一种光路校准工具及光路校准方法技术

技术编号:27455501 阅读:24 留言:0更新日期:2021-02-25 04:54
本发明专利技术公开了一种光路校准工具及光路校准方法,其属于激光设备的校准技术领域,光路校准工具包括底座及校准主体,所述底座可拆卸连接于工作台的上表面,激光设备的光路系统设置于所述工作台的上表面;校准主体设置于所述底座上,且所述校准主体上具有校准区域,所述校准区域的中心具有圆孔结构,所述圆孔结构至所述底座下表面的距离,等于所述激光设备的光路系统中的光学元件的光学中心至所述工作台的上表面的距离。本发明专利技术提供的光路校准工具及光路校准方法具有较高的准确度,使得激光设备的光路系统的安装误差较小,保证了后期生产出的产品的质量,且光路校准工具的结构较简单,成本较低,便于使用。便于使用。便于使用。

【技术实现步骤摘要】
一种光路校准工具及光路校准方法


[0001]本专利技术涉及激光设备的校准
,尤其涉及一种光路校准工具及光路校准方法。

技术介绍

[0002]目前P型单多晶PERC电池片技术已成为市场上的主流,PERC电池叠加选择性发射极(selective emitter;SE)技术是一种具有高转化效率、与电池片产线兼容强、耗费成本低的技术手段,被广泛应用于太阳能电池领域。其中,叠加SE技术是通过激光掺杂技术实现的,因此,对于激光设备的光路系统的校准直接影响着PERC电池生产的精度及稳定性。
[0003]激光设备的光路系统通常包括激光器、两个反射镜、光闸、扩束镜、衍射元件、光澜及振镜等光学元件,当激光发出的光束能够同时通过两个反射镜、光闸、扩束镜、衍射元件、光澜及振镜的光学中心,则可以确定激光设备的光路系统具有较高的准直度,激光能量损失达到最低且加工光斑无异常。现有技术中,在校准激光设备的光路系统时,需要打开激光器,使激光器发射激光光束,并依次通过两个反射镜、光闸、扩束镜、衍射元件、光澜及振镜,通过肉眼在振镜处观察振镜上的光斑是否在振镜的光学中心处,以确定激光设备的光路系统的准直度,当振镜处的光斑没有在振镜的光学中心处,需要通过肉眼观察激光光束并同时调整每个光学元件的位置。可见,现有技术中校准激光设备的光路系统的方式存在较大的误差,进而导致激光设备的光路系统具有较大的安装误差,影响了后期生产出的产品的质量。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种光路校准工具及光路校准方法,具有较高的准确度,使得激光设备的光路系统的安装误差较小,保证了后期生产出的产品的质量。
[0005]如上构思,本专利技术所采用的技术方案是:
[0006]一种光路校准工具,包括:
[0007]底座,所述底座可拆卸连接于工作台的上表面,激光设备的光路系统设置于所述工作台的上表面;
[0008]校准主体,设置于所述底座上,且所述校准主体上具有校准区域,所述校准区域的中心具有圆孔结构,所述圆孔结构至所述底座下表面的距离,等于所述激光设备的光路系统中的光学元件的光学中心至所述工作台的上表面的距离。
[0009]可选地,所述校准主体的表面具有经氧化处理形成的黑色涂层。
[0010]可选地,所述校准区域的形状为圆形,所述圆孔结构位于所述校准区域的圆心。
[0011]可选地,所述校准区域上设有十字校准条,所述十字校准条上设有刻度,所述圆孔结构位于所述十字校准条的中心。
[0012]可选地,还包括定位销,所述定位销固定于所述底座的底部,所述定位销用于插设于所述工作台上的定位孔中。
[0013]可选地,所述底座和所述校准主体两者中,一个上设有滑槽,另一个上设有滑块,所述滑块滑动设置于所述滑槽中,且所述滑块与所述滑槽过盈配合。
[0014]可选地,还包括伸缩件,所述伸缩件固定于所述底座上,所述校准主体安装于所述伸缩件的伸缩端。
[0015]一种光路校准方法,用于上述的光路校准工具,所述激光设备的光路系统包括均设置于工作台上的激光器、第一反射镜、第二反射镜、辅助元件及振镜,所述激光器与所述第一反射镜沿第一水平方向排布,所述第二反射镜与所述第一反射镜沿垂于所述第一水平方向的第二水平方向排布,所述第二反射镜、所述辅助元件及所述振镜沿所述第一水平方向依次排布,所述光路校准方法包括如下步骤:
[0016]S1、将辅助元件从所述工作台上拆除;
[0017]S2、将所述光路校准工具放置于所述第一反射镜与所述第二反射镜之间的第一预设位置;
[0018]S3、调节所述第一反射镜的反射角度,直至由所述第一反射镜反射的激光光束完整穿过校准主体上的圆孔结构;
[0019]S4、将所述光路校准工具放置于所述第二反射镜与所述振镜之间的第二预设位置;
[0020]S5、调节所述第二反射镜的反射角度,直至由所述第二反射镜反射的激光光束完整穿过所述校准主体上的圆孔结构;
[0021]S6、重复执行步骤S2~步骤S5若干次;
[0022]S7、安装所述辅助元件,并调节所述辅助元件的位置,直至所述第二反射镜反射的激光光束完整通过所述辅助元件的光学中心。
[0023]可选地,在步骤S1之后,所述光路校准方法还包括:
