一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置制造方法及图纸

技术编号:27431224 阅读:22 留言:0更新日期:2021-02-21 15:04
本实用新型专利技术公开了一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置,包括工作台和闪烁探测器,所述工作台顶端一侧固定设有X射线发生器,所述工作台顶端另一侧固定设有角度仪,所述X射线发生器上设置有X光闸,所述闪烁探测器通过连接块固定设置在所述角度仪上,且所述闪烁探测器位于所述X射线发生器对侧,所述闪烁探测器与所述X射线发生器对应电信号连接,所述角度仪顶端设有升降机构,所述升降机构顶端设有转动电机,所述转动电机的输出端连接有转杆。有益效果:提前拉动圆杆,使其伸缩弹簧缩短,从而将被测晶片放在陶瓷板之间,用手扶持,再通过伸缩弹簧复位伸长,从而两个陶瓷板夹紧被测晶,同时也便于拆卸。同时也便于拆卸。同时也便于拆卸。

【技术实现步骤摘要】
一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置


[0001]本技术涉及宝石晶向领域,具体来说,涉及一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置。

技术介绍

[0002]生长出来的蓝宝石单晶晶坨,先找出晶向,加工成规定的各种直径晶锭,再加工成晶片,加工后的蓝宝石单晶晶片,需要进行晶体缺陷及晶向角度的复检,在找出有缺陷的晶片同时进行晶片的晶向角度复核检验。传统的蓝宝石晶体晶向角度复检,采用的是由工作台、上盖板、大型高压变压器、电器柜、测角仪等组成的蓝宝石单晶定向仪进行的,采用的方法是:通过定向仪X射线经蓝宝石单晶晶片反射后的信号,被金属管接收放大,直接在微安表找出X射线的峰值,判定蓝宝石单晶晶片的晶向角度正确性,但由于X光波无效波长干扰,晶体测量角度范围窄、缺陷检测漏检率高、角度及晶向测量精度低、复检工作效率低、耗电量高,无法满足蓝宝石单晶晶片材料晶向角度复检及晶体缺陷检测。
[0003]针对相关技术中的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
[0006]一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置,包括工作台和闪烁探测器,所述工作台顶端一侧固定设有X射线发生器,所述工作台顶端另一侧固定设有角度仪,所述X射线发生器上设置有X光闸,所述闪烁探测器通过连接块固定设置在所述角度仪上,且所述闪烁探测器位于所述X射线发生器对侧,所述闪烁探测器与所述X射线发生器对应电信号连接,所述角度仪顶端设有升降机构,所述升降机构顶端设有转动电机,所述转动电机的输出端连接有转杆,所述转杆顶端固定设有L型样品台,所述L型样品台顶端设有竖向板,所述竖向板上活动套设有圆杆,所述圆杆位于所述L型样品台一端固定设有夹持板,所述夹持板和所述竖向板之间固定设有伸缩弹簧,所述伸缩弹簧套在所述圆杆上,所述圆杆另一端固定设有拉块,所述夹持板和所述L型样品台相对应一端均固定粘贴有陶瓷板,所述转动电机连接有转速控制机构。
[0007]进一步的,所述工作台底端角边处均固定设有移动杆,所述移动杆底端均安装有带有刹车片的万向轮。
[0008]进一步的,所述升降机构为下套筒和上套杆,所述上套杆底部套设在所述下套筒内,所述下套筒上螺旋插设有螺纹杆,所述下套筒固定在所述工作台顶端,所述上套杆顶端与所述转动电机外壁底端连接,所述螺纹杆一端固定设有转动手杆。
[0009]进一步的,所述竖向板底部一侧固定设有安装板,所述安装板通过螺钉固定安装在所述L型样品台顶端。
[0010]进一步的,所述转速控制机构为变频控制器,所述变频控制器固定在所述工作台顶端,所述变频控制器通过导线连接所述转动电机。
[0011]与现有技术相比,本技术具有以下有益效果:
[0012]X射线发生器产生的X光信号通过X射线发生器上的X光闸的出光孔发生,通过转动电机可三百六十度旋转的L型样品台上的陶瓷板放置的被测晶片反射后,被闪烁探测器接收,闪烁探测器接收的信号经放大后,通过在X射线发生器上的毫安表上显示的X光信号的峰值、半峰高等参数信号,找出被测晶片晶向及检测晶体的缺陷,X光信号放大系统放大后也由X射线发生器的通讯接口传送至集控室集中进行数据处理,在此过程中可手动调节升降机构,使其调节被测晶片的高度,使其对应闪烁探测器和X射线发生器,从而提高了测量的精准性,且转动电机转动被测晶片时候,通过转速控制机构来控制转动电机的转动速度,避免转动太快影响测量晶片的精度,提前拉动圆杆,使其伸缩弹簧缩短,从而将被测晶片放在陶瓷板之间,用手扶持,再通过伸缩弹簧复位伸长,从而两个陶瓷板夹紧被测晶,同时也便于拆卸。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014]图1是根据本技术实施例的一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置的主视图。
