一种校正实测密度的方法，包括以下步骤：用一台处于校正状态的密度计测量标准密度的高和低的密度以得出它们的实测值；根据所述密度的实测值和已知值之间的差给出用于零点修正的数据；将该数据存入存储器；利用从存储器读出的该数据以校正物体的实测密度。为了提供该数据，预先要把已知的标准密度输入密度计。实施这种校正方法的密度计结构紧凑而又便于携带，它包括一个其中装配有诸如光投射元件、光接收元件和参考光检测元件等测量元件的壳体。（*该技术在2008年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用标准密度板校正实测密度的方法及其装置。已经有两种类型的密度计用于测定被测物体的透射密度的透射光密度计和用于测定被测物体的反射密度的反射光密度计。这两种密度计广泛地应用于图象记录，例如照相、印刷等等，用于测定图象记录材料或记录在图象记录材料上的图象的特性。在科学测量领域中，用作测量压力的膜片一般同反射光密度计一起使用。这种压力测量膜片根据压力的变化使颜色或品红色(magenta)的密度发生变化。这种膜片被放置在施加压力的地方，以便使它的颜色发生变化。然后，用测定反射密度来测量变色的膜片，参照密度对压力的换算表，根据所测得密度就得出压力。常规的光密度计包括一主机，该主机由各种部件，例如操作电路、仪表、电源等组成;一与主机相连接的独立的测量头，用以测定被测物体的反射光或透射光。这一独立的测量头装有一个向物体投射光的光投射装置，一个接收从物体返回的光的光接收装置和一个用于测定作为参比光的那部分投射光的参比光检测装置。通常，当使用密度计时，需要在正式测量物体之前对密度计进行零点修正，目的在于避免由于环境因素，例如温度和周围光线条件和由于机内因素，例如由于老化的原因灯和光接收元件发生变化所引起的误差。为了进行零点修正，要对具有已知密度的元件进行测量以补偿实测密度与真空密度之间的差。实际上，用待修正的密度计去测量一低密度标准元件。由被看作低密度标准值的实测值，调节密度计仪表指针以指示相应的低密度标准值。然后，用这个密度计测量一高密度标准元件。按同样的办法，调节仪表指针以指示高密度的标准值。这样的调节重复几次，为的是调节仪表指针，使其指示与已知的低和高密度的标准值一致，达到零点修正的目的。在常规的零点修正方法中，需要多次调节仪表指针以进行零点修正，这是一种相当繁琐的操作。常规的密度计，由于它们的主机与测量头是相互分离的，所以操作和携带不方便。这样的测量头具有一个测量面，这个测量面是属于开有一测量孔的光屏蔽板，这个测量孔应位于被测物体之上。因此，如果物体很小，那么要将测量孔准确地对准这个物体是很麻烦的。本专利技术的目的就是提供一个校正密度实测值的方法和装置，不需要进行零点修正的调节操作。本专利技术的另一个目的就是提供一种结构紧凑的密度计，它使用和携带都很方便。根据本专利技术的校正密度实测值的方法包括以下步骤测量已知其密度值的高密度标准和低密度标准的元件，得出并存储零点修正数据值，这种零点修正数据是根据标准密度的实测值与已知标准密度值之间的差得出的，最后使用零点修正值数据来校正物体密度的实测值。这一零点修正值可以用一个公式表示，包括系数项和常数项。当α、K和RD分别是系数项、常数项和密度实测值时，被校正过的密度实测值R用下面公式表示R＝RD-α·RD-K根据本专利技术实施这一校正密度实测值的方法的装置，一般包括一竖立的主机机壳，其中装配有操作电路，显示板、电源电路等，及它们的连接件以及安装在机壳底的测量头。这个测量头具有一开口，这个开口是一个由从底侧到前面之间的一个凹槽形成的。测量头底部的这个开口用一透明板盖着，这一透明板上有一截头倒圆锥形测量孔，被测物体就放在这个孔的下方。通过这个内表面漆成黑色的孔来测量这个物体的反射密度。本专利技术还提供了一个盛放这种密度计的箱子，以便保护和携带仪器。当使用密度计时，这个箱子能方便地用于零点修正。为此，箱子底板内侧带有高的和低的已知密度的板或块。将密度计装在箱子底部上，便很容易进行零点修正。本专利技术的密度计避免了通常用来进行零点修正的调节元件的操作。制成一个整体的密度计便于使用和携带。本专利技术的密度计具有一个在透明板上加工成的测量孔，该透明板安装在一包含有投射光和测光装置的测量头的底部。就使得很容易将测量孔对准被测物体。