[0024]将所述光路校准工具放置于所述激光器与所述第一反射镜之间的第三预设位置;
[0025]调节所述激光器的位置或调节所述校准主体的位置,直至由所述激光器发出的激光光束完整穿过所述校准主体上的圆孔结构。
[0026]可选地,所述辅助元件包括沿所述第一水平方向依次设置的光闸、扩束镜、衍射元件及光澜,所述光闸较所述扩束镜靠近所述第二反射镜,步骤S7包括:
[0027]S71、将所述光闸安装于所述第二反射镜与所述光路校准工具之间;
[0028]S72、调节所述光闸的位置,直至由所述第二反射镜反射的激光光束通过所述光闸后完整穿过所述校准主体上的圆孔结构;
[0029]S73、将所述扩束镜安装于所述光闸与所述光路校准工具之间;
[0030]S74、调节所述扩束镜的位置及俯仰角度,直至通过所述光闸的激光光束通过所述扩束镜后完整穿过所述校准主体上的圆孔结构;
[0031]S75、将所述衍射元件安装于所述扩束镜与所述光路校准工具之间;
[0032]S76、调节所述衍射元件的位置及俯仰角度,直至通过所述扩束镜的激光光束通过所述衍射元件后完整穿过所述校准主体上的圆孔结构;
[0033]S77、将所述光澜安装于所述衍射元件与所述光路校准工具之间;
[0034]S78、调节所述光澜的位置,直至通过所述衍射元件的激光光束通过所述光澜后完整穿过所述校准主体上的圆孔结构。
[0035]本专利技术至少具有如下有益效果:,
[0036]本专利技术提供的光路校准工具及光路校准方法中,先将辅助元件从工作台上拆除,然后将光路校准工具放置于第一反射镜与第二反射镜之间,接下来调节第一反射镜的反射角度,直至由第一反射镜反射的激光光束完整穿过校准主体上的圆孔结构,以完成对第一反射镜的校准,之后,将光路校准工具放置于第二反射镜与振镜之间,并调节第二反射镜的反射角度,直至由第二反射镜反射的激光光束完整穿过圆孔结构,以完成对第二反射镜的校准,最后将辅助元件安装在工作台上,并调节辅助件的位置,直至激光光束能够通过辅助元件的光学中心,实现了对激光设备的光路系统的校准,且相较于观察激光光束通过光学元件的光学中心,本专利技术中通过观察激光光束是否完整穿过圆孔结构的校准方式具有较高的准确度,更便于观察,进而使得激光设备的光路系统的安装误差较小,且光路校准工具的结构较简单,成本较低,便于使用。
附图说明
[0037]图1是本专利技术实施例一提供的一种光路校准工具的结构示意图;
[0038]图2是本专利技术实施例一提供的另一种光路校准工具的结构示意图;
[0039]图3是本专利技术实施例一提供的又一种光路校准工具本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光路校准工具,其特征在于,包括:底座(1),所述底座(1)可拆卸连接于工作台的上表面,激光设备的光路系统设置于所述工作台的上表面;校准主体(2),设置于所述底座(1)上,且所述校准主体(2)上具有校准区域(21),所述校准区域(21)的中心具有圆孔结构(3),所述圆孔结构(3)至所述底座(1)下表面的距离,等于所述激光设备的光路系统中的光学元件的光学中心至所述工作台的上表面的距离。2.根据权利要求1所述的光路校准工具,其特征在于,所述校准主体(2)的表面具有经氧化处理形成的黑色涂层。3.根据权利要求1所述的光路校准工具,其特征在于,所述校准区域(21)的形状为圆形,所述圆孔结构(3)位于所述校准区域(21)的圆心。4.根据权利要求1所述的光路校准工具,其特征在于,所述校准区域(21)上设有十字校准条(211),所述十字校准条(211)上设有刻度,所述圆孔结构(3)位于所述十字校准条(211)的中心。5.根据权利要求1所述的光路校准工具,其特征在于,还包括定位销(4),所述定位销(4)固定于所述底座(1)的底部,所述定位销(4)用于插设于所述工作台上的定位孔中。6.根据权利要求1所述的光路校准工具,其特征在于,所述底座(1)和所述校准主体(2)两者中,一个上设有滑槽,另一个上设有滑块,所述滑块滑动设置于所述滑槽中,且所述滑块与所述滑槽过盈配合。7.根据权利要求1所述的光路校准工具,其特征在于,还包括伸缩件,所述伸缩件固定于所述底座(1)上,所述校准主体(2)安装于所述伸缩件的伸缩端。8.一种光路校准方法,用于权利要求1-7任一项所述的光路校准工具,所述激光设备的光路系统包括均设置于工作台上的激光器、第一反射镜、第二反射镜、辅助元件及振镜,所述激光器与所述第一反射镜沿第一水平方向排布,所述第二反射镜与所述第一反射镜沿垂于所述第一水平方向的第二水平方向排布,所述第二反射镜、所述辅助元件及所述振镜沿所述第一水平方向依次排布,其特征在于,所述光路校准方法包括如下步骤:S1、将辅助元...

【专利技术属性】
技术研发人员:王建周芳超
申请(专利权)人:横店集团东磁股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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