【技术实现步骤摘要】
下压卡扣滚动式测试治具
[0001]本技术涉及探针模组测试
,具体涉及下压卡扣滚动式测试治具。
技术介绍
[0002]如今,随着微电子技术的发展,小型化的设备日益增多,小型化的电子产品都具有探针模组,探针模组在安装和使用时具有较大的作用。对探针模组进行测试时,需要使用到测试治具,现有的测试治具采用压板下压浮动板,浮动板和探针接触完成探针模组的测试,但是现有的测试治具存在以下问题,一、压板下压浮动板的机械碰撞减少了装置的使用寿命,二、压板和固定座接触摩擦产生摩擦粉尘增加了测试的误差、减小了装置的使用寿命。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供下压卡扣滚动式测试治具,以解决现有技术中装置使用寿命低的问题。
[0004]为达到上述目的,本技术是采用下述技术方案实现的:
[0005]下压卡扣滚动式测试治具,包括底座、固定座、上盖板、中间板装置和卡扣,所述固定座对称连接在所述底座的两侧,所述上盖板活动连接在两侧的所述固定座之间,所述底座上连接有用于测试的浮动板;
[0006]所述 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.下压卡扣滚动式测试治具,其特征在于,包括底座(1)、固定座(2)、上盖板(3)、中间板装置(4)和卡扣(5),所述固定座(2)对称连接在所述底座(1)的两侧,所述上盖板(3)活动连接在两侧的所述固定座(2)之间,所述底座(1)上连接有用于测试的浮动板(6);所述中间板装置(4)连接在所述上盖板(3)和所述底座(1)之间,所述上盖板(3)的两侧连接有卡扣(5);所述卡扣(5)具有工作状态和非工作状态,在所述工作状态,所述卡扣(5)的底端和所述固定座(2)相连接,且所述中间板装置(4)下压所述浮动板(6)完成测试。2.根据权利要求1所述的下压卡扣滚动式测试治具,其特征在于,所述固定座(2)上设有固定槽(21),所述卡扣(5)在工作状态时,所述卡扣(5)的底端和所述固定槽(21)相连接。3.根据权利要求2所述的下压卡扣滚动式测试治具,其特征在于,所述卡扣(5)的底端设有第二滚轮(51),所述卡扣(5)从非工作状态运动至工作状...
【专利技术属性】
技术研发人员:张卡,陈恩环,钞金龙,
申请(专利权)人:苏州尚实豪精密机械科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。