一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装及使用方法技术

技术编号:27402938 阅读:29 留言:0更新日期:2021-02-21 14:15
本发明专利技术公开了一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装及使用方法,解决了现有技术中没有专门针对湿膜厚度测量规校准的夹持装置,人工手动调整存在精度不能有效保证、测量速度慢的问题,具有有效节省劳动力,提高工作效率的有益效果,具体方案如下:一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,包括基座,穿过基座设置调节件,调节件一侧固定载物台,载物台开有用于设置湿膜厚度测量规的卡槽,调节件可带动载物台相对于基座实现转动,且调节件可相对基座锁紧;所述载物台包括固定于所述调节件的支撑座,支撑座设置两侧壁,两侧壁之间间隔设定的距离从而在两侧壁之间形成所述的卡槽。距离从而在两侧壁之间形成所述的卡槽。距离从而在两侧壁之间形成所述的卡槽。

【技术实现步骤摘要】
一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装及使用方法


[0001]本专利技术涉及检测工装领域,尤其是一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装及使用方法。

技术介绍

[0002]本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息,不必然构成在先技术。
[0003]湿膜厚度测量规又称湿膜厚度测厚仪,是测量色漆、清漆等各种土料在施工时涂层厚度的工具,该仪器按照国际标准的要求设计制造,可用于实验室也可用于生产控制。
[0004]因为湿膜厚度测量规是生产制造件,且多次使用后,会对其造成磨损,因此对湿膜厚度测量规进行校准是非常必要的;专利技术人发现,现有在校准过程中主要是通过固定钳夹持湿膜厚度测量规,这样存在如下两个方面的问题:
[0005]第一、现有的固定钳与湿膜厚度测量规并不配套,湿膜厚度测量规较薄较小,固定钳调整困难,费时费力,并不方便对湿膜厚度测量规的夹持和固定;
[0006]第二、通过固定钳夹持湿膜厚度测量规后,手动调整测量规的放置位置,进而使得其基面与光学计测头处于同一水平面,而手动调整存在测量精度的问题,且手动调整无法快速保证基面与光学计测头在同一水平面;
[0007]第三、湿膜厚度测量规具有多个测量面,这样就需要对每个湿膜厚度测量规的每个测量面都进行校准,在测量一处完成后需要移动固定钳或湿膜厚度测量规,固定钳质量大移动是不方便的,而移动湿膜厚度测量规就需要移动对其的夹持,非常不便,严重影响到工作效率。

