一种用于考核电子元器件的测试盒底壳制造技术

本实用新型专利技术涉及测试盒技术领域，具体为一种用于考核电子元器件的测试盒底壳，包括测试盒底壳，测试盒底壳的上端面设置有四个连接块，连接块之间形成有防尘透气槽，防尘透气槽上设置有防尘透气件，防尘安装板之间设置有支撑块，支撑块的中部开设有防尘透气网，防尘透气件的上方设置有面板，面板上开设有引脚孔，引脚孔上设置有铜柱。本实用新型专利技术防尘透气件可以有效地降低测试盒内部的温度和防止灰尘进入，提升测试盒的散热功能和防尘功能，延长测试盒的使用寿命，防尘透气槽上开设有第一防尘板槽，面板的底侧面开设有第二防尘板槽，方便安装防尘透气件，提升防尘透气件的稳定性，RFID标签可通过读卡器进行读取测试盒底壳各元器件的答案，便于考核。便于考核。便于考核。

【技术实现步骤摘要】
一种用于考核电子元器件的测试盒底壳


[0001]本技术涉及一种测试盒底壳，特别是涉及一种用于考核电子元器件的测试盒底壳，属于测试盒


技术介绍

[0002]检测装置在教学的实验或者工程检测方面的应用非常广泛，如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否，特别对教学方面来说，熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要；
[0003]常见的用于考核电子元器件的测试盒，要求的精度往往比较精密，而常规的测试盒通常采用密封的结构，但是位于测试盒内部的元件在长时间使用的过程中会产生一定的热量，而热量的长时间积存会影响内部元件的使用效果，严重的情况下会很大程度的影响测试盒的使用寿命；
[0004]因此，亟需对测试盒进行改进，以解决上述存在的问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种用于考核电子元器件的测试盒底壳，面板与测试盒之间的防尘透气件可以有效地降低测试盒内部的温度和防止灰尘进入，提升测试盒的散热功能和防尘功能，延长测试盒的使用寿命。
[0006]为了达到上述目的，本技术采用的主要技术方案包括：
[0007]一种用于考核电子元器件的测试盒底壳，包括测试盒底壳，所述测试盒底壳的上端面固定设置有若干个均匀分布的连接块，所述连接块上开设有第一连接孔，每两个所述连接块之间形成有防尘透气槽，所述防尘透气槽上开设有第一防尘板槽；
[0008]所述第一防尘板槽上设置有防尘透气件，所述防尘透气件上固定设置有对称分布的防尘安装板，所述防尘安装板之间固定设置有支撑块，所述支撑块的中部开设有防尘网槽，所述防尘网槽上固定在有防尘透气网；
[0009]所述防尘透气件的上方固定设置有面板，所述面板上开设有均匀分布的第二连接孔，所述第二连接孔上设置有固定螺栓，所述固定螺栓贯穿所述第二连接孔并与所述第一连接孔配合使用，所述面板上开设有若干个均匀分布的引脚孔，所述引脚孔上固定设置有铜柱。
[0010]优选的，所述铜柱凸出于所述面板，所述铜柱与内部元件电性连接。
[0011]优选的，所述测试盒底壳的底部固定设置有防滑垫。
[0012]优选的，所述防尘透气网为高分子网状结构的防尘透气膜。
[0013]优选的，所述面板的底侧面开设有第二防尘板槽，所述第二防尘板槽与所述防尘安装板配合使用。
[0014]优选的，所述防尘透气件为工字型结构，所述防尘透气件上的防尘安装板与所述
第二防尘板槽固定连接，所述防尘透气件下端的防尘安装板与所述第一防尘板槽固定连接。
[0015]优选的，所述测试盒底壳的内部形成有测试盒底壳内仓，所述测试盒底壳内仓上固定设置有RFID标签。
[0016]优选的，所述固定螺栓与所述面板的连接处固定设置有金属垫片。
[0017]本技术至少具备以下有益效果：
[0018]1、面板与测试盒之间的防尘透气件可以有效地降低测试盒内部的温度和防止灰尘进入，提升测试盒的散热功能和防尘功能，延长测试盒的使用寿命。
[0019]2、防尘透气槽上开设有第一防尘板槽，面板的底侧面开设有第二防尘板槽，方便安装防尘透气件，提升防尘透气件的稳定性。
[0020]3、测试盒底壳的内部形成有测试盒底壳内仓，测试盒底壳内仓上固定设置有RFID标签，可通过读卡器进行读取测试盒底壳各元器件的答案，便于考核。
附图说明
[0021]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0022]图1为本技术的爆炸图；
[0023]图2为本技术的立体图；
[0024]图3为本技术的防尘透气件主视图；
