芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器制造方法及图纸

本发明专利技术一个或多个实施例公开了一种芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器，其中，芯片工作电压控制方法包括：获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；根据所述多组测试数据进行双指数拟合，得到拟合参数；根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压，该方法可降低电源监测参数与电源电压值之间的关系拟合的误差，提高拟合精度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器


[0001]本专利技术涉及集成电路制造及应用
，尤其涉及一种芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器。

技术介绍

[0002]目前，在AVFS(Adaptive Voltage and Frequency Scaling，自适应电压频率调节)电路系统中，通常设置多个PSM(Power supply monitor，电源监测模块)来监控芯片的电压和电源(rvdd)电压。在电路系统的设计中，电源并非直接为CPU(Central Processing Unit，中央处理器)芯片供电，而是需要DLDO(Digital Low-Dropout，数字低压差稳压器)动态调节芯片的电压，所以不能直接建立芯片的工作频率和电压的对应关系，而是以监控芯片的PSM参数作为桥梁，建立F2P(Frequency vs.PSM，频率与电源监测参数)的关系，P2V(PSM vs.Voltage，电源监测参数与电源电压值)的关系，间接实现了F2V(Frequency vs.Voltage，频率与电源电压值)的关系。在早期的ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)测试中，仅测试了三个指定的电源电压值来采集芯片的工作频率和PSM参数，并建立联系，F2P和P2V都采用一元二次关系进行拟合，得到拟合曲线。而在P2V拟合计算过程中，由于低电压部分与实际情况不符，会导致拟合曲线在低电压区域存在翘曲现象，从而造成不可信的反馈，这种异常会降低AVFS电路系统的表现甚至降低芯片的性能。之后为了消除拟合曲线的这种翘曲现象，在ATE测试过程中又新增加了一个低电压测试点，仍沿用一元二次关系进行拟合，但拟合曲线的效果仍与实际特性曲线存在明显误差，这种误差会产生冗余的电压(margin)芯片供电，增加不必要的功耗。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术一个或多个实施例提供了一种芯片工作电压控制方法、装置、处理芯片及服务器，能够减小电源监测参数与电源电压值之间的关系的拟合误差，提高拟合精度。
[0004]本专利技术一个或多个实施例提供了一种芯片工作电压控制方法，包括：获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。
[0005]可选的，根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压，包括：确定所述芯片上的CPU核的目标工作频率；根据所述目标工作频率与所述芯片的工作电压的关系确定出目标电源监测参数；根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压。
[0006]可选的，根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压，包括：根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数根据双指数函数计算出所述芯片的工作电压。
[0007]可选的，所述多组芯片测试数据为四组。
[0008]可选的，所述方法还包括：在根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数之后，将所述拟合参数存储至所述芯片的固件中。
[0009]本专利技术一个或多个实施例还提供了一种芯片工作电压控制装置，包括：获取模块，被配置为获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；拟合模块，被配置为根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；控制模块，被配置为根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。
[0010]可选的，所述控制模块包括：第一确定单元，被配置为确定所述芯片上的CPU核的目标工作频率；第二确定单元，被配置为根据所述目标工作频率与所述芯片的工作电压的关系确定出目标电源监测参数；计算单元，被配置为根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压。
[0011]可选的，所述计算单元被配置为：根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数根据双指数函数计算出所述芯片的工作电压。
[0012]可选的，所述多组芯片测试数据为四组。
[0013]可选的，所述装置还包括：存储模块，被配置为根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数，将所述拟合参数存储至所述芯片的固件中。
[0014]本专利技术一个或多个实施例还提供了一种处理器芯片，包括：至少一个处理器核、缓存；所述处理器核，用于执行上述任意一种芯片工作电压控制方法。
[0015]本专利技术一个或多个实施例还提供了一种服务器，包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器、存储器和电源电路集成在芯片上，封装后的芯片设置在所述电路板上；其中，电源电路，用于为所述服务器的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码和相关参数；所述处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序并调用所述相关参数，用于执行上述任意一种芯片工作电压控制方法。
[0016]本专利技术一个或多个实施例的芯片工作电压控制方法，通过双指数拟合函数对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行拟合，能较好地体现出电源监测参数与电源电压值之间的物理关系，与实际的电源监测参数与电源电压值之间的关系曲线较为吻合，该方法可降低拟合误差，提高拟合精度，从而可更加精确地计算出芯片所需的工作电压，避免了提供多余的电压margin，可降低芯片运行的功耗。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0018]图1是根据本专利技术一个或多个实施例示出的一种芯片工作电压控制方法的流程
图；
[0019]图2是根据本专利技术一个或多个实施例示出的芯片工作电压控制方法的原理图；
[0020]图3是根据本专利技术一个或多个实施例示出的一种芯片工作电压控制方法的流程图；
[0021]图4是根据本专利技术一个或多个实施例示出的一种芯片工作电压控制装置的框图；
[0022]图5是根据本专利技术一个或多个实施例示出的一种处理器芯片的示意图；
[0023]图6是根据本专利技术一个或多个实施例示出的一种服务器的示意图。
具体实施方式
[0024]下面结合附图对本专利技术实施例进行详细描述。
[0025]应当明确，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]图1是根据本专利技术一个或多个实施例示出的一种芯片工作电压控本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片工作电压控制方法，其特征在于，包括：获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电压，包括：确定所述芯片上的CPU核的目标工作频率；根据所述目标工作频率与所述芯片的工作电压的关系确定出目标电源监测参数；根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数计算出所述芯片的工作电压，包括：根据所述拟合参数以及所述目标电源监测参数根据双指数函数计算出所述芯片的工作电压。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多组芯片测试数据为四组。5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数之后，将所述拟合参数存储至所述芯片的固件中。6.一种芯片工作电压控制装置，其特征在于，包括：获取模块，被配置为获取芯片的多组测试数据，其中，一组芯片测试数据中包括电源电压值以及与所述电源电压值对应的电源监测参数；拟合模块，被配置为根据所述多组测试数据对电源监测参数与电源电压值之间的关系进行双指数拟合，得到拟合参数；控制模块，被配置为根据所述拟合参数控制所述芯片的工作电...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢书浩，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：