技术实现思路

[0008]针对现有技术存在的不足,本专利技术的第一目的是提供一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,将载物台与基座分离,单独调整载物台省时省力,可以更快的调整到位使得基面与光学计测头在同一水平面,提高劳动效率,零位调整更加准确到位,提高测量精度。
[0009]本专利技术的第二目的是提供一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装的使用方法,能够满足使用要求,减小误差,提高工作效率。
[0010]为了实现上述目的,本专利技术是通过如下的技术方案来实现:
[0011]一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,包括基座,穿过基座设置调节件,调节件一侧固定载物台,载物台开有用于设置湿膜厚度测量规的卡槽,调节件可带动载物台相对于基座实现转动,且调节件可相对基座锁紧。
[0012]上述的调整工装,载物台设置卡槽用于设置湿膜厚度测量规,方便对湿膜厚度测量规的夹持和支撑;调节件可带动载物台实现湿膜厚度测量规相对于基座的转动,从而方便基面与光学计测头在同一水平面的调整,降低检定误差,提高工作效率;而且载物台实现对湿膜厚度测量规的支撑,载物台又通过基座支撑,这样移动基座即可实现调整工装的移
动,而基座相对于固定钳质量轻,方便移动,无需松开对湿膜厚度测量规的夹持,大大有利于提高工作效率。
[0013]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,所述载物台包括固定于所述调节件的支撑座,支撑座设置两侧壁,两侧壁之间间隔设定的距离从而在两侧壁之间形成所述的卡槽,这样使得载物台的两端都是敞口设置,缩小载物台的尺寸从而缩小调整工装的尺寸,进一步方便对调整工装的移动。
[0014]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,所述载物台处设置紧固件,紧固件可穿过侧壁并与所述卡槽内放置的湿膜厚度测量规侧面相抵,从而实现对湿膜厚度测量规相对载物台位置的锁定;
[0015]紧固件端部设置第一旋钮,以方便操作。
[0016]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,所述载物台至少一侧壁设置用于所述紧固件穿过的第一螺纹孔,紧固件可为紧固螺栓。
[0017]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,在一些方案中,所述支撑座与所述的调节件为一体结构件,使得载物台相对于调节件的位置被固定。
[0018]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,在另一些方案中,所述支撑座通过螺纹设于所述调节件,且在支撑座的一侧设置锁紧件以相对调节件锁紧所述的载物台,实现载物台相对于调节件的位置可调,并通过锁紧件保证调节件带动载物台一同转动。
[0019]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,所述调节件为穿过所述基座设置的螺杆,基座设置通孔或第二螺纹孔,螺杆穿过通孔或第二螺纹孔设置。
[0020]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,所述螺杆套有锁紧螺母,锁紧螺母设于螺杆一端与基座之间,通过锁紧螺母以相对基座锁紧螺杆,这样在螺杆带动载物台调整完毕后,可通过锁紧螺母相对于基座固定螺杆,保证后续测量的准确性;
[0021]螺杆端部设置第二旋钮,第二旋钮与所述的第一旋钮相对设置,以便于从两个方向分别对载物台和调节件进行调整,互不干涉。
[0022]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,为了方便基座两侧对载物台和调节件的各自调整,所述载物台与所述锁紧螺母分别设于所述基座的两侧。
[0023]如上所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,在另一些方案中,所述调节件与旋转动力源连接,旋转动力源固定于基座,这样可实现自动调整,由旋转动力源带动调节件和载物台进行转动,无需人工手动操作,进一步保证检定的精度,且提高调整的速度。
[0024]第二方面,本专利技术还提供了一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装的使用方法,包括如下内容:
[0025]将基座设于光学计工作台;
[0026]通过卡槽放置湿膜厚度测量规,湿膜厚度测量规底面与载物台卡槽内底面接触;
[0027]转动调节件使得湿膜厚度测量规的两测量基面和光学计测头处于同一水平面内,将光学计清零,并锁紧调节件;
[0028]通过基座的移动实现调整工装的移动,使光学计测头接触湿膜厚度测量规各测量面,光学计的读数即为该测量面与基面的距离,通过所读取的尺寸与湿膜厚度测量规相应
位置的数值进行比较,即可实现检定。
[0029]上述本专利技术的有益效果如下:
[0030]1)本专利技术通过载物台设置卡槽,可方便对湿膜厚度测量规的支撑和夹持,无需像固定钳一样需要大范围的调节,而且载物台处可设置紧固件,可相对载物台固定湿膜厚度测量规,可适用于多种湿膜厚度测量规的检定,而且夹持湿膜厚度测量规是较为方便的,省时省力。
[0031]2)本专利技术通过调节件穿过基座设置,且调节件可带动载物台实现湿膜厚度测量规相对于基座的转动,从而方便基面与光学计测头在同一水平面的调整,调整完成后可通过锁紧螺母锁紧调节件,保证载物台的固定,降低检定误差,提高工作效率。
[0032]3)本专利技术通过载物台实现对湿膜厚度测量规的支撑,载物台又通过基座支撑,这样移动基座即可实现调整工装的移动,而基座相对于固定钳质量轻,方便移动,无需松开对湿膜厚度测量规的夹持,大大有利于提高工作效率。
[0033]4)本专利技术通过将调节件设置螺杆,不仅方便与载物台的固定,或者方便载物台相对于螺杆位置的调整,也方便了调节件带动载物台相对于基座的调整,整体操作方便。
[本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,包括基座,穿过基座设置调节件,调节件一侧固定载物台,载物台开有用于设置湿膜厚度测量规的卡槽,调节件可带动载物台相对于基座实现转动,且调节件可相对基座锁紧。2.根据权利要求1所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,所述载物台包括固定于所述调节件的支撑座,支撑座设置两侧壁,两侧壁之间间隔设定的距离从而在两侧壁之间形成所述的卡槽。3.根据权利要求2所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,所述载物台处设置紧固件,紧固件可穿过侧壁并与所述卡槽内放置的湿膜厚度测量规侧面相抵;紧固件端部设置第一旋钮。4.根据权利要求3所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,所述载物台至少一侧壁设置用于所述紧固件穿过的第一螺纹孔。5.根据权利要求2所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,所述支撑座与所述的调节件为一体结构件。6.根据权利要求2所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,所述支撑座通过螺纹设于所述调节件,且在支撑座的一侧设置锁紧件以相对调节件锁紧所述的载物台。7.根据权利要求3所述的一种用于校准湿膜厚度测量规的调整工装,其特征在于,...

【专利技术属性】
技术研发人员:张晓磊孙镱玮刘述辉矫增田李连峰倪雯荆禾
申请(专利权)人:中车青岛四方机车车辆股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1