[0015]附图标记:
[0016]1、工作台;2、X射线发生器;3、角度仪;4、X光闸;5、闪烁探测器;6、连接块;7、转动电机;8、转杆;9、L型样品台;10、竖向板;11、圆杆;12、夹持板;13、伸缩弹簧;14、陶瓷板;15、移动杆;16、万向轮;17、下套筒;18、上套杆;19、螺纹杆;20、安装板;21、变频控制器。
具体实施方式
[0017]下面,结合附图以及具体实施方式,对技术做出进一步的描述:
[0018]为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点,下面结合附图和实施例对本技术做进一步说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0019]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术,但是,本技术还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本技术并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。
[0020]实施例一:
[0021]请参阅图1,根据本技术实施例的一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置,包括工作台1和闪烁探测器5,所述工作台1顶端一侧固定设有X射线发生器2,所述工作台1顶端另一侧固定设有角度仪3,所述X射线发生器2上设置有X光闸4,所述闪烁探测器5通过连接块6固定设置在所述角度仪3上,且所述闪烁探测器5位于所述X射线发生器2对侧,所述
闪烁探测器5与所述X射线发生器2对应电信号连接,所述角度仪3顶端设有升降机构,所述升降机构顶端设有转动电机7,所述转动电机7的输出端连接有转杆8,所述转杆8顶端固定设有L型样品台9,所述L型样品台9顶端设有竖向板10,所述竖向板10上活动套设有圆杆11,所述圆杆11位于所述L型样品台9一端固定设有夹持板12,所述夹持板12和所述竖向板10之间固定设有伸缩弹簧13,所述伸缩弹簧13套在所述圆杆11上,所述圆杆11另一端固定设有拉块,所述夹持板12和所述L型样品台9相对应一端均固定粘贴有陶瓷板14,所述转动电机7连接有转速控制机构。
[0022]实施例二:
[0023]请参阅图1,对于工作台1来说,所述工作台1底端角边处均固定设有移动杆15,所述移动杆15底端均安装有带有刹车片的万向轮16。
[0024]通过本技术的上述方案,有益效果:移动杆15和万向轮16设置,便于整体装置的移动,不移动时,通过刹车片刹住万向轮16即可。
[0025]实施例三:
[0026]请参阅图1,对于升降机构来说,所述升降机构为下套筒17和上套杆18,所述上套杆18底部套设在所述下套筒17内,所述下套筒17上螺旋插设有螺纹杆19,所述下套筒17固定在所述工作台1顶端,所述上套杆18顶端与所述转动电机7外壁底端连接本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种蓝宝石晶向高精度自动测量角度装置,其特征在于,包括工作台(1)和闪烁探测器(5),所述工作台(1)顶端一侧固定设有X射线发生器(2),所述工作台(1)顶端另一侧固定设有角度仪(3),所述X射线发生器(2)上设置有X光闸(4),所述闪烁探测器(5)通过连接块(6)固定设置在所述角度仪(3)上,且所述闪烁探测器(5)位于所述X射线发生器(2)对侧,所述闪烁探测器(5)与所述X射线发生器(2)对应电信号连接,所述角度仪(3)顶端设有升降机构,所述升降机构顶端设有转动电机(7),所述转动电机(7)的输出端连接有转杆(8),所述转杆(8)顶端固定设有L型样品台(9),所述L型样品台(9)顶端设有竖向板(10),所述竖向板(10)上活动套设有圆杆(11),所述圆杆(11)位于所述L型样品台(9)一端固定设有夹持板(12),所述夹持板(12)和所述竖向板(10)之间固定设有伸缩弹簧(13),所述伸缩弹簧(13)套在所述圆杆(11)上,所述圆杆(11)另一端固定设有拉块,所述夹持板(12)和所述L型样品台(9)相对应一端均固定粘贴有陶瓷板(14),所述转动电机(7)连...

【专利技术属性】
技术研发人员:李浩瀚
申请(专利权)人:深圳市蓝宝源光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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