由于测量孔具有截头倒圆锥形状并且内表面漆成黑色，所以它可以阻挡不希望有的射入其中的反射光。此外，本专利技术的测量方法的特点还在于使用一系列实测值的平均值，使得密度测量结果更为准确。本专利技术的密度计还能在电池电压低于预定水平时暂停测量并报警，就可以消除误测量。由于箱子固定装有用于进行零点修正的标准密度板，所以就可以避免用错标准密度板。参照附图及其说明，结合最佳实施例，上述目的和特征以及其余的附加特征就会很清楚。其中附图说明图1是表示实施本专利技术的密度计的外观透视图;图2是安装在图1所述密度计中的测量头的剖面图;图3是图2所示测量头的侧面剖视图;图4是装在图2所示测量头底部的透明板的局部放大剖面图;图5是表示实施本专利技术方法的电路的方框图;图6是表示一般测量顺序的流程图;图7是表示零点修正操作状态的流程图;图8是表示数据检索的流程图;图9是表示测量顺序的流程图;图10是表示数据检索和灯发光之间关系的定时曲线;图11是关于零点修正数据的说明图解图12是打开盖子时的箱子的透视图;图13是表示图12所示箱子用于进行零点修正时的透视图;图14是表示装有图1所示密度计的图12所示箱子的俯视平面图。图1所示为一种实施本专利技术的反射光密度计。如图所示，内部装有测量头的密度计制作得既方便又轻便。密度计1一般具有长方形盒式竖立的壳体10，最好是用塑料制成的，朝向底部逐渐变宽，以便在使用时稳定。密度计1的壳体10带有数字显示板11，它装在前面板上部，以便显示密度测量值;还有一可滑动的电源开关12，用于启动测量的按钮开关13和进行零点修正的开关14。开关12、13和14都装在壳体10的侧面。开关14装在凹槽15中并低于侧壁表面，以防止误动作。在壳体10的底部装有一测量头组件17，如图2和图3所示，测量头组件17具有一头块17a，它是由耐热性塑料制成，例如ABS塑料(ABSregines)。选择制作头块17a的材料要考虑到防止由灯发出的辐射能对包含光接收元件和放大器的电路板的哪怕是轻微的传播。头块17a加工有通到开口16的通孔19和20。开口16位于头块17a的前边和底面，并且具有一倾斜上壁表面16a，以便操作者从上面观察。通孔19大约倾斜45°，在其中装有灯座22，灯座22上装有灯22以便将光线投向被测物体31。在通孔19比较靠下的部分有一光密封筒23，在其底端开有一开口23a，开口23a的作用相当于一个用来控制灯21所发射光束的固定的光圈。通孔20开在与头块17a底部垂直的方向上，以便固定一个用卡环26卡在其中的透镜25。在通孔20的底部装有一光密封筒27，在它的底端有一开口27a，其作用相当于透镜25的固定视场光圈。开口16底部配有一与头块17的下表面齐平的透明板30。通过透明板30可以看到物体31。透明板30开有一朝向底部变窄的截头倒圆锥形的测量孔32，位于光束与透镜25的光轴L1与L2的交叉点上。如图4所示的那样，测量孔32具有一直径缩小的底部刃口32a，例如直径大约为2mm，以便使它可以测量窄的或小的物体。为了均匀地照射测量孔32底部刃口32a，测量孔32的中心部分要加工为具有大约45°倾斜的内壁。在这一实施例中，测量孔32的顶部刃口32b直径大约为4mm。测量孔32的内壁漆成黑色，如图4中33所示，以防止从灯21发出的光反射回测量系统，并防止一部分由物体31反射的光通过这里。在头块17a的顶部有一滤色器35，用以传递由物体31反射的特定波长的光。在这一实施例中，绿色滤色器用于传本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种校正实测密度的方法，包括以下步骤：测量高和低的标准密度元件以得到标准的高和低的密度的实测值；根据所述实测值和作为所述高和低的标准密度板的密度而预置的标准值之间的差得出零点修正数据；将所述零点修正数据存入存储器；使用从所述 存储器中读出的所述零点修正数据校正物体密度的实测值。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：小松资明，佐藤繁雄，
申请(专利权)人：富士胶片公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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