板卡功能测试系统技术方案

本实用新型专利技术实施例公开了一种板卡功能测试系统，包括：存储卡、测试主卡、系统总线背板和上位机；存储卡包括第一PCB电路板，在第一PCB电路板上设置有处理器模块、多个存储模块和第一板卡连接器，处理器模块分别与存储模块和第一板卡连接器连接；测试主卡包括第二PCB电路板，在第二PCB电路板上设置有数据处理模块、数据交换模块、第二板卡连接器和上位机接口；数据处理模块和上位机接口连接；数据处理模块通过数据交换模块与第二板卡连接器连接；本实用新型专利技术的板卡功能测试系统，能够实现对VPX系统中的存储卡以及背板的自动化测试，实现了高速数字信号仿真及测试，节约了测试成本和生产成本，测试结果准确、可靠。可靠。可靠。

【技术实现步骤摘要】
板卡功能测试系统


[0001]本技术涉及自动测试
，尤其涉及一种板卡功能测试系统。

技术介绍

[0002]随着集成电路、计算机处理技术和软件技术的飞速发展，处理平台系统架构也随之快速发展演变。VPX是VITA(VME International Trade Association,VME国际贸易协会)组织于2007年在其VME总线基础上提出的新一代高速串行总线标准。在VPX平台或VPX 系统中使用高速存储卡以及高速背板，高速存储卡用于存储数据，高速背板包括多个槽位，兼容主控板、电源板以及功能板，高速背板上的第一槽位为主控板槽位，最后一个槽位为电源板槽位。目前，缺少对VPX系统中的存储卡以及背板的测试方案，无法检测存储卡功能的有效性。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术实施例提供一种板卡功能测试系统。
[0004]根据本技术实施例的一个方面，提供一种板卡功能测试系统，包括：存储卡、测试主卡、系统总线背板和上位机；所述系统总线背板上设置有多个插槽；所述存储卡包括：第一PCB电路板，在所述第一PCB电路板上设置有处理器模块、多个存储模块和第一板卡连接器，所述处理器模块分别与所述存储模块和所述第一板卡连接器连接；所述测试主卡包括：第二PCB电路板，在所述第二PCB电路板上设置有数据处理模块、数据交换模块、第二板卡连接器和上位机接口；所述数据处理模块和所述上位机接口连接；所述数据处理模块通过所述数据交换模块与所述第二板卡连接器连接；在对所述存储卡进行功能测试的状态下，所述第一板卡连接器、所述第二板卡连接器分别插入所述系统总线背板的插槽内，所述上位机与所述上位机接口连接，所述上位机用于对所述数据处理模块进行配置处理；所述数据处理模块通过所述数据交换模块、所述第二板卡连接器向所述存储卡发送数据储存或读取命令；所述处理器模块通过所述第一板卡连接器接收所述数据储存或读取命令，进行相应的处理后将处理结果通过所述第一板卡连接器发送给所述测试主卡；所述数据处理模块将所述数据储存或读取命令以及所述处理结果通过所述数据交换模块、所述上位机接口发送给所述上位机。
[0005]可选地，所述数据交换模块包括：PCIE SWITCH控制器；所述第二板卡连接器包括：第二VPX连接器；所述数据处理模块通过所述PCIE SWITCH控制器与所述第二VPX连接器连接。
[0006]可选地，在所述第二PCB电路板上设置有XMC接口、USB接口、以太网接口、VGA 接口、音频接口和串行接口中的至少一个；其中，所述XMC接口、USB接口、以太网接口、VGA接口和串行接口中的至少一个都与所述处理器模块连接。
[0007]可选地，在所述第二PCB电路板上设置有存储模块，所述存储模块与所述数据处理模块连接。
[0008]可选地，所述第一板卡连接器包括：第一VPX连接器；所述第一VPX连接器通过 PCIE模块与所述处理器模块连接。
[0009]可选地，在所述第一PCB电路板上设置有Flash模块和NVSRAM模块；所述Flash 模块和所述NVSRAM模块分别与所述处理器模块连接。
[0010]可选地，所述存储模块包括：多个固态硬盘；所述处理器模块分别与所述多个固态硬盘的SATA接口连接。
[0011]可选地，所述系统总线背板为符合VITA VPX规范的VPX板卡，所述插槽之间通过 VPX总线连接。
[0012]可选地，在所述第二PCB电路板上设置电源模块，用于提供电能。
[0013]本技术的板卡功能测试系统，能够实现对VPX系统中的存储卡以及背板的自动化测试，实现了高速数字信号仿真及测试，能够检测存储卡功能以及性能，节约了测试成本和生产成本，测试结果准确、可靠。