[0025]图4为本技术的面板仰视图；
[0026]图5为图1中A处的放大图；
[0027]图6为本技术的测试盒底壳立体图。
[0028]图中，1-测试盒底壳，101-防滑垫，2-连接块，201-第一连接孔，3-防尘透气槽，301-第一防尘板槽，4-防尘透气件，401-防尘安装板，402-支撑块，403-防尘网槽，5-面板，501-第二连接孔，502-引脚孔，503-第二防尘板槽，6-固定螺栓，601-金属垫片，7-铜柱，8-防尘透气网，9-测试盒底壳内仓。
具体实施方式
[0029]以下将配合附图及实施例来详细说明本申请的实施方式，借此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
[0030]如图1-图6所示，本实施例提供的用于考核电子元器件的测试盒底壳，包括测试盒底壳1，测试盒底壳1的上端面固定设置有四个均匀分布的连接块2，连接块2上开设有第一连接孔201，方便与面板5固定，提升装置的稳定性，每两个连接块2之间形成有防尘透气槽3，防尘透气槽3上开设有第一防尘板槽301，方便将防尘透气件4安装在第一防尘板槽301的内部，提升防尘透气件4的稳定性；
[0031]第一防尘板槽301上设置有防尘透气件4，防尘透气件4上固定设置有对称分布的防尘安装板401，防尘安装板401之间固定设置有支撑块402，支撑块402的中部开设有防尘网槽403，防尘网槽403上固定在有防尘透气网8，由于测试盒在使用的过程中会产生一定的热量，热量的大量积存，会严重影响测试盒的使用效果，降低测试盒使用的寿命；
[0032]防尘透气件4的上方固定设置有面板5，面板5上开设有均匀分布的第二连接孔501，第二连接孔501上设置有固定螺栓6，固定螺栓6贯穿第二连接孔501并与第一连接孔201配合使用，面板5上开设有若干个均匀分布的引脚孔502，扩大测试盒的适用范围，提高测试盒的灵活性和实用性，引脚孔502上固定设置有铜柱7，方便插接，铜的导电性比较优良，因此可以减少电量的损失，同时方便连接，提高使用的效率。
[0033]在本实施例中，如图5所示，铜柱7凸出于面板5，铜柱7与内部元件电性连接，即插即用，使用方便，提高使用的效率。
[0034]在本实施例中，如图1所示，测试盒底壳1的底部固定设置有防滑垫101，增大与桌面的摩擦，防止测试盒滑出，造成测试盒损坏。
[0035]在本实施例中，如图3所示，防尘透气网8为高分子网状结构的防尘透气膜，一方面有助于散热，另一方面有助于防止灰尘进入，影响电子元件的使用寿命。
[0036]在本实施例中，如图4所示，面板5的底侧面开设有第二防尘板槽503，第二防尘板槽503与防尘安装板401配合使用，便于安装，提高利用率。
[0037]在本实施例中，如图1所示，防尘透气件4为工字型结构，防尘透气件4上的防尘安装板401与第二防尘板槽503固定连接，防尘透气件4下端的防尘安装板401与第一防尘板槽301固定连接，结构接单，连接稳定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于考核电子元器件的测试盒底壳，包括测试盒底壳（1），其特征在于，所述测试盒底壳（1）的上端面固定设置有若干个均匀分布的连接块（2），所述连接块（2）上开设有第一连接孔（201），每两个所述连接块（2）之间形成有防尘透气槽（3），所述防尘透气槽（3）上开设有第一防尘板槽（301）；所述第一防尘板槽（301）上设置有防尘透气件（4），所述防尘透气件（4）上固定设置有对称分布的防尘安装板（401），所述防尘安装板（401）之间固定设置有支撑块（402），所述支撑块（402）的中部开设有防尘网槽（403），所述防尘网槽（403）上固定在有防尘透气网（8）；所述防尘透气件（4）的上方固定设置有面板（5），所述面板（5）上开设有均匀分布的第二连接孔（501），所述第二连接孔（501）上设置有固定螺栓（6），所述固定螺栓（6）贯穿所述第二连接孔（501）并与所述第一连接孔（201）配合使用，所述面板（5）上开设有若干个均匀分布的引脚孔（502），所述引脚孔（502）上固定设置有铜柱（7）。2.根据权利要求1所述的一种用于考核电子元器件的测试盒底壳，其特征在于：所述铜柱（7）凸出于所述面板（5），所述铜柱（7）与内部元件电性连接。...

【专利技术属性】
技术研发人员：费冬冬，
申请(专利权)人：上海屹讯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：