硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置，其方法包括：获取第一指令，其中，第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；获取第一指令的第一信息；基于硬盘信息将第一指令发送给目标硬盘；获取到目标硬盘在基于第一指令执行完目标处理之后，返回的第一指令响应；获取第一指令响应的第二信息；基于第一发送时间与第二发送时间的时间差以及处理量确定目标硬盘的性能。通过本发明专利技术，解决了相关技术中硬盘性能检测不准确的问题，进而达到了提高硬盘性能检测准确性的效果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置


[0001]本专利技术实施例涉及通信领域，具体而言，涉及一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置。

技术介绍

[0002]目前的硬盘性能测试主要通过dd(data description，数据描述),fio(flexible IO tester，可适性IO测试工具)等用户态开源测试工具进行测试，配置不同的测试参数，包括顺序读写，随机读写，大块读写，小块读写，混合读写等，根据这些测试工具输出的相应数据，并分析相应的测试结果。很多自动化硬盘性能测试基本都是采用脚本的方式一键运行多个测试指令，并输出相应结果。
[0003]现有的硬盘性能测试时获取的数据一般是通过block层(块设备层)统计得到，或通过用户态计算得到，数据在获取过程中受不同文件系统的差异影响，使得不同block层的策略处理结果不同，从而导致得出的硬盘性能数据不准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种硬盘性能检测方法、装置、系统、存储介质及电子装置，以至少解决相关技术中硬盘性能数据检测不准确的问题。
[0005]根据本专利技术的一个实施例，提供了一种硬盘性能检测方法，包括：
[0006]获取第一指令，其中，所述第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；
[0007]获取所述第一指令的第一信息，其中，所述第一信息包括发送所述第一指令的第一发送时间、所述目标硬盘的硬盘信息以及所述目标处理对应的处理量；
[0008]基于所述硬盘信息将所述第一指令发送给所述目标硬盘；
[0009]获取到所述目标硬盘在基于所述第一指令执行完所述目标处理之后，返回的第一指令响应；
[0010]获取所述第一指令响应的第二信息，其中，所述第二信息包括所述目标硬盘发送所述第一指令响应的第二发送时间；
[0011]基于所述第一发送时间与所述第二发送时间的时间差以及所述处理量确定所述目标硬盘的性能。
[0012]在一个示例性实施例中，在所述获取第一指令之前，所述方法还包括以下之一：
[0013]统计所述目标硬盘执行历史处理所对应的总处理量，在所述总处理量达到目标阈值的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作；
[0014]在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。
[0015]在一个示例性实施例中，所述在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作包括：
[0016]在接收到按照预定发送周期发送的所述硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。
[0017]在一个示例性实施例中，所述在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作还包括：
[0018]在接收到在预定触发条件下发送的所述硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作，其中，所述预定触发条件包括所述目标硬盘首次启动。
[0019]在一个示例性实施例中，所述预定触发条件还包括：
[0020]所述目标硬盘插入到目标设备上，其中，所述目标设备具备热插拔硬盘的功能。
[0021]在一个示例性实施例中，在所述基于所述第一发送时间与所述第二发送时间的时间差以及所述处理量以确定所述目标硬盘的性能之后，所述方法还包括：
[0022]获取与所述第一指令对应的标准性能；
[0023]在确定所述目标硬盘的性能低于所述标准性能的情况下，执行告警操作。
[0024]根据本专利技术的另一个实施例，提供了一种硬盘性能检测装置，包括：
[0025]指令采集模块，用于获取第一指令，其中，所述第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；
[0026]第一信息采集模块，用于获取所述第一指令的第一信息，其中，所述第一信息包括发送所述第一指令的第一发送时间、所述目标硬盘的硬盘信息以及所述目标处理对应的处理量；
[0027]指令发送模块，用于基于所述硬盘信息将所述第一指令发送给所述目标硬盘；
[0028]指令反馈模块，用于获取到所述目标硬盘在基于所述第一指令执行完所述目标处理之后，返回的第一指令响应；
[0029]第二信息采集模块，用于获取所述第一指令响应的第二信息，其中，所述第二信息包括所述目标硬盘发送所述第一指令响应的第二发送时间；
[0030]性能计算模块，用于基于所述第一发送时间与所述第二发送时间的时间差以及所述处理量确定所述目标硬盘的性能。
[0031]在一个示例性实施例中，所述装置还包括以下之一：
[0032]统计触发模块，用于统计所述目标硬盘执行历史处理所对应的总处理量，在所述总处理量达到目标阈值的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作；
[0033]指令触发模块，用于在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。
[0034]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种硬盘性能检测系统，包括：
[0035]内核装置，用于接收请求目标硬盘执行目标处理的第一指令，并通过硬盘性能检测设备向所述目标硬盘发送所述第一指令；
[0036]所述硬盘性能检测设备，连接所述内核装置以及所述目标硬盘，其中，所述硬盘性能检测设备包括如前述的硬盘性能检测装置；
[0037]所述目标硬盘，连接于所述硬盘性能检测设备，用于接收所述第一指令，并在基于所述第一指令执行完所述目标处理之后，返回所述第一指令响应。
[0038]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
[0039]根据本专利技术的又一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项
方法实施例中的步骤。
[0040]通过本专利技术，由于通过跟踪指示目标硬盘执行目标指令操作，因此，避免了其它业务的干扰，从而可以解决相关技术中硬盘性能数据检测不准确的问题，达到提高硬盘性能检测精度的效果。
附图说明
[0041]图1是本专利技术实施例的一种硬盘性能检测方法的移动终端的硬件结构框图；
[0042]图2是根据本专利技术实施例的一种硬盘性能检测方法的流程图；
[0043]图3是根据本专利技术实施例的一种硬盘性能检测装置的结构框图；
[0044]图4是本专利技术中具体实施例的结构示意图；
[0045]图5是本专利技术中具体实施例的流程图。
具体实施方式
[0046]下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术的实施例。
[0047]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0048]本申请实施例中所提供的方法实施例可以在移动终端、计算机终端或者类似的运算装置中执行。以运行在移动终本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘性能检测方法，其特征在于，包括：获取第一指令，其中，所述第一指令用于请求目标硬盘执行目标处理；获取所述第一指令的第一信息，其中，所述第一信息包括发送所述第一指令的第一发送时间、所述目标硬盘的硬盘信息以及所述目标处理对应的处理量；基于所述硬盘信息将所述第一指令发送给所述目标硬盘；获取到所述目标硬盘在基于所述第一指令执行完所述目标处理之后，返回的第一指令响应；获取所述第一指令响应的第二信息，其中，所述第二信息包括所述目标硬盘发送所述第一指令响应的第二发送时间；基于所述第一发送时间与所述第二发送时间的时间差以及所述处理量确定所述目标硬盘的性能。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取第一指令之前，所述方法还包括以下之一：统计所述目标硬盘执行历史处理所对应的总处理量，在所述总处理量达到目标阈值的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作；在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作包括：在接收到按照预定发送周期发送的所述硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在接收到硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作还包括：在接收到在预定触发条件下发送的所述硬盘性能检测指令的情况下，触发执行获取所述第一指令的操作，其中，所述预定触发条件包括所述目标硬盘首次启动。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预定触发条件还包括：所述目标硬盘插入到目标设备上，其中，所述目标设备具备热插拔硬盘的功能。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于所述第一发送时间与所述第二发送时间的时间差以及所述处理量以确定所述目标硬盘的性能之后，所述方法还包括：获取与所述第一指令对应的标准性能；在确定所述目标硬盘的性能低于所述标准性能的情况下，执行告警操作。7.一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王林锋，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：