[0014]本技术实施例附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图：
[0016]图1为根据本技术的板卡功能测试系统的一个实施例的示意图；
[0017]图2为存储卡的一个实施例的模块示意图；
[0018]图3为存储卡的另一个实施例的模块示意图；
[0019]图4为测试主卡的一个实施例的模块示意图；
[0020]图5为测试主卡的另一个实施例的模块示意图。
具体实施方式
[0021]下面参照附图对本技术进行更全面的描述，其中说明本技术的示例性实施例。下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。下面结合图和实施例对本技术的技术方案进行多方面的描述。
[0022]下文为了叙述方便，下文中所称的“左”、“右”、“上”、“下”与附图本身的左、右、上、下方向一致。下文中的“第一”、“第二”等，仅用于描述上相区别，并没有其它特殊的含义。
[0023]如图1所示，本技术提供一种板卡功能测试系统，包括存储卡1、测试主卡2、系统总线背板3和上位机4，系统总线背板3上设置有多个插槽。如图2所示，存储卡1 包括第一PCB电路板11，在第一PCB电路板11上设置有处理器模块12、多个存储模块 14,15和第一板卡连接器13，处理器模块12分别与存储模块14,15和第一板卡连接器13 连接。
[0024]如图4所示，测试主卡包括第二PCB电路板21，在第二PCB电路板21上设置有数据处理模块22、数据交换模块23、第二板卡连接器24和上位机接口26。数据处理模块 22和上位机接口26连接，数据处理模块22也可以通过数据交换模块23和上位机接口26 连接，数据处理模块22通过数据交换模块23与第二板卡连接器24连接。
[0025]在对存储卡1进行功能测试的状态下，第一板卡连接器13、第二板卡连接器24分别插入系统总线背板3的插槽内，上位机4与上位机接口26连接，上位机4用于对数据处理模块22进行配置处理；数据处理模块22通过数据交换模块23、第二板卡连接器24向存储卡1发送数据储存或读取命令以及相对应的数据等。
[0026]处理器模块12通过第一板卡连接器13接收数据储存或读取命令以及相应的数据，进行相应的处理后将处理结果通过第一板卡连接器13发送给测试主卡2。数据处理模22块将数据储存或读取命令以及处理结果通过上位机接口26发送给上位机4，或者通过数据交换模块23、上位机接口26发送给上位机4。上位机4可以为PC、笔记本电脑、PA本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种板卡功能测试系统，其特征在于，包括：存储卡、测试主卡、系统总线背板和上位机；所述系统总线背板上设置有多个插槽；所述存储卡包括：第一PCB电路板，在所述第一PCB电路板上设置有处理器模块、多个存储模块和第一板卡连接器，所述处理器模块分别与所述存储模块和所述第一板卡连接器连接；所述测试主卡包括：第二PCB电路板，在所述第二PCB电路板上设置有数据处理模块、数据交换模块、第二板卡连接器和上位机接口；所述数据处理模块和所述上位机接口连接；所述数据处理模块通过所述数据交换模块与所述第二板卡连接器连接；在对所述存储卡进行功能测试的状态下，所述第一板卡连接器、所述第二板卡连接器分别插入所述系统总线背板的插槽内，所述上位机与所述上位机接口连接，所述上位机用于对所述数据处理模块进行配置处理；所述数据处理模块通过所述数据交换模块、所述第二板卡连接器向所述存储卡发送数据储存或读取命令；所述处理器模块通过所述第一板卡连接器接收所述数据储存或读取命令，进行相应的处理后将处理结果通过所述第一板卡连接器发送给所述测试主卡；所述数据处理模块将所述数据储存或读取命令以及所述处理结果通过所述数据交换模块、所述上位机接口发送给所述上位机。2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述数据交换模块包括：PCIE SWITCH控制器；所述第二板卡连接器包括：第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：高维臣，张徽，燕绪海，
申请(专利权)人：北京大地信合信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：