一种TFT屏老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种TFT屏老化测试装置，包括：控制器；显示屏，连接至所述控制器；声光报警电路，连接至所述控制器；TFT屏驱动电路，其输入端与所述控制器连接，其RGB信号输出端分别连接至RGB转LVDS转接电路的输入端、RGB接口的TFT屏的输入端和RGB转MIPI转接电路的输入端；所述RGB转LVDS转接电路的输出端连接至LVDS接口的TFT屏；所述RGB转MIPI转接电路的输出端连接至MIPI接口的TFT屏。本老化测试装置成本低廉，可以针对不同接口的TFT显示屏进行测试，应用灵活，可以大幅提高测试效率。可以大幅提高测试效率。可以大幅提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种TFT屏老化测试装置


[0001]本技术涉及TFT屏老化测试领域，尤其涉及一种TFT屏老化测试装置。

技术介绍

[0002]目前，TFT中小尺寸液晶膜组老化，很多的厂家生产好模组后，不老化，直接出货。导致客户抱怨不断。
[0003]市面上现有的老化装置，一般采用ARM+FPGA方案来搭建，这种方案最大的问题是成本高，老化范围窄，要大批量搭建老化架，代价太高。而且一般的单片工程师很难自己设计FPGA方案。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于，针对上述问题，提供一种TFT屏老化测试装置，成本低廉，可以针对不同接口的TFT显示屏进行测试，应用灵活，可以大幅提高测试效率。
[0005]为解决上述技术问题，本技术基于以下技术方案进行实施：
[0006]一种TFT屏老化测试装置，包括：
[0007]控制器；
[0008]显示屏，连接至所述控制器；
[0009]声光报警电路，连接至所述控制器；
[0010]TFT屏驱动电路，其输入端与所述控制器连接，其RGB信号输出端分别连接至RGB转LVDS转接电路的输入端、RGB接口的TFT屏的输入端和RGB转MIPI转接电路的输入端；
[0011]所述RGB转LVDS转接电路的输出端连接至LVDS接口的TFT屏；
[0012]所述RGB转MIPI转接电路的输出端连接至MIPI接口的TFT屏。
[0013]进一步的，所述TFT屏驱动电路包括LT7686图形加速显示芯片。
[0014]进一步的，所述显示屏为2.8寸的TFT_LCD显示屏。
[0015]进一步的，所述声光报警电路包括有电连接至所述控制器的LED灯和蜂鸣器。
[0016]进一步的，所述控制器为STC8芯片。
[0017]进一步的，所述RGB转MIPI转接电路包括SSD2828芯片。
[0018]进一步的，所述RGB转LVDS转接电路包括THC63LVDM83D芯片。
[0019]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0020]本技术公开了一种TFT屏老化测试装置，设置TFT屏驱动电路和不同接口的转接电路，其成本低廉，可以针对不同接口的TFT显示屏进行测试，应用灵活，可以大幅提高测试效率。
[0021]应理解，在本技术范围内中，本技术的上述各技术特征和在下文(如实施例)中具体描述的各技术特征之间都可以互相组合，从而构成新的或优选的技术方案。限于篇幅，在此不再一一累述。
附图说明
[0022]图1是本技术实施例中所述的TFT屏老化测试装置的功能模块示意图。
[0023]图2是本技术实施例中所述的控制器和供电电路的电路连接示意图。
[0024]图3是本技术实施例中所述的TFT屏驱动电路的电路连接示意图。
[0025]图4是本技术实施例中所述的显示屏的电路连接示意图。
[0026]图5是本技术实施例中所述的声光报警电路的电路连接示意图。
[0027]图6是本技术实施例中所述的RGB转MIPI转接电路的电路连接示意图。
[0028]图7是本技术实施例中所述的RGB转LVDS转接电路的电路连接示意图。
具体实施方式
[0029]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0030]因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0032]需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0033]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0034]在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0035]如图1所示，本实施例公开了一种TFT屏老化测试装置，包括控制器和连接至控制器的显示屏、声光报警电路和TFT屏驱动电路，具体的，TFT屏驱动电路的输入端与控制器连接，TFT屏驱动电路的RGB信号输出端分别连接至RGB转LVDS转接电路的输入端、RGB接口的TFT屏的输入端和RGB转MIPI转接电路的输入端；RGB转LVDS转接电路的输出端连接至LVDS接口的TFT屏；RGB转MIPI转接电路的输出端连接至MIPI接口的TFT屏。
[0036]具体的在本实施例中，控制器为STC8芯片，具有1T的速度，速度更快，完全能满足我们现实老化画面的要求；同时内部自带12位AD检测通道，这个功能方便我们实时监测各个模组老化时的电压电流情况，如有异常，及时报警。其外围电路和供电电路可参照图2。
[0037]具体的在本实施例中，TFT屏驱动电路包括LT7686图形加速显示芯片，其电路连接示意图可参照图3。TFT屏的驱动IC我们采用乐升电子的LT768系列芯片，它提供了市场上通用的RGB接口，和支持320*240,480*272，640*800,800*640,800本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种TFT屏老化测试装置，其特征在于，包括：控制器；显示屏，连接至所述控制器；声光报警电路，连接至所述控制器；TFT屏驱动电路，其输入端与所述控制器连接，其RGB信号输出端分别连接至RGB转LVDS转接电路的输入端、RGB接口的TFT屏的输入端和RGB转MIPI转接电路的输入端；所述RGB转LVDS转接电路的输出端连接至LVDS接口的TFT屏；所述RGB转MIPI转接电路的输出端连接至MIPI接口的TFT屏。2.根据权利要求1所述的TFT屏老化测试装置，其特征在于，所述TFT屏驱动电路包括LT7686图形加速显示芯片。3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：程绍鹏，
申请(专利权)人：广州同华实业有限公司，
类型：新型
国别省市：