【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微纳制造
,涉及一种全禁带三维光子晶体的 压印成型制造方法及全禁带三维光子晶体结构。
技术介绍
光子晶体根据其介电常数在空间中的分布情况可分为一维、二 维和三维光子晶体。三维光子晶体的结构包括晶体的几何构形与介质 的填充比例。常见的晶体几何构形包括面心立方、体心立方、密堆六 方结构等。其中面心立方结构最有利于得到完全光子禁带。三维光子 晶体的制造目前主要采取两种基本方式。 一种是自上而下的加工方 式,包括机械法和半导体加工法等。机械法指利用微加工相关技术如 打孔等方式对材料进行机械加工,制得三维光子晶体。半导体加工法 指在基材上制备介质层,再采用半导体加工技术获得所需的二维结 构,并逐层叠加,即可得到三维光子晶体。另一种是自下而上的加工 方式,即自组装法。自组装法是指利用包括氢键、范德华力等非共价 作用,利用重力自然沉降的方法,使单分散胶体颗粒自发组织成光子 晶体结构,这种方法是目前三维光子晶体加工所采取的主要方法。选 取适合的单分散胶体颗粒和实验条件,即可通过自组装方法制得三维 光子晶体结构。自上而下的加工方式,难以加工单元结构更小、适用 ...
【技术保护点】
一种全禁带三维光子晶体的纳米压印制作方法,包括下列步骤:步骤一、制备压印模板(1),使其凸起部分(2)符合面心立方111面(5)上的基元位置,在压印模板(1)上溅射沉积金属薄层(3),并用特氟龙层(4)遮蔽压印模板凹陷部分的金属薄层(3);步骤二、首先在平面基材(6)表面上均匀涂铺一层液态高分子聚合物基体材料(7),待其自由流平;步骤三、采用电晕荷电方式处理单分散胶体颗粒(8),使单分散胶体颗粒(8)表面分布有负电荷(9);步骤四、外接高压电源,压印模板凸起部分(2)即带正电荷(10),使压印模板凸起部分(2)吸附带有负电荷(9)的单分散胶体颗粒(8);步骤五、采用微接触式 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘洪忠,丁玉成,李欣,蒋维涛,连芩,卢秉恒,
申请(专利权)人:西安交通大学,
类型:发明
国别省市:87[中国|西安]
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