实施例三中提供的光通道识别装置的一种结构示意图;
[0026]图10为本专利技术实施例三中提供的DWDM系统中光通道识别装置的一种部署示意图;
[0027]图11为本专利技术实施例三中光通道识别装置采集的光谱信号的一种波形示意图;
[0028]图12为本专利技术实施例三中光通道识别装置获取的卷积谱的一种波形示意图;
[0029]图13为本专利技术实施例三中光通道识别装置获取的符号谱的一种波形示意图;
[0030]图14为本专利技术实施例四中提供的光通信监测设备的一种硬件结构示意图。
具体实施方式
[0031]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,下面通过具体实施方式结合附图对本专利技术实施例作进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。
[0032]实施例一:
[0033]在DWDM系统中,为了对光通道进行识别,相关技术中提供了如下两种典型的方案:
[0034]方案一:
[0035]在发射端给业务波长插入导频标记,通过在监测点检测导频来识别不同的业务通道,实现光通道的识别。不过,这种方法往往容易受到业务信号串扰、色散和非线性的影响,在超100G DWDM系统中难以实现,而且会增加额外频谱开销甚至会劣化光通道对业务信号
的传输性能。
[0036]方案二:
[0037]通过商用光通道监测仪(Optical Channel Monitor,OCM)扫描全波段业务采集数字频谱序列,然后计算数字频谱序列的二阶差分,根基二阶差分计算结果锁定波峰波谷,实现光通道的识别。这种光通道识别方案对OCM的频谱分辨率要求较高,但受成本限制,商用OCM频谱分辨率普遍偏低,难以满足要求,且这种识别方案对测量扰动与背景噪声很敏感,在超100G DWDM系统中相邻通道功率差较大的时候,对小功率通道的识别往往不够准确。
[0038]所以,为了在不增加成本的基础上,准确地对光通道进行识别,本实施例提供一种光通道识别方法,该光通道识别方法可以由光通信监测设备实现,请参见图1示出的流程图:
[0039]S102:将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱。
[0040]可以理解的是,光通信监测设备在对卷积预处理信号与光谱信号进行卷积处理之前,应当先获取到监测点的光谱信号。监测点的光谱信号是指通过对监测点的光谱进行扫描等处理得到的光谱信号,而卷积预处理信号实际就是与监测点的光谱信号进行卷积的卷积核,其是通过对脉冲信号进行一阶微分处理得到本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光通道识别方法,包括:将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱,所述卷积预处理信号为波形对称的脉冲信号经一阶微分处理得到,所述脉冲信号的时域宽度与对一个光通道的扫描时间匹配;对所述卷积谱进行二阶差分处理得到二阶差分处理结果;利用所述二阶差分处理结果的符号确定波峰波谷的频率位置,实现光通道识别。2.如权利要求1所述的光通道识别方法,其特征在于,所述脉冲信号为高斯脉冲信号,所述将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱之前,还包括:在对所述监测点的光谱进行扫描的同时产生高斯脉冲信号;对所述高斯脉冲信号进行一阶微分处理得到卷积预处理信号。3.如权利要求1所述的光通道识别方法,其特征在于,所述脉冲信号的时域宽度为对一个光通道的扫描时间的0.5~2倍。4.如权利要求1所述的光通道识别方法,其特征在于,所述将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱之前,还包括:对所述监测点的全波段光谱按不同中心频率进行扫描;将不同中心频率下扫描得到的光功率信号进行结合得到时域光谱;将所述时域光谱转换到频域得到光谱信号。5.如权利要求4所述的光通道识别方法,其特征在于,所述对所述监测点的全波段光谱按不同中心频率进行扫描包括:对于某一中心频率,按照所述中心频率对所述监测点的全波段光谱进行扫描;检测所述中心频率对应的光功率并进行光电转换得到模拟的光功率信号;将所述模拟的光功率信号转换为数字的光功率信号。6.如权利要求1-5任一项所述的光通道识别方法,其特征在于,所述将卷积预处理信号与监测点的光谱信号进行卷积处理得到卷积谱包括:将所述光谱信号与所述卷积预处理信号进行卷积处理得到中间卷积结果;将所述中间卷积结果与所述卷积预处理信号再次进行卷积处理得到卷积谱。7.如权利要求1-5任一项所述的光通道识别方法,其特征在于,所述对所述卷积谱进行二阶差分处理得到二阶差分处理结果包括:对所述卷积谱进行一阶差分处理;计算一阶差分处理结果的符号函数序列;对所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴琼朱晓宇叶斐
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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